Низковольтный просвечивающий электронный микроскоп

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Размер: px
Начинать показ со страницы:

Download "Низковольтный просвечивающий электронный микроскоп"

Транскрипт

1 Низковольтный просвечивающий электронный микроскоп

2 Компактный, но с широкими возможностями Электронный микроскоп незаменимый помошник при исследовании структур микронного и субмикронного масштаба. LVEM 5 поможет получить всю необходимую информацию. LVEM 5 спроектирован таким образом, чтоб покрывать широкий спектр задач в области биологии, медицинской диагностики, материаловедении, макромолекулярной химии и многих других. Принимая во внимание минимальную пробоподготовку, вы исследуете образцы в естественном виде без искажений с высокой контрастностью и с нанометровым разрешением. Рабочее место Электронный микроскоп LVEM 5 устанавливается на обычном рабочем столе и совмещает в себе высокую разрешающую способность с компактными размарами оптического микроскопа. Прибор состоит из четырех блоков: непосредственно сам микроскоп, управляющая электроника, вакуумная система и рабочий компьютер. Малые размеры, отсутствие необходимости в затемненной комнате, пассивное охлаждение, простое обслуживание... все этоделает микроскоп многофункциональным персоональным или лабораторным оборудованием. Высокий контраст LVEM 5 уникальный микроскоп, позволяющий исследовать образцы состоящие из легких элементов (H, C, N, O, S, P) с высокой контрастностью без применения дополнительной пробоподготовки, такой как насыщение солями тяжелых металлов или нанесение металлического покрытия. Образцы, содержащие более тяжелые элементы также могут быть исследованы как в нанометровом разрешении, так и с малым увеличением. Исследуемые образцы помещаются либо в матрице, либо в естественном виде на углеродную подложку. Таким образом, микроскоп позволяет исследовать все виды материалов. Высокий контраст на легких элементах достигается за счет существенно уменьшения ускоряющего напряжения (см. изображения ниже). Понижение напряжения приводит к увеличению количества рассеяных электронов, приводя к увеличению контраста (тестовый образец, толщиной 20 нм., увеличение контраста более чем в 10 раз). При этом, пространственное разрешение LVEM 5 достигает 2 нанометров. Необработанный тонкий срез, сердце мыши (80 кв) 80 kv 5 kv Необработанный тонкий срез, сердце мыши (5 кв)

3 Устройство Электронная пушка с полевой эмиссией (FEG) и электронная оптика Электронная пушка построена с применением катода Шотки с полевой эмиссией электронов, что позволяет добиться высокой интенсивности и когерентности излучения. Время жизни источника превышает несколько тысяч часов. Высокая интенсивность и маленький размер источника позволяют работать как в просвечивающем, так и в сканирующем ражимах. Электронная оптика построена как на постоянных магнитах, так и на электростатических линзах, стигматорах и дефлекторах. Линзы на постоянных магнитах обладают высокой стабильностью и не требуют какого либо охлаждения. Двухстадийное увеличение Дизайн и компановка LVEM 5 значительно отличаются от стандартных просвечивающих микроскопов. Колонна с электронной оптикой рассположена вверх ногами, таким образом, что источник находится снизу. Низковольтная электронная оптика проецирует увеличенное изображение на электрон-чувствительный АИГ (YAG) экран. Полученное изображение содержит все детали структуры в нанометровом масштабе и увеличивается за счет световой оптической системы микроскопа. Экран АИГ служит конвертером между электронной и световой оптикой. Максимальное увеличение составляет около х в просвечивающем режиме. Анализ изображения проводится как через бинокуляр, так и с помощью цифровой фотокамеры. Подобный подход к конструкции позволяет сохранить размеры обычного светового микроскопа при разрешении электронного микроскопа. Захват изображения Электронный микроскоп LVEM 5 поставляется с высокочувствительной CCD камерой Retiga 4000R, Qimaging с разрешением 2048 х 2048 пикселей. Связь с компьютером осуществляется по высокоскоростному протоколу IEEE 1394 FireWire. Программное обеспечение позволяет проводить сбор, хранение и анализ изображений. В качестве стандартных инструментов по обработке присутствуют FFT, суммирование, гистограмма, гамма-коррекция и набор автоматических настроек. Получаемые изображения формируются детектированием проходящих электронов ( или S), а также обратно рассеяных электронов (BSE). В режиме обратно рассеяных электронов возможна работа с топографическим контрастом или с контрастом по элементам.

4 Широкий выбор рабочих режимов Несмотря на то, что LVEM 5 самый маленький коммерчески доступный просвечивающий электронный микроскоп, он позволяет работать во всех стандартных режимах, присущих большим микроскопам. Настольный электронный микроскоп может работать как в просвечивающем режиме ( Transmission Electron Microscope), так и в режиме дифракции (SAED Selected Area Electron Diffraction), а также в сканирующих режимах: S Scanning Transmission Electron Microscope, SEM Scanning Electron Microscope с детектором обратно рассеяных электронов (BSE). При этом пространственное разрешение достигает нескольких нанометров. Возможны следующие комплектации микроскопа: (совмещен с SAED) (совмещен с SAED) + S (совмещен с SAED) + SEM (совмещен с SAED) + S + SEM Примеры использования LVEM 5 новое решение для микроскопии биологических объектов и материаловедения. SAED SAED SAED SAED SEM SEM SEM SEM S S S S

