ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Размер: px
Начинать показ со страницы:

Download "ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ"

Транскрипт

1 ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ 1. Цель работы 1.1. Освоить методику определения плотности дислокаций по точкам выхода и методом секущих Определить плотность дислокаций в отожжённом и деформированном металле Установить влияние деформации на плотность дислокаций. 2. Теоретическая часть 2.1. Дислокации Реальные кристаллы в отличие от идеальных характеризуются присутствием в них различного рода дефектов строения. Наиболее важными с точки зрения влияния на механические свойства металлов являются дислокации, представляющие собой линейный дефект. Дислокациями называются дефекты, связанные с нарушением правильной укладки кристаллических плоскостей (рис.2.1). Простые дислокации могут быть двух типов краевые и винтовые. Краевая дислокация возникает в том случае, если в кристалле присутствует недостроенная атомная плоскость (рис.2.1, б). Плоскость 1-2 грани куба в нижней части кристалла не имеет продолжения. Такая незавершённая плоскость называется экстраплоскостью. Её присутствие приводит к тому, что ниже её края кристалл растянут, а выше сжат. В направлении, перпендикулярном экстраплоскости, над её краем межплоскостное расстояние меньше, а под её краем больше, чем вдали от дислокации. Таким образом, присутствие краевой дислокации вызывает несовершенства в кристалле в виде изменений межплоскостных расстояний. Область несовершенств простирается вдоль края экстраплоскости, поэтому дислокация, вызвавшая их, называется краевой Винтовая дислокация возникает там, где атомная плоскость по какой-либо причине закручивается в виде винтовой поверхности (рис.2.1, в).

2 а) б) в) Рис Совершенная простая кубическая пространственная решетка (а), кристаллическая решетка с краевой (б) и винтовой (в) дислокацией в кристалле. В этом случае несовершенство простирается вдоль оси винта Х (рис.2.1, в) и также сопровождается изменением межплоскостного расстояния. Дислокации играют огромную роль в кристаллических материалах. Под действием приложенных напряжений они могут легко двигаться по кристаллу. Перемещение одной дислокации приводит к сдвиговой деформации, величина сдвига при этом равна одному межатомному расстоянию. Результатом кооперированного движения большого количества дислокаций является пластическая деформация. Затруднение их движения ведёт к упрочнению материала. Важнейшей характеристикой дислокации является её вектор Бюргерса (вектор смещения), он определяет направление и величину связанного с дислокацией сдвига, меру искажённости

3 кристаллической решётки и энергию дислокации. Вектор Бюргерса b определяется как разность контуров, замыкающих ряд атомов в решётке (контуров Бюргерса), проведённых в неискажённой области кристалла и в области, содержащей дислокацию (рис.2.2) Плотность дислокаций Количество и протяжённость линий дислокаций характеризуется так называемой плотностью дислокаций, под которой понимается протяжённость всех линий дислокаций L в 1 см 3 кристалла, так что L ρ, где V объём кристалла. V Плотность дислокаций может изменяться в очень широких пределах: от 10 0 до ( ) см -2. Она минимальна в тщательно выращенных монокристаллах и сильно возрастает при ускоренной кристаллизации и особенно при пластической деформации, поскольку в процессе деформации дислокации интенсивно размножаются Выявление дислокаций Рис.2.2. Контур Бюргерса в совершенном кристалле (а), вокруг краевой (б) и винтовой (в) дислокации.

