«Фундаментальные основы нанотехнологий»

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Размер: px
Начинать показ со страницы:

Download "«Фундаментальные основы нанотехнологий»"

Транскрипт

1 Московский Государственный Университет имени М. В. Ломоносова Научно-Образовательный Центр по нанотехнологиям Межфакультетский курс лекций «Фундаментальные основы нанотехнологий» Лекция 3. Методы исследования наносистем. Дифракция рентгеновских лучей. Электронная микроскопия (ПЭМ, СЭМ). Зондовая микроскопия (СТМ, АСМ и др.). Методы оптической спектроскопии. Тимошенко Виктор Юрьевич профессор, Физический факультет МГУ

2 Какое излучение (частицы) имеет малую длину волны?

3 Рентгеновское излучение (X-rays) Фотоны рентгеновского излучения имеют энергию от 100 эв до 250 кэв, что соответствует излучению с частотой от до Гц и длиной волны 0, нм (общепризнанного определения нижней границы диапазона рентгеновских лучей в шкале длин волн не существует).

4 Дифракция рентгеновских лучей (XRD) Формула Брэгга-Вульфа для максимумов интенсивности: 2d sin n n =1,2,3. d Условия применимости: 1) Безграничный идеальный кристалл; 2) показатель преломления =1.

5 XRD и размеры кристаллов В общем случае дифрагированное излучение с длиной волны распространяется в конечном угловом интервале θ±δθ, где Δθ определяется числом отражающих атомных плоскостей и, поэтому, обратно пропорционально линейным размерам кристалла (подобно уширению пиков в дифракционной решетке). A A Nd cos L cos SnO 2 Размер кристалла: Безразмерный форм-фактор: Формула Дебая-Шеррера для определения размеров нанокристаллов: L L Nd A 1 A cos L 10нм L 2нм М.Н.Румянцева и др. Вестник МГУ (2001)

6 Основные процессы при взаимодействии электронного пучка с тонким слоем вещества

7 Взаимодействие электронов с веществом

8 Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) Transmission electron microscopy (TEM) Электроны эмитируются в электронном микроскопе посредством термоэлектронной эмиссии из нити накаливания (например, вольфрамовая проволока) либо посредством полевой эмиссии. Затем электроны ускоряются высокой разностью потенциалов (от 100 кв до 3 МВ) и фокусируются на образце электромагнитными или электростатическими линзами. Прошедший через образец луч содержит информацию об электронной плотности, фазе и периодичности; которые используются при формировании изображения.

9 Поскольку электронные линзы не так хорошо фокусируют, как оптические, то разрешение ПЭМ составляет обычно длин волн электронов и позволяет достичь предела в нм (что дает возможность рассмотреть отдельные атомы в кристаллах). Для этого надо использовать высокие ускоряющие напряжения ( 1 МэВ) и корректировать искажения (аберрации).

10

11 Ионные микроскопы

12 Ионные микроскопы для модификации поверхности

13 Ионные микроскопы для модификации поверхности

14 Сканирующая (растровая )электронная микроскопия (СЭМ, РЭМ), Scanning electron microscopy (SEM) В зависимости от конкретного прибора и параметров эксперимента, может быть получено разрешение от 10 до 0.5 нм. Например, в микроскопе Hitachi S-5500 разрешение составило 0.4 нм (при напряжении 30 кв Наилучшее разрешение может быть получено при использовании вторичных электронов при работе в высоком вакууме.

15 Основные процессы при взаимодействии электронного пучка с тонким слоем вещества

16

17 Примеры использования СЭМ Ag/Si «нано-трава» Островковая пленка золота (Au), измеренная при нормальном (а) и наклонном (б) падении электронного луча Si обратно-рассеянные электроны вторичные электроны Ag 200 нм

18 Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ, STM)

19 Пример использования СТМ

20 Использование СТМ для наноманипуляций

21 Сканирующий атомно-силовой микроскоп (АCМ, АFM) Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. В качестве зонда используется наноразмерное остриѐ, располагающееся на конце упругой консоли, называемой кантиливером.

22 Силы в атомно-силовом микроскопе В работе АСМ доминирует вклад сил Ван-дер-Ваальса, но со стороны поверхности также действуют упругие силы и силы адгезии, может также сказываться действие магнитных и электростатических сил.

23 Режимы работы АСМ В зависимости от характера действия силы между кантилевером и поверхностью образца выделяют три режима работы АСМ: 1. Контактный (англ. contact mode) 2. «Полуконтактный» (англ. semicontact mode или tapping mode) 3. Бесконтактный (англ. non-contact mode) АСМ способен дать более высокое разрешение, чем СЭМ. В условиях сверхвысокого вакуума АСМ в состоянии обеспечить реальное атомное разрешение, т.е. порядка нм по вертикали. Сверхвысоковакуумный АСМ по разрешению сравним со СТМ и ПЭМ. Для АСМ максимальный перепад высот измеряемого объекта составляет несколько микрон, а максимальное поле сканирования в лучшем случае порядка микрон². При высоком разрешении качество изображения определяется радиусом кривизны кончика зонда. Зонды могут часто ломаться и являются дорогостоящим расходным материалом.