5 Ускоряющее напряжение 5 кв Режимы съемки Образец стандартный диаметр 3.05 мм Время замены образца около 3 минут Разрешение 2.5 нм Электронная оптика Увеличение * * в зависимости от разрешения матрицы ED (электронная дифракция) Конденсаторная линза Постоянный магнит Минимальный размер образца 100 нм Фокусное расстояние * 4.30 мм Дифракционная линза увеличение 3.5 Минимальная зона облучения 100 нм Апертура диаметр 50 и 30 микрон S * в расчете на 5 кв Разрешение 2.0 нм Линза объектива Постоянный магнит Фокусное расстояние * 1.26 мм SEM (детектор BSE) Минимальное увеличение (25 х 25 микрон) 6000 C s (сферическая абберация) 0.64 мм Разрешение 4 нм C c (хроматическая абберация) 0.89 мм Минимальное увеличение (200 х 200 микрон) 800 δ teor (теоретическое разрешение) 1.1 нм α teor (теоретическая апертура) 1*10-2 рад Вакуум Апертура объектива диаметр 50 и 30 микрон * в расчете на 5 кв Система смены образца (Airlock) Проецирующий объектив Увеличение на экране АИГ электростатический Диафрагменный и турбомолекулярный насосы Пространство образца 1*10-5 атм Электронная пушка Геттеро-ионный насос (10 л/сек) 1*10-8 атм Катод Шотки ZrO/W [1 0 0] Плотность тока 0.2 ма*стерадиан -1 Электронная пушка Срок эксплуатации более 2000 часов Геттеро-ионный насос (7 л/сек) 1*10-9 атм Световая оптика Объектив Olympus M 40x NA 0.90 Вес и размеры Объектив Olympus M 4x NA 0.13 Электронная и световая оптические системы Бинокуляр М 10х Вес 25 кг Olympus U-TR30-2 широкопольный тринокуляр Размеры (Ш х В х Г) без камеры 290 х 450 х 430/480 мм Регистрация в режиме Вакуумная система блока смены образца (Pfeiffer TSH) Камера Retiga 4000R CCD Вес 15 кг Матрица 2048 х 2048 пикселей Размеры (Ш х В х Г) 300 х 300 х 340 мм АЦП 12 бит Размер пикселя 7.4 х 7.4 микрон Управляющая электроника Охлаждение элемент Пельтье по запросу Вес 19 кг Регистрация в режиме SCAN Размеры (Ш х В х Г) Монитор 512 х 512 пикселей Питание Разрешение файла АЦП до 2048 х 2048 пикселей 8 бит Управляющая электроника в режиме ожидания (только ионные насосы) Управляющая электроника Насос камеры смены образца Камера Водяное охлаждение не требуется 470 х 270 х 290 мм 20 ВА 160 ВА 300 ВА 24 ВА

6 ЗАО Торговый Дом Научное Оборудование Наша компания представляет на Российском рынке широкий спектр отечественного и зарубежного аналитического и лабораторного оборудования, расходных материалов для научных, образовательных и исследовательских центров, производственных и испытательных лабораторий. Мы работаем совместно с ведущими производителями оборудования в различных областях применения: Широкий спектр задач материаловедения Структурные исследования Магнитнорезонансные методы Масспектрометрические исследовательские комплексы Электронная микроскопия и микроанализ Элементный анализ Широкий комплекс спектральных методов исследования вещества Оборудование для изучения наноразмерных объектов и манипулирование ими Системы прототипирования и многое другое... В 2006 году ЗАО Торговый дом Научное Оборудование получило эксклюзивные права на распространение ЯМР и МРТ систем на территории России и стран СНГ от мирового лидера в области аналитического приборостроения - фирмы VARIAN. Наша компания установила тесные связи с ведущими вузами и исследовательскими оргинизациями на территории России. Все сотрудники являются высококвалифицированными специалистами в ряде научных областей. Мы всегда готовы оказать помощь и консультации при выборе производителя и системы для решения поставленных задач, а также обеспечить весь цикл от предварительной заявки до поставки и установки оборудования. Компания постоянно работает над расширением круга аналитических и исследовательских систем, предоставляемых пользователю. ЗАО Торговый дом Научное Оборудование +7 (495) Алексей Наумов Евгений Воронцов Денис Голованов , Россия, Москва, Б. Толмачевский пер., 5/3, ГНЦ "ГИРЕДМЕТ"

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии»

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии» Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» Утверждаю 2011 г. ПРОГРАММА учебного

Подробнее

«Фундаментальные основы нанотехнологий»

«Фундаментальные основы нанотехнологий» Московский Государственный Университет имени М. В. Ломоносова Научно-Образовательный Центр по нанотехнологиям Межфакультетский курс лекций «Фундаментальные основы нанотехнологий» Лекция 3. Методы исследования

Подробнее

Тема: Оптическая и электронная микроскопия

Тема: Оптическая и электронная микроскопия Тема: Оптическая и электронная микроскопия Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко Способность глаза различать мелкие детали предмета зависит от размеров изображения предмета на сетчатке или от угла зрения

Подробнее

Растровая электронная микроскопия (РЭМ)

Растровая электронная микроскопия (РЭМ) Растровая электронная микроскопия (РЭМ) Как уже было отмечено во второй лекции, устройство растровых микроскопов гораздо проще устройства просвечивающих микроскопов. Схема, с указанием основных узлов микроскопа,

Подробнее

«Фундаментальные основы нанотехнологий»

«Фундаментальные основы нанотехнологий» Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова Научно-образовательный центр по нанотехнологиям межфакультетский курс лекций «Фундаментальные основы нанотехнологий» Лекция 2: Методы исследования

Подробнее

Рис. 2. Система Quanta 200 3D.

Рис. 2. Система Quanta 200 3D. Quanta 200 3D Dual Beam TM (FEI Company). Система со сфокусированными электронным и ионным зондами для автоматизированных исследований в промышленных и лабораторных условиях. Систему Quanta 200 3D с полным

Подробнее

Все профессиональные рамановские приборы компании HORIBA Scientific (T64000, LabRAM HR, XploRA Plus/Inv) являются конфокальными микроспектрометрами.