4 Для выявления дислокаций в металле чаще всего пользуются двумя методами Метод ямок травления В том случае, когда дислокация выходит на поверхность кристалла, она может быть выявлена при обычном микроструктурном исследовании полированного и протравленного кристалла. Это основано на следующем: в совершенном кристалле атомы находятся на вполне определённом расстоянии друг от друга, соответствующем минимуму потенциальной энергии взаимодействия атомов. Вблизи дислокации межатомные расстояния или больше, или меньше тех, которые отвечают минимуму энергии. Поэтому атомы вокруг дислокации, обладающие большей энергией, при воздействии травителя взаимодействуют с ним более активно, чем атомы вдали от дислокации. В результате в точке выхода дислокации происходит местное растравливание металла образуется ямка травления. Говоря иначе, точка выхода дислокации является центром растравливания шлифа. Ямка становится видна, когда её размеры больше разрешаемого расстояния микроскопа. Так как в кристалле скорость растворения анизотропна, то форма ямки травления зависит от индексов плоскости, на которой она образуется. Так в кубических кристаллах на плоскости (100) грани куба ямки травления имеют форму четырёхгранной пирамиды (рис.2.3). Метод ямок травления может быть использован при не слишком большой плотности дислокации не более 10 8 см Метод просвечивающей электронной микроскопии Метод основан на явлении дифракции электронов при прохождении их через кристалл. Для изучения дислокационной структуры готовятся образцы очень малой толщины, не более 0,5 мкм, прозрачные для электронов, называемые фольгами. Такая фольга получается путём химического и электролитического утонения образца. Подготовленный таким образом образец помещают в колонну электронного микроскопа на пути пучка электронов. Электроны по выходе из объекта проходят через систему электромагнитных линз и

5 Рис Ямки травления в монокристалле. попадают на экран, где создаётся увеличенная картина структуры металла. Изображение структуры формируется вследствие дифракции электронов на кристаллической решётке по закону Вульфа-Брэгга. На рис. 2.4 вблизи дислокации вертикальные атомные плоскости изогнуты в противоположные стороны. Поэтому, если кристалл в целом (при вертикальном направлении электронного пучка) отклонён от отражающего положения, то, например, участок справа от дислокации может оказаться ближе к отражающему положению, а слева дальше от него. Тогда через участок кристалла справа от дислокации в направлении первичного пучка пройдут лучи меньшей интенсивности (часть луче отклонится в результате дифракции). В результате на экране получится тёмное изображение этого участка в виде линий шириной А. Таким образом, при просвечивании металлической фольги электронным пучком из-за дифракционного контраста возникает изображение искажённого участка решётки, расположенного по одну сторону от краевой дислокации. Аналогично возникает изображение и винтовой дислокации. Картина с изображением линий дислокаций представляет собой проекцию пространственного расположения дислокаций в фольге на плоскость экрана (рис. 2.4). Концы линий дислокаций представляют собой точки выхода дислокаций на поверхности фольги.

6 Определение плотности дислокации Метод точек выхода Если на площади F есть N точек выхода дислокаций на поверхность, то для метода ямок травления: N ρ. (2.1) F Для метода просвечивающей электронной микроскопии: 0,5N N 1 2 ρ, (2.2) F где N 1 дислокации, видимые в виде линии и имеющие две точки выхода; N 2 - дислокации, перпендикулярные плоскости шлифа и видимые в виде точки; F площадь наблюдения. При определённой плотности дислокаций с помощью электронного микроскопа необходимо учитывать одно обстоятельство: если вектор Бюргерса дислокации лежит в отражающей плоскости, то такая дислокация не даёт дифракционного контраста. Поэтому общее число дифракций в фольге всегда больше, чем выявляется на экране или фотографии (невидимые дислокации можно выявить, изменяя ориентацию фольги по отношению к электронному пучку, т.е. поворачивая фольгу). Вероятность Р того, что дислокация видима в данном положении, определяется типом кристаллической решётки и возможными векторами Бюргерса b дислокаций. а) б) Рис.2.4. Два ряда дислокаций в фольге: а) изображение дислокаций, полученное в электронном микроскопе; б) схема