24 Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (СОМБП, SNOM)

25 Особенности конструкции и разрешение SNOM В SNOM было достигнуто наилучшее латеральное разрешение 20 нм и вертикальное 2 5 нм.

26 Сравнение изображений в АСМ и СОМБП

27 Использование SNOM для сверхплотной оптической записи СТМ, АСМ, SNOM и другие подобные методы являются так называемыми зондовыми методами диагностики и модификации, поскольку всегда используют некоторый нанообъект-зонд для анализа наносистемы. Различные зондовые методы дополняют друг друга.

28 Методы оптической спектроскопии Если вследствие квантового размерного эффекта наблюдается модификация электронных или колебательных свойств частиц вещества, то они могут быть исследованы методами оптической спектроскопии, а именно: 1) Люминесцентная спектроскопия; 2) Спектроскопия поглощения и отражения света; 3) Комбинационное рассеяние света; 4) Методы нелинейной оптики (генерация гармоник, смешение частот и др. процессы). 5) Различные методы упругого светорассеяния и т.п. Данные методы являются, вообще говоря, интегральными и учитывают вклад многих наночастиц и наноструктур. В ряде случаев удается получать сигналы от отдельных нанокристаллов квантовых точек (single dot spectroscopy). В последнем случае используются методы зондовой микроскопии (SNOM). Спектры люминесценции квантовых точек CdTe различного размера.

29 Контрольные вопросы к Лекции 3: 1. Чем определяется разрешение в просвечивающем электронном микроскопе? 2. Какие виды электронов анализируются в сканирующем электронном микроскопе? 3. Какие известны зондовые методы анализа наносистем? 4. Какие силы существенны при получении изображений в атомно-силовом микроскопе? 5. Что такое оптическая ближнепольная микроскопия и где она может быть использована? 6. Какие известны методы оптической спектроскопии наносистем и на чем основано их использование?

«Фундаментальные основы нанотехнологий»

«Фундаментальные основы нанотехнологий» Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова Научно-образовательный центр по нанотехнологиям межфакультетский курс лекций «Фундаментальные основы нанотехнологий» Лекция 2: Методы исследования

Подробнее

Взаимодействие ускоренных электронов с веществом.

Взаимодействие ускоренных электронов с веществом. ПРОГРАММА 1 Исследования материалов методами электронной микроскопии и сканирующей зондовой микроскопии; основы рентгеновской дифракции в материаловедении Общая трудоемкость 128 ч. ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ

Подробнее

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА 9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА Самый прямой способ определения размеров наночастиц это исследование на просвечивающем электронном микроскопе. Другой способ определения

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 57 ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ НА ПРОСТРАНСТВЕННОЙ РЕШЕТКЕ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 57 ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ НА ПРОСТРАНСТВЕННОЙ РЕШЕТКЕ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 57 ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ НА ПРОСТРАНСТВЕННОЙ РЕШЕТКЕ Цель работы наблюдение дифракции электронов на пространственной решетке, определение длины волны де Бройля для электрона. 1. Теоретические

Подробнее

Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич

Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич Московский Государственный Университет им. М. В. Ломоносова, Физический факультет Научно-Образовательный Центр по нанотехнологиям Содержание курса Лекция 1. Основные

Подробнее

«Сканирующая зондовая микроскопия»

«Сканирующая зондовая микроскопия» Программа краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению «Методы диагностики и исследования наноструктур» на базе учебного курса «Сканирующая зондовая

Подробнее

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Закон преломления света

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Закон преломления света ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Закон преломления света n Sinα = n Sinβ, 1 где α угол падения; β угол преломления; n 1 и n абсолютные показатели преломления соответственно первой и второй сред. Предельный угол полного

Подробнее

Основные законы и формулы физики Оптика 390 λ 750 Геометрическая оптика = 2 = 1, v = α

Основные законы и формулы физики Оптика 390 λ 750 Геометрическая оптика = 2 = 1, v = α Оптика Оптикой называется раздел физики, в котором изучаются явления и законы, связанные с возникновением, распространением и взаимодействием световых электромагнитных волн ( 390 нм λ 750 нм). Геометрическая

Подробнее

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка Оптика Волновая оптика Спектральные приборы. Дифракционная решетка В состав видимого света входят монохроматические волны с различными значениями длин. В излучении нагретых тел (нить лампы накаливания)

Подробнее

Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ. Лекция 4

Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ. Лекция 4 Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ Лекция 4 электроном Фотоны электромагнитного излучения обладают свойствами как волны, так и частицы. как частицы Фотоны

Подробнее

Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович

Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович Лекция 9. Рентгеновская и синхротронная оптика. 1. Синхротронное

Подробнее

ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ. для студентов II курса IV семестра всех факультетов

ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ. для студентов II курса IV семестра всех факультетов 1 ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ Варианты домашнего задания по физике для студентов II курса IV семестра всех факультетов Вариант Номера задач 1 1 13 5 37

Подробнее

КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1.

КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1. КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1. 1. Во сколько раз увеличится расстояние между соседними интерференционными полосами на экране в опыте Юнга, если зеленый светофильтр (λ 1 = 500 нм) заменить красным (λ 2

Подробнее

Примеры применения порошковой рентгеновской дифракции. Сочетание с другими дифракционными методами.

Примеры применения порошковой рентгеновской дифракции. Сочетание с другими дифракционными методами. Лаборатория Неорганической Кристаллохимии Кафедра Неорганической Химии, Химический Факультет МГУ Примеры применения порошковой рентгеновской дифракции. Сочетание с другими дифракционными методами. Москва

Подробнее

Программа курса «Методы и приборы для изучения наночастиц и наноматериалов»

Программа курса «Методы и приборы для изучения наночастиц и наноматериалов» Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МЭИ» Факультет повышения квалификации преподавателей и

Подробнее

Лекция 7. Гипотеза де Бройля. Волновые свойства микрочастиц

Лекция 7. Гипотеза де Бройля. Волновые свойства микрочастиц Лекция 7. Гипотеза де Бройля. Волновые свойства микрочастиц 1 Гипотеза де Бройля Дуализм «волны-частицы» был установлен прежде всего при изучении природы света. В 1924 г. де Бройль выдвинул гипотезу, которая

Подробнее

Работа 5.10 Определение ширины запрещенной зоны полупроводников по краю собственного поглощения

Работа 5.10 Определение ширины запрещенной зоны полупроводников по краю собственного поглощения Работа 5.10 Определение ширины запрещенной зоны полупроводников по краю собственного поглощения Оборудование: призменный монохроматор УМ-2, лампа накаливания, гальванометр, сернисто-кадмиевое фотосопротивление,

Подробнее

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность "Физика" (специалитет)

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность Физика (специалитет) Билет 1. 1. Уравнения Максвелла в вакууме. Скалярный и векторный потенциалы. Калибровочная инвариантность. 2. Тонкая структура спектра атома водорода. 3. Плоская монохроматическая световая волна с интенсивностью

Подробнее

КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ. НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии

КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ. НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ Коллоидная химия, Зима Т.М. Новосибирский государственный

Подробнее

Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нанопленок

Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нанопленок УДК 53.083 Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нанопленок Людмила Михайловна Ремез, студентка 5 курса Россия, 105005, г. Москва, МГТУ им. Н.Э. Баумана кафедра «Лазерные технологии в машиностроении»

Подробнее

ЛЕКЦИЯ 1-2 Классификация методов исследования поверхности и приповерхностных слоев твердых тел.

ЛЕКЦИЯ 1-2 Классификация методов исследования поверхности и приповерхностных слоев твердых тел. ЛЕКЦИЯ 1-2 Классификация методов исследования поверхности и приповерхностных слоев твердых тел. Потребность исследования объектов имеющих размер несколько десятков нанометров в последнее десятилетие вызывает

Подробнее

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ Лекции для студентов 3-го курса дневного отделения химического факультета ННГУ им. Н.И. Лобачевского Лекция 19. Электронно-зондовые методы Лектор: д.х.н., профессор

Подробнее

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В ИССЛЕДОВАНИИ КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В ИССЛЕДОВАНИИ КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В ИССЛЕДОВАНИИ КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ МОДУЛЬ 2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ Лекция 8. Сканирующая зондовая микроскопия. Принцип получения изображений. СТМ

Подробнее

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ лекции для студентов 3-го курса дневного отделения химического факультета ННГУ им. Н.И. Лобачевского Лектор: Сулейманов Евгений Владимирович доктор химических наук,

Подробнее

Перечень компетенций с указанием этапов (уровней) их формирования.

Перечень компетенций с указанием этапов (уровней) их формирования. Перечень компетенций с указанием этапов (уровней) их формирования. ОПК-1: способность использовать основные законы естественнонаучных дисциплин в профессиональной деятельности, применение методов математического

Подробнее

Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР. Лабораторная работа: ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР. Лабораторная работа: ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР Лабораторная работа: ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ Цели работы Изучение физических основ атомно-силовой микроскопии

Подробнее

Тема: Оптическая и электронная микроскопия

Тема: Оптическая и электронная микроскопия Тема: Оптическая и электронная микроскопия Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко Способность глаза различать мелкие детали предмета зависит от размеров изображения предмета на сетчатке или от угла зрения

Подробнее

ДИДАКТИЧЕСКАЯ ЕДИНИЦА 5: Волновая и квантовая оптика

ДИДАКТИЧЕСКАЯ ЕДИНИЦА 5: Волновая и квантовая оптика ДИДАКТИЧЕСКАЯ ЕДИНИЦА 5: Волновая и квантовая оптика Задание На расстоянии м от лампы энергетическая освещенность небольшого листа бумаги, расположенном перпендикулярно световым лучам, равнялась Вт/м.