Все профессиональные рамановские приборы компании HORIBA Scientific (T64000, LabRAM HR, XploRA Plus/Inv) являются конфокальными микроспектрометрами. Рамановская микроскопия, связанные с ней понятия и определения В настоящей статье мы рассмотрим совокупность терминов и понятий, возникающих при объединении в одном оптическом инструменте возможностей

Подробнее

Центр коллективного пользования «Прикладное материаловедение»

Центр коллективного пользования «Прикладное материаловедение» Центр коллективного пользования «Прикладное материаловедение» ЦКП «Прикладное материаловедение» Перечень оборудования: 1. Микроскоп «Planar Micro-200» Марка: Micro-200 Фирма-изготовитель: Planar Год выпуска:

Подробнее

Введение. Рис.1 Принципиальная схема установки для РФА в РЭМ.

Введение. Рис.1 Принципиальная схема установки для РФА в РЭМ. Источник рентгеновского излучения с системой микрофокусировки IMOXS для повышения качества элементного анализа веществ методом рентгеновской спектроскопии в РЭМ Введение Большинство растровых электронных

Подробнее

Средство измерения. Объект-Микрометр для микроскопа с ценой деления 0,01 мм

Средство измерения. Объект-Микрометр для микроскопа с ценой деления 0,01 мм ЦЕНТР ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ "НЕЛИАН", ООО РУКОВОДСТВО ПО ЭКСПЛУАТАЦИИ Средство измерения Объект-Микрометр для микроскопа с ценой деления 0,01 мм 2001-2015 ООО ЦИТ НЕЛИАН, Россия, Москва Содержание:

Подробнее

«Сканирующая зондовая микроскопия»

«Сканирующая зондовая микроскопия» Программа краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению «Методы диагностики и исследования наноструктур» на базе учебного курса «Сканирующая зондовая

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ» УТВЕРЖДАЮ Зав. каф. промышленной и медицинской

Подробнее

Электронная оптика. Электронно-оптическая система микроскопа.

Электронная оптика. Электронно-оптическая система микроскопа. Электронная оптика. Электронно-оптическая система микроскопа. Электронно-оптическая система Ход лучей в электронном микроскопе 2 V U см Источник электронов электронная пушка 5 4-00 В 2. Термокатод 2. Управляющий

Подробнее

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ)

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ) ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (ЭМ) Введение в ЭМ На современном этапе в условиях стремительного развития техники исследователям все чаще приходится наблюдать и правильно объяснять явления, происходящие в конструкционных

Подробнее

УСКОРИТЕЛИ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

УСКОРИТЕЛИ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ УСКОРИТЕЛИ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 1 У С К О Р И Т Е Л И Э Л Е К Т Р О Н О В Д Л Я Р А Д И А Ц И О Н Н О Й Д Е Ф Е К Т О С К О П И И п/п Наименование параметра Обозначение УЭЛР-6-2Д УЭЛР-8-2Д

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

Один нанометр (нм) это одна миллиардная часть метра (10-9 м). Например, диаметр эритроцитов 7000 нм, толщина человеческого волоса нм.

Один нанометр (нм) это одна миллиардная часть метра (10-9 м). Например, диаметр эритроцитов 7000 нм, толщина человеческого волоса нм. Один нанометр (нм) это одна миллиардная часть метра (10-9 м). Например, диаметр эритроцитов 7000 нм, толщина человеческого волоса 80 000 нм. Большинство атомов имеют диаметр от 0,1 до 0,2 нм. Нанотехнологии

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

ПРОСТРАНСТВЕННЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР НА БАЗЕ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА ЛИННИКА к.т.н. Штанько А.Е. МГТУ «СТАНКИН»

ПРОСТРАНСТВЕННЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР НА БАЗЕ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА ЛИННИКА к.т.н. Штанько А.Е. МГТУ «СТАНКИН» ПРОСТРАНСТВЕННЫЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР НА БАЗЕ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА ЛИННИКА к.т.н. Штанько А.Е. МГТУ «СТАНКИН» Любой двухлучевой интерферометр, работающий в режиме полос конечной ширины, в принципе может быть

Подробнее

BA410. Microscope. Clinical&Lab Platform

BA410. Microscope. Clinical&Lab Platform BA410 Microscope Clinical&Lab Platform BA410 Clinical&Lab Microscope Platform Ф лагман модельного ряда Motic BA410 - это демонстрация возможностей оптических разработок компании в создании высококлассных

Подробнее

Весь спектр лабораторного оборудования

Весь спектр лабораторного оборудования Системы оптической микроскопии Емашова Наталия, ООО «Химинст», 119602, г. Москва, ул. Никулинская, д. 27, к. 3, (495)937-50-26, 231-59-00, info@cheminst.ru Основные характеристики микроскопов Модульность

Подробнее

УДК: 53.086 А.С. Гончаров, М.С. Ковалев, А.Б. Соломашенко, А.С. Кузнецов ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ МИКРООПТИЧЕСКИХ И ДИФРАКЦИОННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ С ПОМОЩЬЮ ТЕХНОЛОГИИ КОРРЕЛЯЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ SHUTTLE AND FIND

Подробнее

М. В. ОКУЛОВ МОДЕЛЬ ВИЗУАЛИЗАЦИИ СЛУЧАЙНОГО ФАЗОВОГО ОБЪЕКТА

М. В. ОКУЛОВ МОДЕЛЬ ВИЗУАЛИЗАЦИИ СЛУЧАЙНОГО ФАЗОВОГО ОБЪЕКТА 80 М. В. Окулов УДК 004.942;681.7.013.84 М. В. ОКУЛОВ МОДЕЛЬ ВИЗУАЛИЗАЦИИ СЛУЧАЙНОГО ФАЗОВОГО ОБЪЕКТА Рассматривается зависимость величины контраста в плоскости изображения системы визуализации фазовых

Подробнее

Лекция 2. Устройство электронных микроскопов.