7 пространственного расположения дислокаций, идущих от одной поверхности к другой. Подсчётами установлено, что для ОЦК решётки Р=51/72 для ГЦК - Р=9/13. Тогда, если на снимках общей площадью F подсчитано N дислокаций, то действительное их число равно N/Р, а плотность: N ρ. (2.3) P F Метод произвольных секущих Метод основан на определении суммарной длины проекции всех дислокаций на плоскость фольги. Для этого на фотографии наносится ортогональная сетка секущих с шагом t, равным удвоенной толщине фольги, и подсчитывается число точек пересечения q линий с линиями дислокаций. Тогда плотность дислокаций: q ρ. (2.4) q F Этот метод пригоден для изучения структуры при любой, в том числе и высокой плотности дислокаций. Метод точек выхода можно использовать лишь в том случае, когда все дислокации хорошо разделены. Дислокации в металле располагаются неравномерно. Для более точного определения средней плотности дислокаций необходимо произвести расчёты в нескольких кадрах. 3. Порядок выполнения работы 3.1. Получить электронные микрофотографии металла в отожжённом и деформированном с разной степенью деформации 2 состояниях и определить площадь шлифа F f x, где f площадь микрофотографии; x увеличение Подсчитать плотность дислокаций по методу секущих для всех образцов Подсчитать плотность дислокаций в отожжённом металле по точкам выхода Оценить точность измерений P V, M N ρ Z

8 где М число полей наблюдения (в нашем случае М=1); N число точек выхода; Z число возможных векторов Бюргерса Определить необходимое число полей измерения для обеспечения точности не менее 90% (ошибка 10%) По результатам измерений построить зависимость плотности дислокаций от степени деформации Зарисовать схему дислокационной структуры каждого образца и охарактеризовать её. 4. Отчёт по работе По работе составить отчёт. В отчёте должны быть приведены: - цель работы; - модель краевой и винтовой дислокации; - копии дислокационного строения металла (на кальке) с указанием увеличения; - результаты подсчёта плотности дислокаций и оценки точности измерений, а также подсчёт необходимого числа полей измерения для обеспечения точности не менее 90 %; - график зависимости плотности дислокаций от степени деформации; - выводы о дислокационной структуре исследованных образцов. 5. Контрольные вопросы 1. Что представляет собой цепочка ямок травления на рисунке 2.3? 2. Какая плоскость кристалла выходит на поверхность шлифа на рисунке 2.3? 3. Сколько различных векторов Бюргерса может быть в монокристалле с ГЦК и ОЦК решёткой, учитывая, что вектор Бюргерса всегда находится в направлении плотнейшей упаковки? 4. К чему приведёт скопление краевых дислокаций одного знака в монокристалле друг над другом? 5. Почему при наблюдении в электронном микроскопе видны не все дислокации? 6. Можно ли установить, есть или нет в кристалле невидимые в микроскопе дислокации? Если можно, то как?

9 7. Как увеличить точность определения плотности дислокаций по точкам выхода? 8. Как говорилось, в процессе деформации плотность дислокаций возрастает. О чём свидетельствует неравномерность плотности дислокаций в деформированном металле?

Пластическая деформация кристаллов

Пластическая деформация кристаллов Пластическая деформация кристаллов Пластические деформации сохраняются в теле после прекращения действия внешних сил. Под действием касательных (сдвиговых) напряжений возникают два типа процессов, приводящих

Подробнее

Лабораторная работа 8. Упрочнение материала при формировании дислокационной субструктуры

Лабораторная работа 8. Упрочнение материала при формировании дислокационной субструктуры Лабораторная работа 8 Упрочнение материала при формировании дислокационной субструктуры Томск 2013 Рекомендуемая литература 1. Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении. М.:

Подробнее

Дефекты кристаллов подразделяют на точечные, линейные и поверхностные.

Дефекты кристаллов подразделяют на точечные, линейные и поверхностные. 1.3. Строение реальных кристаллических материалов Строение реальных кристаллов отличается от идеальных. В реальных кристаллах всегда содержатся дефекты, и поэтому нет идеально правильного расположения

Подробнее

Лабораторная работа 7. Изучение дислокационной субструктуры металлов и сплавов. Классификация ДСС.

Лабораторная работа 7. Изучение дислокационной субструктуры металлов и сплавов. Классификация ДСС. Лабораторная работа 7 Изучение дислокационной субструктуры металлов и сплавов. Классификация ДСС. Томск 2013 Рекомендуемая литература 1. Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении.