Подробнее

5 Волновая оптика. Основные формулы и определения

5 Волновая оптика. Основные формулы и определения 5 Волновая оптика Основные формулы и определения Интерференцией света называется сложение когерентных волн, в результате которого происходит перераспределение световой энергии в пространстве, что приводит

Подробнее

Виды электронной эмиссии

Виды электронной эмиссии Виды электронной эмиссии Физические процессы, протекающие в вакуумных электронных приборах и устройствах: эмиссия электронов из накаливаемых, холодных и плазменных катодов; формирование (фокусировка) и

Подробнее

Дисперсия света Поляризация. Волновая оптика

Дисперсия света Поляризация. Волновая оптика Дисперсия света Поляризация Волновая оптика Дисперсия света зависимость показателя преломления n вещества от частоты ν (длины волны λ) света, или зависимость фазовой скорости v световых волн от его частоты

Подробнее

Применение рентгеновской дифракции для исследования тонких пленок. Рефлектометрия. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей.

Применение рентгеновской дифракции для исследования тонких пленок. Рефлектометрия. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей. Лаборатория Неорганической Кристаллохимии Кафедра Неорганической Химии, Химический Факультет МГУ Применение рентгеновской дифракции для исследования тонких пленок. Рефлектометрия. Малоугловое рассеяние

Подробнее

Рабочая программа дисциплины

Рабочая программа дисциплины Рабочая программа дисциплины 1. Методы исследования структуры и состава твёрдых тел 2. Лекторы. 2.1. К.ф.-м.н., доцент, Кытин Владимир Геннадьевич, кафедра физики низких температур и сверхпроводимости

Подробнее

Волны де Бройля. Соотношение неопределенностей. Лекция 5.1.

Волны де Бройля. Соотношение неопределенностей. Лекция 5.1. Волны де Бройля. Соотношение неопределенностей Лекция 5.1. Гипотеза де Бройля В 1924 г. Луи де Бройль выдвинул гипотезу, что дуализм не является особенностью только оптических явлений, а имеет универсальный

Подробнее

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность "Физика" (бакалавриат)

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность Физика (бакалавриат) Билет 1. 1. Материальное уравнение нелинейной среды. Нелинейная поляризация. Нелинейная восприимчивость. 2. Эффект Черенкова. Циклотронное и синхротронное излучение. 3. Определить доплеровское смещение

Подробнее

Внешний фотоэффект Фотоны Эффект Комптона Рентгеновское излучение Давление света

Внешний фотоэффект Фотоны Эффект Комптона Рентгеновское излучение Давление света Сегодня: воскресенье, 8 декабря 2013 г. Лекция 16 Квантовая природа излучения Содержание лекции: Внешний фотоэффект Фотоны Эффект Комптона Рентгеновское излучение Давление света 1. Внешний фотоэффект Внешний

Подробнее

4.4. Исходя из того, что энергия ионизации атома водорода Е = 13,6 эв, определить первый потенциал возбуждения ϕ 1 этого атома.

4.4. Исходя из того, что энергия ионизации атома водорода Е = 13,6 эв, определить первый потенциал возбуждения ϕ 1 этого атома. КВАНТОВАЯ ФИЗИКА 1.1. Вычислить лучистый поток, испускаемый кратером дуги с простыми углями, имеющим температуру 4200 К. Диаметр кратера 7 мм. Излучение угольной дуги составляет приблизительно 80 % излучения

Подробнее

Описание лабораторной работы

Описание лабораторной работы ЦКП Материаловедение и диагностика в передовых технологиях при ФТИ им. А.Ф. Иоффе ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ В ПОЛУКОНТАКТНОМ РЕЖИМЕ Описание лабораторной

Подробнее

Структура дисциплины Общая трудоемкость дисциплины составляет 4 з.е. (144 часа), из них 32 часа лекций и 112 часов - самостоятельная работа.

Структура дисциплины Общая трудоемкость дисциплины составляет 4 з.е. (144 часа), из них 32 часа лекций и 112 часов - самостоятельная работа. Дисциплина «Элементы строения вещества» относится к блоку математических и естественно-научных дисциплин (региональный компонент), является обязательным курсом. Эти лекции являются заключительной частью

Подробнее

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ)

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ) ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ) Введение в ЭМ На современном этапе в условиях стремительного развития техники исследователям все чаще приходится наблюдать и правильно объяснять явления, происходящие в конструкционных

Подробнее

Подготовка оптика. В). 340 км/час

Подготовка оптика. В). 340 км/час Подготовка оптика 1. Какой буквой принято обозначать и в каких единицах СИ принято измерять: 1.1. показатель преломления вещества? 1.2. оптическую плотность вещества? 1.3. длину волны? 1.4. частоту световой

Подробнее

Радиофизический факультет Кафедра электроники

Радиофизический факультет Кафедра электроники МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Нижегородский государственный университет им.