Лекция 2. Устройство электронных микроскопов. Лекция. Устройство электронных микроскопов. Основываясь на базовых знаниях о процессах взаимодействия электронов с веществом (материал первой лекции) можно предполагать, что все виды электромагнитных излучений,

Подробнее

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Модель NS-3000 представляет собой высокоскоростной лазерный конфокальный сканирующий микроскоп,

Подробнее

Цифровые камеры OLYMPUS для материаловедения: Ваш микроскоп способен на большее

Цифровые камеры OLYMPUS для материаловедения: Ваш микроскоп способен на большее Цифровые камеры для микроскопии Обзор камеры Для микроскопов в области материаловедения Цифровые камеры OLYMPUS для материаловедения: Ваш микроскоп способен на большее С любовью к качественному изображению

Подробнее

Программа курса «Методы и приборы для изучения наночастиц и наноматериалов»

Программа курса «Методы и приборы для изучения наночастиц и наноматериалов» Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МЭИ» Факультет повышения квалификации преподавателей и

Подробнее

Все об очках ФАКУЛЬТЕТ. II. Основы оптики линз. 7. Классификация очковых линз по назначению

Все об очках ФАКУЛЬТЕТ. II. Основы оптики линз. 7. Классификация очковых линз по назначению Мы печатаем очередную часть материалов из учебного пособия Все об очках компании Hoya. Пособие содержит разделы: Оптическая система глаза, Основы геометрической оптики, Оправы и др. Материалы из этого

Подробнее

Микроскопия, концепция разрешающей способности

Микроскопия, концепция разрешающей способности Микроскопия, концепция разрешающей способности Зависимость разрешающей способности от длины волны Зависимость энергии излучения от дины волны (без учета релятивистских эффектов) Взаимодействие высокоэнергетического

Подробнее

Подготовка диэлектрических образцов для исследования методом растровой электронной микроскопии

Подготовка диэлектрических образцов для исследования методом растровой электронной микроскопии УДК 542.8 Подготовка диэлектрических образцов для исследования методом растровой электронной микроскопии Демидов Павел Сергеевич (1) Литвак Юрий Николаевич (2) Беляков Илья Владимирович (3) Студент 3 курса

Подробнее

Vision CAM. Цифровые камеры для микроскопии

Vision CAM. Цифровые камеры для микроскопии Цифровые камеры для микроскопии West Medica Цифровая Цифровая это среда организации и интерпретации данных микроскопических исследований, которая создается с помощью микроскопа, камеры, программного обеспечения

Подробнее

тел

тел Мастер-классы Адрес проведения мастер-классов: Институт физиологии им. И.П. Павлова РАН: Санкт-Петербург, наб. Макарова, дом 6 Визуализация и аналитические методы исследования клеточных культур 4 октября

Подробнее

Типовая программа повышения квалификации по курсу «Технология вакуумных тонкопленочных покрытий в оптике»

Типовая программа повышения квалификации по курсу «Технология вакуумных тонкопленочных покрытий в оптике» Типовая программа повышения квалификации по курсу «Технология вакуумных тонкопленочных покрытий в оптике» п/п Лекционные занятия Варианты курсов Прим. Наименование раздела, темы «Оператор» 0лк 0 пр., нед.

Подробнее

Примеры использования СЗМ для решения задач в материаловедении и нанотехнологии

Примеры использования СЗМ для решения задач в материаловедении и нанотехнологии Примеры использования СЗМ для решения задач в материаловедении и нанотехнологии В этой главе приводится несколько примеров решения реальных задач методами СЗМ. Эта глава не преследует своей целью проиллюстрировать

Подробнее

Соглашение от на период гг.

Соглашение от на период гг. Федеральная целевая программа «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 2020 годы» Соглашение 14.579.21.0004 от 05.06.2014 на период

Подробнее

Оптические пленки, напыленные с ионным ассистированием при помощи источника HCS Е.В. Клюев

Оптические пленки, напыленные с ионным ассистированием при помощи источника HCS Е.В. Клюев Оптические пленки, напыленные с ионным ассистированием при помощи источника HCS Е.В. Клюев ООО «Ионные источники и Технологии», Московская область, Россия. Нанесение оптических покрытий с ионным ассистированием

Подробнее

Взаимодействие ускоренных электронов с веществом.

Взаимодействие ускоренных электронов с веществом. ПРОГРАММА 1 Исследования материалов методами электронной микроскопии и сканирующей зондовой микроскопии; основы рентгеновской дифракции в материаловедении Общая трудоемкость 128 ч. ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ

Подробнее

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления Кафедра «Физика» ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Методическое указание для студентов,

Подробнее

В ГЛУБИНЫ ВАШЕГО МИРА В СЧИТАННЫЕ СЕКУНДЫ

В ГЛУБИНЫ ВАШЕГО МИРА В СЧИТАННЫЕ СЕКУНДЫ В ГЛУБИНЫ ВАШЕГО МИРА В СЧИТАННЫЕ СЕКУНДЫ Идеальная комбинация В ГЛУБИНЫ ВАШЕГО МИРА В СЧИТАННЫЕ СЕКУНДЫ Как сохранить конкурентоспособность и оставаться на передовом рубеже современной индустрии в мире,

Подробнее

Лабораторная работа 5.1 МОДЕЛИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ Цель работы Краткая теория

Лабораторная работа 5.1 МОДЕЛИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ Цель работы Краткая теория Лабораторная работа 5. МОДЕЛИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ 5... Цель работы Целью работы является ознакомление с построением изображения в тонкой линзе и микроскопе и проверка формулы увеличения микроскопа.