Подробнее

Лекция 2. Строение реальных металлов. Дефекты кристаллического строения

Лекция 2. Строение реальных металлов. Дефекты кристаллического строения Лекция 2 http://www.supermetalloved.narod.ru Строение реальных металлов. Дефекты кристаллического строения 1. Точеные дефекты 2. Линейные дефекты: 3. Простейшие виды дислокаций краевые и винтовые. Из жидкого

Подробнее

3.2. Пластическая деформация и деформационное упрочнение

3.2. Пластическая деформация и деформационное упрочнение 3.2. Пластическая деформация и деформационное упрочнение Пластическая деформация является результатом необратимых смещений атомов. В процессе пластической деформации играют роль только касательные (тангенциальные)

Подробнее

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЛОТНОСТИ ДИСЛОКАЦИЙ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЛОТНОСТИ ДИСЛОКАЦИЙ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «ТЮМЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НЕФТЕГАЗОВЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»

Подробнее

Материаловедение и ТКМ. Цикл лекций. Карпов А.А. Лекция 2. Строение реальных металлов.

Материаловедение и ТКМ. Цикл лекций. Карпов А.А. Лекция 2. Строение реальных металлов. Материаловедение и ТКМ. Цикл лекций. Карпов А.А. Лекция 2. Строение реальных металлов. 2.1. Дефекты строения кристаллических тел. Из жидкого расплава можно вырастить монокристалл, т. е. кусок металла,

Подробнее

Лабораторная работа 6

Лабораторная работа 6 Лабораторная работа 6 Определение методами просвечивающей электронной микроскопии параметров структуры материала с наноразмерными частицами второй фазы. Анализ механизмов упрочнения материала частицами

Подробнее

МЕТАЛЛЫ И ПОЛУПРОВОДНИКИ: ТЕХНОЛОГИИ И ПРОЦЕССЫ

МЕТАЛЛЫ И ПОЛУПРОВОДНИКИ: ТЕХНОЛОГИИ И ПРОЦЕССЫ МЕТАЛЛЫ И ПОЛУПРОВОДНИКИ: ТЕХНОЛОГИИ И ПРОЦЕССЫ МОДУЛЬ 2. Процессы и методы формирования наноструктурных состояний в конструкционных материалах Лекция 9 Механические свойства наноструктурных материалов.

Подробнее

Дефекты в кристаллах

Дефекты в кристаллах Дефекты в кристаллах Классы дефектов: 1.точечные (нуль-мерные) дефекты; 2.линейные (одномерные) дефекты; 3.поверхностные (двумерные) дефекты; 4.объемные (трехмерные) дефекты. 27.08.2013 А.В. Шишкин, АЭТУ,

Подробнее

Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов

Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов Приложения по курсу «ВВЕДЕНИЕ В СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МАТЕРИАЛОВ» 1.Домашние задания для студентов 1. Определить базис для кристаллической решетки алмаза. Решетка алмаза - это две гранецентрированные кубические

Подробнее

Дефекты кристаллической структуры. 2. Протяжённые дефекты

Дефекты кристаллической структуры. 2. Протяжённые дефекты Дефекты кристаллической структуры 2. Протяжённые дефекты Дефекты в кристаллах (от лат. defectus недостаток, изъян), нарушения периодичности кристаллической структуры в реальных монокристаллах. БСЭ Различают

Подробнее

Дефектыкристаллическойструктуры. 2. Протяжённыедефекты

Дефектыкристаллическойструктуры. 2. Протяжённыедефекты Дефектыкристаллическойструктуры 2. Протяжённыедефекты Дефекты в кристаллах (от лат. defectus недостаток, изъян), нарушения периодичности кристаллической структуры в реальных монокристаллах. БСЭ Различают

Подробнее

Лекция 1. Анизотропия и симметрия кристаллов. Структура кристалла и пространственная решетка. Закон постоянства углов. Формула Вульфа-Брэгга.