Подробнее

СОДЕРЖАНИЕ. Предисловие ко второму изданию...5

СОДЕРЖАНИЕ. Предисловие ко второму изданию...5 СОДЕРЖАНИЕ Предисловие ко второму изданию...5 Глава 1. Введение...11 1.1. Вступление...11 1.2. Появление нанотехнологии...14 1.3. Подходы «снизу вверх» и «сверху вниз»...18 1.4. Основные проблемы нанотехнологии...19

Подробнее

Эффект легко наблюдается в природе и в бытовых условиях.

Эффект легко наблюдается в природе и в бытовых условиях. Лекция 14. РАССЕЯНИЕ СВЕТА В КОЛЛОИДНЫХ СИСТЕМАХ Важную роль в дисперсных системах играет рассеяние света. При этом изменяется направление распространения излучения. Данный эффект называется опалесценцией.

Подробнее

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м)

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м) Лекция 3. ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ВЕЩЕСТВОМ Взаимодействия электронов с веществом. Упругое и неупругое рассеяние электронов. Отраженные электроны: влияние атомного номера, зависимость от энергии пучка,

Подробнее

Физика 11 класс (базовый уровень) (2 часа в неделю, всего 70 часов)

Физика 11 класс (базовый уровень) (2 часа в неделю, всего 70 часов) Физика 11 класс (базовый уровень) (2 часа в неделю, всего 70 часов) Используемые учебные пособия: 1. Жилко, В. В. Физика : учеб. пособие для 11 класса учреждений общ. сред. образования / В. В. Жилко, Л.

Подробнее

Световые явления. Геометрическая оптика. Волновая оптика.

Световые явления. Геометрическая оптика. Волновая оптика. Световые явления. Геометрическая оптика. Волновая оптика. 1.Скорость распространения света в алмазе 124000 км/с. Вычислите показатель преломления алмаза. A)1,75. B) 2,42. C) 1,9. D)1,5. E) 1,33. 2.Наблюдатель

Подробнее

Задачи для подготовки к ОКР 3. Колебания и волны

Задачи для подготовки к ОКР 3. Колебания и волны Задачи для подготовки к ОКР 3 Колебания и волны 1.1. Зависимость координаты материальной точки, совершающей гармонические колебания вдоль оси Ох, от времени имеет вид: х(t) = Acos(Bt+C), где А = 20 мм,

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ. выполнения соотношения неопределенностей для фотонов.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ. выполнения соотношения неопределенностей для фотонов. 1 ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ Ц е л ь р а б о т ы : экспериментальное подтверждение выполнения соотношения неопределенностей для фотонов. П р и б о р ы и п р и н а

Подробнее

представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10-5

представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10-5 представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10-5 Рис. 8.24. Каолинитовая глина, кора выветривания по гранитам (ej-k), г. Магнитогорск: а ПЭМ-изображение каолинитовых частиц;

Подробнее

Лабораторная работа 3 Соотношение неопределенностей для фотонов

Лабораторная работа 3 Соотношение неопределенностей для фотонов Лабораторная работа 3 Соотношение неопределенностей для фотонов Цель работы: экспериментальное подтверждение выполнения соотношения неопределенностей для фотонов. Приборы и принадлежности: 1. гелий-неоновый

Подробнее

КВАНТОВАЯ ТЕОРИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ.

КВАНТОВАЯ ТЕОРИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ для решения Контрольной работы 3 Основные формулы и примеры решения задач 1,, 3 приведены в задачнике под ред. А.Г. Чертова, стр.147-158 Основные формулы и примеры решения задач 4,

Подробнее

Теоретическое введение

Теоретическое введение УДК 535.41 Методические заметки ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА ПРИ ОТРАЖЕНИИ ОТ ТОНКИХ ПЛАСТИНОК И ПЛЕНОК Е.К.Наими Институт Базового Образования НИТУ «МИСиС», кафедра физики E-mail: e.aimi@mail.ru Рассмотрены возможные

Подробнее

ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики

ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики Ю. В. Тихомиров ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики С ЭЛЕМЕНТАМИ КОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КВАНТОВАЯ ОПТИКА. АТОМНАЯ ФИЗИКА. ФИЗИКА АТОМНОГО ЯДРА И ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ для студентов всех специальностей

Подробнее

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ Лекции для студентов 3-го курса дневного отделения химического факультета ННГУ им. Н.И. Лобачевского Лекция 20. Сканирующая зондовая микроскопия Лектор: д.х.н., профессор

Подробнее

Раздел физики: Ионизирующие излучения. Дозиметрия. Тема: Рентгеновское излучение (РИ)

Раздел физики: Ионизирующие излучения. Дозиметрия. Тема: Рентгеновское излучение (РИ) Раздел физики: Ионизирующие излучения. Дозиметрия Тема: Рентгеновское излучение (РИ) Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко I. Понятие ионизирующего излучения. Определение РИ. Устройство рентгеновской трубки

Подробнее

Введение. Рис.1 Принципиальная схема установки для РФА в РЭМ.