Подробнее

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность "Физика" (бакалавриат)

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность Физика (бакалавриат) Билет 1. 1. Материальное уравнение нелинейной среды. Нелинейная поляризация. Нелинейная восприимчивость. 2. Эффект Черенкова. Циклотронное и синхротронное излучение. 3. Определить доплеровское смещение

Подробнее

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд РАМ-30µ Гемологические исследования жемчуга Существует три вида жемчуга: природный натуральный (дикий); культивированный натуральный; искусственный

Подробнее

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА 9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА Самый прямой способ определения размеров наночастиц это исследование на просвечивающем электронном микроскопе. Другой способ определения

Подробнее

Системы для микроскопии и анализа с 1999

Системы для микроскопии и анализа с 1999 Системы для микроскопии и анализа с 1999 Образовательные программы, семинары, воркшопы Лабораторные и аналитические услуги Разработка специализированного ПО Инжиниринг Продажа оборудования, сервисная поддержка

Подробнее

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДИКИ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ГАБАРИТНОГО И АБЕРРАЦИОННОГО СИНТЕЗА К РАСЧЁТУ ЧЕТЫРЁХКРАТНОГО ВАРИООБЪЕКТИВА

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДИКИ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ГАБАРИТНОГО И АБЕРРАЦИОННОГО СИНТЕЗА К РАСЧЁТУ ЧЕТЫРЁХКРАТНОГО ВАРИООБЪЕКТИВА ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДИКИ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ГАБАРИТНОГО И АБЕРРАЦИОННОГО СИНТЕЗА К РАСЧЁТУ ЧЕТЫРЁХКРАТНОГО ВАРИООБЪЕКТИВА И.И. Пахомов, Д.Е. Пискунов, А.М. Хорохоров Московский государственный технический

Подробнее

Компания КЕМИКА Группа Компаний ПОЛИТЕГ-МЕТ Тел/факс: +7 (495) ; Сайт: Почта: , г. Москва, a/я 16;

Компания КЕМИКА Группа Компаний ПОЛИТЕГ-МЕТ Тел/факс: +7 (495) ; Сайт:  Почта: , г. Москва, a/я 16; Компания КЕМИКА Группа Компаний ПОЛИТЕГ-МЕТ Тел/факс: +7 (495) 6460609; Сайт: www.kemika.ru Почта: 109369, г. Москва, a/я 16; E-mail: info@kemika.ru MEIJI TECHNO Инвентированные металлургические микроскопы

Подробнее

М. П. ЕГОРЕНКО, В. С. ЕФРЕМОВ

М. П. ЕГОРЕНКО, В. С. ЕФРЕМОВ УДК 68.7 М. П. ЕГОРЕНКО, В. С. ЕФРЕМОВ ХРОМАТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ОБЪЕКТИВА С ЗЕРКАЛОМ МАНЖЕНА В НЕСКОЛЬКИХ ДИАПАЗОНАХ СПЕКТРА Рассмотрены хроматические свойства объектива с зеркалом Манжена в визуальном и

Подробнее

ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА

ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА УДК 535.317 П.А. Алдохин, А.С. Рафаилович СГГА, Новосибирск ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА Интерес к созданию телевизионных (ТВ) камер, работающих в УФ области спектра, обусловлен

Подробнее

Рентген это наша профессия. Россия, Санкт-Петербург

Рентген это наша профессия. Россия, Санкт-Петербург Рентген это наша профессия Россия, Санкт-Петербург 2014 год ЗАО «ТЕСТРОН» основанное в 2001 году является: - разработчиком - производителем - поставщиком рентгеновского оборудования для неразрушающего

Подробнее

Измерение характеристик качества изображения оптической системы TV камеры методом изофотометрии ФРЛ

Измерение характеристик качества изображения оптической системы TV камеры методом изофотометрии ФРЛ Современные оптические измерения ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА N 20 Измерение характеристик качества изображения оптической системы TV камеры методом изофотометрии ФРЛ (Программное обеспечение по компьютерной обработке

Подробнее

Анализ, преобразование и синтез световых полей. Оптическая фильтрация.

Анализ, преобразование и синтез световых полей. Оптическая фильтрация. Анализ, преобразование и синтез световы полей. Оптическая фильтрация. Любое световое поле, используя временное и пространственное преобразования Фурье, можно представить как суперпозицию плоски монороматически

Подробнее

Исследование свойств поверхности методами СЗМ

Исследование свойств поверхности методами СЗМ Исследование свойств поверхности методами СЗМ Исследование топографии в широком диапазоне разрешений это только небольшая часть того потенциала, который дает сканирующая зондовая микроскопия. В рамках

Подробнее

Автоэмиссионный наноструктурированный катод из стеклоуглерода

Автоэмиссионный наноструктурированный катод из стеклоуглерода Лазерная нанотехнология изготовления нового устройства - катод автоэмиссионный наноструктурированный микроострийный НПФ «Прибор-Т» ЦКП ЛиОТП СГТУ, г.саратов А.В. Конюшин, Т.Н. Соколова, Е.Л. Сурменко,

Подробнее

НАНОТЕХНОЛОГИЯ. Формирование наноразмерных структур на кремниевой подложке методом фокусированных ионных пучков

НАНОТЕХНОЛОГИЯ. Формирование наноразмерных структур на кремниевой подложке методом фокусированных ионных пучков НАНОТЕХНОЛОГИЯ УДК 621.382 Формирование наноразмерных структур на кремниевой подложке методом фокусированных ионных пучков О.А.Агеев, А.С.Коломийцев, Б.Г.Коноплев Технологический институт Южного федерального

Подробнее

Микро/нано Электро Механические Системы (MEMS/NEMS) Микро / нано электроника. Транзисторы Микрочипы Датчики Память Дисплеи

Микро/нано Электро Механические Системы (MEMS/NEMS) Микро / нано электроника. Транзисторы Микрочипы Датчики Память Дисплеи Учреждение Российской академии наук Институт спектроскопии РАН, г. Троицк, Московская обл., Россия Московский физико технический институт (Государственный университет) г. Долгопрудный, Московская обл.,