Введение. Рис.1 Принципиальная схема установки для РФА в РЭМ. Источник рентгеновского излучения с системой микрофокусировки IMOXS для повышения качества элементного анализа веществ методом рентгеновской спектроскопии в РЭМ Введение Большинство растровых электронных

Подробнее

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Электронная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия Известные нам принципы физики не запрещают создавать объекты «атом за атомом». < > Практические

Подробнее

Дифракция электронов. Учебно-методическое пособие к лабораторной работе по дисциплине «Физический практикум»

Дифракция электронов. Учебно-методическое пособие к лабораторной работе по дисциплине «Физический практикум» Дифракция электронов Учебно-методическое пособие к лабораторной работе по дисциплине «Физический практикум» 2013 2 Министерство образования и науки Российской Федерации Дальневосточный федеральный университет

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА. Б1.В.ОД.16 Методы диагностики и анализа микро- и наноструктур

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА. Б1.В.ОД.16 Методы диагностики и анализа микро- и наноструктур МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ «ЮЖНО-РОССИЙСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ

Подробнее

Дифракция света. Лекция 4.2.

Дифракция света. Лекция 4.2. Дифракция света Лекция 4.2. Дифракция света Дифракция - совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (края экранов, малые отверстия) и связанных с отклонениями

Подробнее

том случае, если шаг решетки больше половины длины волны света d >.

том случае, если шаг решетки больше половины длины волны света d >. Экзамен. Дифракция рентгеновских лучей на кристалле. Лауэграммы. При упругом рассеянии или дифракции рентгеновских лучей каждый рентгеновский квант рассеивается не на конкретном электроне, а сразу на всем

Подробнее

Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич

Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич Оптика наносистем Тимошенко Виктор Юрьевич Московский Государственный Университет им. М. В. Ломоносова, Физический факультет Научно-Образовательный Центр по нанотехнологиям Содержание курса Лекция. Основные

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ И ВОЛНОВАЯ ОПТИКА. СКОРОСТЬ СВЕТА 1. Метод Ремера. Впервые скорость света измерил датский астроном Ремер в 1676 году.

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ И ВОЛНОВАЯ ОПТИКА. СКОРОСТЬ СВЕТА 1. Метод Ремера. Впервые скорость света измерил датский астроном Ремер в 1676 году. ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ И ВОЛНОВАЯ ОПТИКА СКОРОСТЬ СВЕТА. Метод Ремера. Впервые скорость света измерил датский астроном Ремер в 676 году. с = 5000 км с Спутник Ио в положении I находился в тени Юпитера 4 часа 8

Подробнее

--- , А 1 Б 1 В 1 Г 1 ВОЛНОВАЯ И КВАНТОВАЯ. Контрольная работа NO 3 ОПТИКА. Вариант 1 . \ _J. Класс. Задание 2 (1 балл) Задание З (1,5 балла)

--- , А 1 Б 1 В 1 Г 1 ВОЛНОВАЯ И КВАНТОВАЯ. Контрольная работа NO 3 ОПТИКА. Вариант 1 . \ _J. Класс. Задание 2 (1 балл) Задание З (1,5 балла) Класс --- Фамилия, имя Дата ВОЛНОВАЯ И КВАНТОВАЯ ОПТИКА Контрольная работа NO 3 Вариант Задание (0,5 балла) При наложении двух световых волн с одинаковой частотой и постоянной разностью фаз наблюдается...

Подробнее

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА

ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА 96 ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА Задание 1. Выберите правильный ответ: 1. Доказательством прямолинейности распространения света служит, в частности, явление... а) интерференции света; б) образования тени; в) дифракции

Подробнее

17.1. Основные понятия и соотношения.

17.1. Основные понятия и соотношения. Тема 7. Волны де Бройля. Соотношения неопределенностей. 7.. Основные понятия и соотношения. Гипотеза Луи де Бройля. Де Бройль выдвинул предложение, что корпускулярно волновая двойственность свойств характерна

Подробнее

Содержание. Оптика. Предисловие... 7

Содержание. Оптика. Предисловие... 7 3 Содержание Предисловие........................................... 7 Оптика 1. Элементы геометрической оптики....................... 10 1.1. Основные законы оптики........................ 10 1.2. Полное

Подробнее

Интерференция Дифракция. Волновая оптика

Интерференция Дифракция. Волновая оптика Интерференция Дифракция Волновая оптика Основные законы оптики Закон прямолинейного распространения света Свет в оптически однородной среде распространяется прямолинейно Закон независимости световых пучков