Подробнее

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография»

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Теоретические основы электронно-лучевой литографии Введение Литография это метод получения заданной структуры на поверхности с использованием

Подробнее

Лабораторная работа 3.3

Лабораторная работа 3.3 Лабораторная работа 3.3 ИЗУЧЕНИЕ ВНЕШНЕГО ФОТОЭФФЕКТА И.Л. Дорошевич Цели работы: 1. Изучить основные закономерности внешнего фотоэффекта. 2. Построить вольт-амперные характеристики фотоэлемента при различных

Подробнее

РУКОВОДСТВО ПОЛЬЗОВАТЕЛЯ

РУКОВОДСТВО ПОЛЬЗОВАТЕЛЯ ООО Прикладная Электроника РУКОВОДСТВО ПОЛЬЗОВАТЕЛЯ ИОННЫЙ ИСТОЧНИК С ЗАМКНУТЫМ ДРЕЙФОМ ЭЛЕКТРОНОВ APEL-IS-7CELL ТОМСК 2012 ОГЛАВЛЕНИЕ 1. ВВЕДЕНИЕ...3 2. НАЗНАЧЕНИЕ...3 3. СОСТАВ ИИ...3 4. ПРИНЦИП РАБОТЫ

Подробнее

Заключение по результатам исследования технического состояния изделия ФППЗ «Лев-3» 11

Заключение по результатам исследования технического состояния изделия ФППЗ «Лев-3» 11 Испытательный центр ОАО «РНИИ «Электронстандарт» 196084, Санкт-Петербург, ул. Цветочная, 25, корпус 3 Заключение по результатам исследования технического состояния изделия ФППЗ «Лев-3» 11 Тип изделия ФППЗ

Подробнее

Цифровой рентгеновский 3D-микротомограф

Цифровой рентгеновский 3D-микротомограф Национальный исследовательский Томский государственный университет Цифровой рентгеновский 3D-микротомограф Руководитель: В.И. Сырямкин, д.т.н., профессор, лауреат Премии Правительства РФ 2012г., директор

Подробнее

КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ. НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии

КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ. НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Механико-технологический факультет Кафедра химии и химической технологии КОЛЛОИДНАЯ ХИМИЯ Коллоидная химия, Зима Т.М. Новосибирский государственный

Подробнее

Прайс-лист 2014 на лабораторные микроскопы Olympus

Прайс-лист 2014 на лабораторные микроскопы Olympus ООО «Нева-Профи» г. Санкт-Петербург Прайс-лист 2014 на лабораторные микроскопы Olympus Серия CX2 микроскопы этой серии, как и более сложные модели в линейке прямых микроскопов Olympus, имеют не только

Подробнее

Методические и иные документы

Методические и иные документы Методические и иные документы А.А. Саркисян, В.В. Эвоян, К.П. Саакян Учебно-методическое пособие Элементы математического аппарата теоретической физики, Ереван, РАУ, 2009 В учебно-методическомпособии даны

Подробнее

МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ РАСТРОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ РАСТРОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ГОСТ Р (ПРОЕКТ, ПЕРВАЯ РЕДАКЦИЯ) Государственная система обеспечения единства измерений МИКРОСКОПЫ

Подробнее

Рамановские спектрометры серии XploRA

Рамановские спектрометры серии XploRA Рамановские спектрометры серии XploRA Быстрее, точнее, удобнее Химический анализ и картирование для научных исследований и аналитики Открывая будущее Для чего нужен Раман? Преимущества Неразрушающий контроль

Подробнее

Конфокальная микроскопия: мифы и реальность

Конфокальная микроскопия: мифы и реальность Школа-семинар «Конфокальная микроскопия в биологии и медицине». Москва Звенигород. 26-30 сентября 2005 г. Конфокальная микроскопия: мифы и реальность Г. И. Штейн Институт цитологии РАН, Санкт-Петербург

Подробнее

УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ ПО ДИСЦИПЛИНЕ «ВАКУУМНАЯ И ПЛАЗМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА» Б1.В.ДВ.1-3. Специальность «Физика и астрономия»

УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ ПО ДИСЦИПЛИНЕ «ВАКУУМНАЯ И ПЛАЗМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА» Б1.В.ДВ.1-3. Специальность «Физика и астрономия» Российская академия наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук (ИЭФ УрО РАН) УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ ПО ДИСЦИПЛИНЕ

Подробнее

12. В точке А (рис.1) находится точечный источник монохроматического света (λ = 500 нм). Диафрагма

12. В точке А (рис.1) находится точечный источник монохроматического света (λ = 500 нм). Диафрагма ДИФРАКЦИЯ СВЕТА 1. Вычислить радиус r шестой зоны Френеля для плоской монохроматической волны (λ = 546 нм), если точка наблюдения находится на расстоянии b = 4,4 м от фронта волны. 2. Вычислить радиус

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ВАКУУМНОГО ФОТОЭЛЕМЕНТА

ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ВАКУУМНОГО ФОТОЭЛЕМЕНТА Работа 1а ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ВАКУУМНОГО ФОТОЭЛЕМЕНТА Цель работы: снятие вольт-амперной характеристики фотоэлемента, определение красной границы фотоэффекта, работы выхода электрона и постоянной

Подробнее

Исследование древней иконы

Исследование древней иконы НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд РАМ-30µ Исследование древней иконы РАМ 30-μ - предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального

Подробнее

КАЧ ЕСТВО НАУЧНО-УЧЕБНЫЙ ЦЕНТР ПРОГРАММА ПОДГОТОВКИ ПЕРСОНАЛА НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПО РАДИАЦИОННОМУ МЕТОДУ В СООТВЕТСТВИИ С ISO 9712 УТВЕРЖДАЮ

КАЧ ЕСТВО НАУЧНО-УЧЕБНЫЙ ЦЕНТР ПРОГРАММА ПОДГОТОВКИ ПЕРСОНАЛА НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПО РАДИАЦИОННОМУ МЕТОДУ В СООТВЕТСТВИИ С ISO 9712 УТВЕРЖДАЮ НАУЧНО-УЧЕБНЫЙ ЦЕНТР КАЧ ЕСТВО ООО «НУЦ «КАЧЕСТВО» Адрес: 119991, г. Москва. Ленинский пр-т. д. 63/2, корп 1 Теп.: (495) 744-70-52, (495) 777-41-02 Факс: (495) 744-70-51 Почтовый адрес: 119296, г. Москва,

Подробнее

Определение разрешающей способности микроскопа и глаза

Определение разрешающей способности микроскопа и глаза Ярославский государственный педагогический университет им. К. Д. Ушинского Лабораторная работа 1 Определение разрешающей способности микроскопа и глаза Ярославль 013 Оглавление 1. Вопросы для подготовки

Подробнее

УДК ИЗЛУЧАТЕЛЬ И ПРИЕМНИК УЛЬТРАЗВУКА ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОНКОЛИ- СТОВЫХ МЕТАЛЛОИЗДЕЛИЙ

УДК ИЗЛУЧАТЕЛЬ И ПРИЕМНИК УЛЬТРАЗВУКА ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОНКОЛИ- СТОВЫХ МЕТАЛЛОИЗДЕЛИЙ УДК 53-8 + 620.179.16 ИЗЛУЧАТЕЛЬ И ПРИЕМНИК УЛЬТРАЗВУКА ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОНКОЛИ- СТОВЫХ МЕТАЛЛОИЗДЕЛИЙ С.Ю. Гуревич, Е.В. Голубев, Ю.В. Петров Проведены исследования по выявлению зависимости

Подробнее

Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович

Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович Санкт-Петербургский государственный университет Физический факультет Кафедра нейтронной и синхротронной физики Сыромятников Владислав Генрихович Лекция 9. Рентгеновская и синхротронная оптика. 1. Синхротронное

Подробнее

Лабораторная работа 42.1

Лабораторная работа 42.1 Лабораторная работа 4.1 Исследование дифракции света на одной щели. Дифракция Фраунгофера Методическое руководство Москва 014 Исследование дифракции света на одной щели. Дифракция Фраунгофера 1. Цель работы

Подробнее

Предлагаемое школьное оборудование «Химлабо» обеспечивает:

Предлагаемое школьное оборудование «Химлабо» обеспечивает: Предлагаемое школьное оборудование «Химлабо» обеспечивает: выполнение 40 лабораторных работ в соответствии с программами основной и средней школы (базовый и профильный уровни); не требует дополнительного

Подробнее

Важная информация: собеседование для распределения в лабораторию компьютерной графике

Важная информация: собеседование для распределения в лабораторию компьютерной графике Важная информация: собеседование для распределения в лабораторию компьютерной графике Собеседование пройдет в следующий четверг (22.04), в 19:00 (после лекции), в аудитории 703. Крайне желательно сдать

Подробнее

Технический паспорт. ZEISS EVO 40XVP Сканирующий электронный микроскоп

Технический паспорт. ZEISS EVO 40XVP Сканирующий электронный микроскоп Технический паспорт ZEISS EVO 40XVP Сканирующий электронный микроскоп ZEISS EVO 40XVP Технический паспорт Рабочие характеристики Пространственное разрешение Ускоряющее напряжение Ток зонда Вольфрамовый

Подробнее

Многоцелевая нейтронографическая установка "ДРАКОН".

Многоцелевая нейтронографическая установка ДРАКОН. Многоцелевая нейтронографическая установка "ДРАКОН". -Соменков В.А. 1, Глазков В.П. 1, Эм В.Т. 1, Гуреев 1 А.И., -Садыков Р.А. 2, Трунов Д.Н. 2, Аксенов С.Н. 2, Кравчук Л.В. 2, -Важенцев А.И. 3. 1 Национальный

Подробнее

УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW

УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW С. Р. Горгуца, П. М. Михеев, А.С.Соболев, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Физический факультет

Подробнее

Изучение структуры крыла насекомых с помощью оптической и сканирующей зондовой микроскопии

Изучение структуры крыла насекомых с помощью оптической и сканирующей зондовой микроскопии Государственное бюджетное общеобразовательное учреждение средняя общеобразовательная школа 422 Кронштадтского района г. Санкт Петербурга НАУЧНО - ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ПРОЕКТ Изучение структуры крыла насекомых

Подробнее

Лабораторная работа 42.2

Лабораторная работа 42.2 Лабораторная работа 4. Исследование дифракции Фраунгофера на дифракционной решётке Методическое руководство Москва 04 г. Исследование дифракции Фраунгофера на дифракционной решетке. Цель работы Изучение

Подробнее

Объективы. Увеличение N.A. Р.Р.(mm) EC Plan 4x EC Plan 10x EC Plan 20x EC Plan 40x EC Plan 60x

Объективы. Увеличение N.A. Р.Р.(mm) EC Plan 4x EC Plan 10x EC Plan 20x EC Plan 40x EC Plan 60x Компания Motic представляет новую модель BA 310POL - чрезвычайно мощный поляризационный микроскоп для работы с образцами в проходящем свете. Этот микроскоп развивает самую популярную линейку микроскопов

Подробнее

Основы фотографической оптики

Основы фотографической оптики Спецкурс ОСФИ Лекция 7 06 апреля 2011 Основы фотографической оптики Алексей Игнатенко, к.ф.-м.н. Лаборатория компьютерной графики и мультимедиа ВМК МГУ Цель Научиться моделировать фотокамеру Разбираться