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

Основы геометрической оптики. Аппарат зрения человека

Основы геометрической оптики. Аппарат зрения человека Основы геометрической оптики. Аппарат зрения человека План 1. Основные понятия геометрической оптики. 2. Светопроводящая и световоспринимающая системы глаза. 3. Недостатки зрения. Свет это электромагнитные

Подробнее

КОНТРОЛЬ новых ТЕХНОЛОГИЙ В ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ СВЧ ЭЛЕКТРОНИКЕ

КОНТРОЛЬ новых ТЕХНОЛОГИЙ В ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ СВЧ ЭЛЕКТРОНИКЕ В. В. Груздов Ю.В. Колковский Ю.А. Концевой КОНТРОЛЬ новых ТЕХНОЛОГИЙ В ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ СВЧ ЭЛЕКТРОНИКЕ -1000 О 1000 2000 3000 Омега-2тета (угл. сек.) ТЕХНОСФЕРА СОДЕРЖАНИЕ ВВЕДЕНИЕ...10 ГЛАВА 1 ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ

Подробнее

Вариант 2 1. Найти напряженность E электрического поля в точке, лежащей посередине между точечными зарядами q 1 = 8нКл и q 2 = 6нКл. Расстояние между

Вариант 2 1. Найти напряженность E электрического поля в точке, лежащей посередине между точечными зарядами q 1 = 8нКл и q 2 = 6нКл. Расстояние между Вариант 1 1. Расстояние между двумя точечными зарядами 10 нкл и 10 нкл равно 10 см. Определить силу, действующую на точечный заряд 10 нкл, удаленный на 6 см от первого и на 8 см от второго заряда. 2. Элемент

Подробнее

Программа дисциплины

Программа дисциплины МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского Физический

Подробнее

Микроскопия, концепция разрешающей способности

Микроскопия, концепция разрешающей способности Микроскопия, концепция разрешающей способности Зависимость разрешающей способности от длины волны Зависимость энергии излучения от дины волны (без учета релятивистских эффектов) Взаимодействие высокоэнергетического

Подробнее

Список вопросов для теста перед экзаменом по курсу «Оптика».

Список вопросов для теста перед экзаменом по курсу «Оптика». Список вопросов для теста перед экзаменом по курсу «Оптика». Электромагнитные волны. 1. Диапазон длин волн видимого света в вакууме с указанием порядка следования по цвету. 2. Связь между частотой света

Подробнее

Микро/нано Электро Механические Системы (MEMS/NEMS) Микро / нано электроника. Транзисторы Микрочипы Датчики Память Дисплеи

Микро/нано Электро Механические Системы (MEMS/NEMS) Микро / нано электроника. Транзисторы Микрочипы Датчики Память Дисплеи Учреждение Российской академии наук Институт спектроскопии РАН, г. Троицк, Московская обл., Россия Московский физико технический институт (Государственный университет) г. Долгопрудный, Московская обл.,

Подробнее

Рентгеновские дифракционные решетки на основе многослойных структур

Рентгеновские дифракционные решетки на основе многослойных структур Рентгеновские дифракционные решетки на основе многослойных структур Николай Владимирович Коваленко Лаб. 9- Рентгеновские дифракционные решетки на основе многослойных структур новые перспективные элементы

Подробнее

УТВЕРЖДЕНО Приказ Министра образования Республики Беларусь от

УТВЕРЖДЕНО Приказ Министра образования Республики Беларусь от Программа вступительных испытаний по учебному предмету «Физика» для лиц, имеющих общее среднее образование, для получения высшего образования І ступени, 2018 год 1 УТВЕРЖДЕНО Приказ Министра образования

Подробнее

Интерференция Скорость света в среде c n. Оптическая длина пути световой волны. Оптическая разность хода двух световых волн L L.

Интерференция Скорость света в среде c n. Оптическая длина пути световой волны. Оптическая разность хода двух световых волн L L. Интерференция Скорость света в среде c v, n где с скорость света в вакууме; п показатель преломления среды. Оптическая длина пути световой волны L nl, где l геометрическая длина пути световой волны в среде

Подробнее

Основы нанохимии и нанотехнологии

Основы нанохимии и нанотехнологии ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

НОЦ Нанотехнологии МФТИ

НОЦ Нанотехнологии МФТИ НОЦ Нанотехнологии МФТИ Тодуа Павел Андреевич Руководитель НОЦ «Нанотехнологии» МФТИ Декан Факультета физической и квантовой электроники Московского физико-технического института, Москва Зав. кафедрой

Подробнее

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии»

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии» Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» Утверждаю 2011 г. ПРОГРАММА учебного

Подробнее

Физика. Простые задачи. Задача 1. Задача 2

Физика. Простые задачи. Задача 1. Задача 2 Физика Простые задачи Задача 1 Для элементного анализа пробу наночастиц подготавливают следующим образом: сперва её испаряют, а затем ионизируют электронным пучком. Температура кипения серебра T = 2485