Подробнее

Работа 25а ИЗУЧЕНИЕ ЯВЛЕНИЙ, ОБУСЛОВЛЕННЫХ ДИФРАКЦИЕЙ

Работа 25а ИЗУЧЕНИЕ ЯВЛЕНИЙ, ОБУСЛОВЛЕННЫХ ДИФРАКЦИЕЙ Работа 25а ИЗУЧЕНИЕ ЯВЛЕНИЙ, ОБУСЛОВЛЕННЫХ ДИФРАКЦИЕЙ Цель работы: наблюдение дифракции света на дифракционной решетке, определение периода дифракционной решетки и области пропускания светофильтров Оборудование:

Подробнее

1. ОСНОВЫ ОПТИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЙ

1. ОСНОВЫ ОПТИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЙ 1.. Дифракция на щели 1.. Дифракция на щели 1 1..1. Дифракционный предел разрешения 1... Критерий Релея 3 1..3. Оптимальная (нормальная) ширина щели 3 1..4. Дифракция на входной щели прибора 4 Дифракция

Подробнее

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка Оптика Волновая оптика Спектральные приборы. Дифракционная решетка В состав видимого света входят монохроматические волны с различными значениями длин. В излучении нагретых тел (нить лампы накаливания)

Подробнее

Рабочая программа внеурочной деятельности «Юный фотограф»

Рабочая программа внеурочной деятельности «Юный фотограф» Муниципальное автономное общеобразовательное учреждение города Калининграда средняя общеобразовательная школа 38 РАССМОТРЕНО на заседании МО протокол 1 «29_» _08 2016 «СОГЛАСОВАНО» на заседании ПС протокол

Подробнее

Основные положения ГОСТ "ЕР СФД. Электронные копии бумажных документов. Показатели качества и методы контроля"

Основные положения ГОСТ ЕР СФД. Электронные копии бумажных документов. Показатели качества и методы контроля РЕАЛИИ ПРАКТИЧЕСКОЙ ОЦИФРОВКИ Специальная программа Основные положения ГОСТ "ЕР СФД. Электронные копии бумажных документов. Показатели качества и методы контроля" Федеральное государственное унитарное

Подробнее

РФЭС анализ в реальном времени на примере восстановление оксида титана и десорбция кислорода с поверхности образца

РФЭС анализ в реальном времени на примере восстановление оксида титана и десорбция кислорода с поверхности образца РФЭС анализ в реальном времени на примере восстановление оксида титана и десорбция кислорода с поверхности образца Владимиров Александр Технический специалист ООО «Экситон Аналитик» - Официального представительства

Подробнее

//// CSM INSTRUMENTS. Техническое описание Калотест - Calotest (CAT) CAT. //// NHT 2 : Technical Features 2011 V.01 Beta V.02.2 (xx Mmm.

//// CSM INSTRUMENTS. Техническое описание Калотест - Calotest (CAT) CAT. //// NHT 2 : Technical Features 2011 V.01 Beta V.02.2 (xx Mmm. //// CSM INSTRUMENTS Техническое описание 013 Калотест - Calotest (CAT) CAT //// NHT : Technical Features 011 V.01 Beta V.0. (xx Mmm. 10) 1 //// Содержание //// Общая информация... 3 > Система Calotest

Подробнее

Отчет по НИР «Исследование влияния импульсного магнитного поля на магнитный контраст над поверхностью магнитных материалов».

Отчет по НИР «Исследование влияния импульсного магнитного поля на магнитный контраст над поверхностью магнитных материалов». РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ТВЕРДОГО ТЕЛА 142432, Черноголовка, Московской обл. Факс: (096) 524-97-01 Отчет по НИР «Исследование влияния импульсного магнитного

Подробнее

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы 4.. Волновая оптика Основные законы и формулы Абсолютный показатель преломления однородной прозрачной среды n = c / υ, где c скорость света в вакууме, а υ скорость света в среде, значение которой зависит

Подробнее

Медицинские технологии из Кореи для оснащения ЛОР-кабинетов

Медицинские технологии из Кореи для оснащения ЛОР-кабинетов Медицинские технологии из Кореи для оснащения ЛОР-кабинетов UE-3000 это платформа, на базе которой может быть создан ЛОР-комбайн для диагностики и лечения ЛОР-заболеваний и проведения хирургических манипуляций.

Подробнее

Особенности YN-560. Совместимость с камерами

Особенности YN-560. Совместимость с камерами Yongnuo YN-560: полный обзор ч.1 Вспышка Yongnuo YN-560, представленная летом 2010 года как следующий шаг развития модели YN-460 II, и улучшенная по многим показателям также является и одной из самых интересных

Подробнее

Министерство образования и науки Российской Федерации. Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) Кафедра физики

Министерство образования и науки Российской Федерации. Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) Кафедра физики Министерство образования и науки Российской Федерации Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) Кафедра физики ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ДВУМЕРНОЙ

Подробнее

Определение характеристик морского волнения по цифровым фотографиям

Определение характеристик морского волнения по цифровым фотографиям Определение характеристик морского волнения по цифровым фотографиям М.Т. Смирнов, Д.М. Ермаков Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники РАН, 141190 г. Фрязино, Московской обл., пл. Введенского,

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ 1. Цель работы 1.1. Освоить методику определения плотности дислокаций по точкам выхода и методом секущих.

Подробнее

Физические основы фотографии

Физические основы фотографии Физические основы фотографии Гедранович Александр Брониславович gedranovich@gmail.com ЦИФРОВАЯ ФОТОГРАФИЯ Гедранович А.Б. (ЦФ) Физические основы Весна, 2011 1 / 33 Вопросы 1 Матрицы и оптика 2 ГРИП 3 Шумы

Подробнее