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.6. СПИН-ОРБИТАЛЬНОЕ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ И ТОНКАЯ СТРУКТУРА СПЕКТРОВ ИЗЛУЧЕНИЯ ВВЕДЕНИЕ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.6. СПИН-ОРБИТАЛЬНОЕ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ И ТОНКАЯ СТРУКТУРА СПЕКТРОВ ИЗЛУЧЕНИЯ ВВЕДЕНИЕ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.6. СПИН-ОРБИТАЛЬНОЕ ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ И ТОНКАЯ СТРУКТУРА СПЕКТРОВ ИЗЛУЧЕНИЯ Ц е л ь р а б о т ы : знакомство с проявлением спин-орбитального взаимодействия на примере изучения спектров

Подробнее

РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО СПЕКТРОМЕТРА

РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО СПЕКТРОМЕТРА ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при ФТИ им. А.Ф. Иоффе РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО СПЕКТРОМЕТРА Оглавление: Принцип детектирования

Подробнее

Контрольная работа 3, заочный факультет. 1. Два параллельных световых пучка падают нормально на грань кварцевой призмы (n =

Контрольная работа 3, заочный факультет. 1. Два параллельных световых пучка падают нормально на грань кварцевой призмы (n = Контрольная работа 3, заочный факультет Вариант 0 1. Два параллельных световых пучка падают нормально на грань кварцевой призмы (n = α 1,49) на расстоянии d = 3 см друг от друга. Э Преломляющий угол призмы

Подробнее

Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов

Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов 1. Определить базис для кристаллической решетки алмаза. Решетка алмаза - это две гранецентрированные кубические

Подробнее

Вопросы для подготовки к зачету 2 семестр. Постоянный ток.

Вопросы для подготовки к зачету 2 семестр. Постоянный ток. Вопросы для подготовки к зачету 2 семестр. Постоянный ток. 1. Какой заряд будет перенесен через поперечное сечение проводника за 2с при силе тока 10 А? А). 12 Кл. Б). 0,2 Кл. В). 20 Кл. Г). 5 Кл. 2. В

Подробнее

Свободные и вынужденные колебания. Сложение колебаний.

Свободные и вынужденные колебания. Сложение колебаний. ТИПОВЫЕ ВОПРОСЫ К ТЕСТУ (ч. ) Уравнения Максвелла 1. Полная система уравнений Максвелла для электромагнитного поля имеет вид: Укажите следствием каких уравнений являются следующие утверждения: в природе

Подробнее

Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки

Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки Лабораторная работа 3 Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки ЦЕЛЬ РАБОТЫ Ознакомление с прозрачной дифракционной решеткой, определение длин волн спектра источника света (лампы

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

ФИЗИКА. Контрольные материалы, 3 семестр

ФИЗИКА. Контрольные материалы, 3 семестр ФИЗИКА Контрольные материалы, 3 семестр Модуль 1 Тема 1. Волны 1.1. Плоская продольная волна с амплитудой A = 0,1 мм и длиной волны λ = 10 см распространяется в упругой среде с плотностью ρ = 4 г/см 3

Подробнее

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран 3 Цель работы: ознакомиться с отражательной дифракционной решеткой. Задача: определить с помощью дифракционной решетки и гониометра длины волн линий спектра ртутной лампы и угловую дисперсию решеткит Приборы

Подробнее

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы 4.. Волновая оптика Основные законы и формулы Абсолютный показатель преломления однородной прозрачной среды n = c / υ, где c скорость света в вакууме, а υ скорость света в среде, значение которой зависит

Подробнее

вопрос 1 Свет является: 1. механической волной 2. электромагнитной волной 3. звуковой волной

вопрос 1 Свет является: 1. механической волной 2. электромагнитной волной 3. звуковой волной вопрос 1 Свет является: 1. механической волной 2. электромагнитной волной 3. звуковой волной вопрос 2 Свет является: 1. продольной волной 2. поперечной волной вопрос 3 Когерентные волны имеют: 1. одинаковую

Подробнее

7. Планетарная модель атома

7. Планетарная модель атома 7. Планетарная модель атома В 1911 г. Резерфорд изучал рассеяние α частиц (ядра атомов гелия, состав р+, заряд + е ) тонкими металлическими пленками (~1 мкм). α частицы возникают при радиоактивном распаде

Подробнее

Исследование свойств поверхности методами СЗМ

Исследование свойств поверхности методами СЗМ Исследование свойств поверхности методами СЗМ Исследование топографии в широком диапазоне разрешений это только небольшая часть того потенциала, который дает сканирующая зондовая микроскопия. В рамках

Подробнее

Физика 11 класс (повышенный уровень)

Физика 11 класс (повышенный уровень) Физика 11 класс (повышенный уровень) (4 часа в неделю, всего 140 часов) Используемые учебные пособия: 1. Жилко, В. В. Физика : учеб. пособие для 11 класса учреждений общ. сред. образования / В. В. Жилко,

Подробнее