Лекция 1. Анизотропия и симметрия кристаллов. Структура кристалла и пространственная решетка. Закон постоянства углов. Формула Вульфа-Брэгга. Лекция 1. 1. Анизотропия и симметрия кристаллов.. Структура кристалла и пространственная решетка.. Закон постоянства углов. Формула Вульфа-Брэгга. 4. Методы кристаллографического индицирования. Закон целых

Подробнее

12. В точке А (рис.1) находится точечный источник монохроматического света (λ = 500 нм). Диафрагма

12. В точке А (рис.1) находится точечный источник монохроматического света (λ = 500 нм). Диафрагма ДИФРАКЦИЯ СВЕТА 1. Вычислить радиус r шестой зоны Френеля для плоской монохроматической волны (λ = 546 нм), если точка наблюдения находится на расстоянии b = 4,4 м от фронта волны. 2. Вычислить радиус

Подробнее

Лекция 6. Нагрузки, напряжения и деформации. Механические свойства.

Лекция 6. Нагрузки, напряжения и деформации. Механические свойства. Лекция 6 http://www.supermetalloved.narod.ru Нагрузки, напряжения и деформации. Механические свойства. 1. Физическая природа деформации металлов. 2. Природа пластической деформации. 3. Дислокационный механизм

Подробнее

Лекция 10 Дефекты в кристаллах. Дислокации (продолжение)

Лекция 10 Дефекты в кристаллах. Дислокации (продолжение) Лекция 10 Дефекты в кристаллах Дислокации (продолжение) Движение дислокаций Переползание дислокаций Переползание дислокаций это движение краевой дислокации в направлении перпендикулярном как линии дислокации,

Подробнее

Технологии поверхностного упрочнения деталей машин

Технологии поверхностного упрочнения деталей машин Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ивановский государственный химико-технологический университет Т.Ю. Степанова Технологии

Подробнее

= 0 0 y 2. 2) Для света длиной волны см показатели преломления в кварце n =1, 0

= 0 0 y 2. 2) Для света длиной волны см показатели преломления в кварце n =1, 0 ) Под каким углом должен падать пучок света из воздуха на поверхность жидкости, чтобы при отражении от дна стеклянного сосуда (n =,5) наполненного водой (n 2 =,33) свет был полностью поляризован. 2) Какова

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 1 ИЗУЧЕНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ МЕТАЛЛОВ МЕТОДОМ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 1 ИЗУЧЕНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ МЕТАЛЛОВ МЕТОДОМ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 1 ИЗУЧЕНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО СТРОЕНИЯ МЕТАЛЛОВ МЕТОДОМ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА 1. Цель работы Целью работы является: - овладеть методикой определения кристаллического строения металлов

Подробнее

ДИСЛОКАЦИОННАЯ МОДЕЛЬ ПОЛИСИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛОС СДВИГА В АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛАХ

ДИСЛОКАЦИОННАЯ МОДЕЛЬ ПОЛИСИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛОС СДВИГА В АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛАХ 16 ПРИКЛАДНАЯ МЕХАНИКА И ТЕХНИЧЕСКАЯ ФИЗИКА. 3. Т., N- 3 УДК 58. ДИСЛОКАЦИОННАЯ МОДЕЛЬ ПОЛИСИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛОС СДВИГА В АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛАХ М. Н. Верещагин, О. М. Остриков Гомельский государственный технический

Подробнее

Фазовые превращения в твердых телах

Фазовые превращения в твердых телах Фазовые превращения в твердых телах Лекция 6 3. ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ В ОДНОКОМПОНЕНТНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ ПРИ ТЕРМИЧЕСКИХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ Фазовые превращения в твердых телах Лекция 5 3. ФАЗОВЫЕ ПРЕВРАЩЕНИЯ В ОДНОКОМПОНЕНТНЫХ

Подробнее

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран 3 Цель работы: ознакомиться с отражательной дифракционной решеткой. Задача: определить с помощью дифракционной решетки и гониометра длины волн линий спектра ртутной лампы и угловую дисперсию решеткит Приборы

Подробнее

Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния. 1. Стадийность кривых течения 2. Дислокации в металлах. Параболическое скольжение

Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния. 1. Стадийность кривых течения 2. Дислокации в металлах. Параболическое скольжение Сегодня: понедельник, октября 0 г. Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния Лекция. Стадийность - кривых доцент КОФ ФТИ ТПУ, к.физ.-мат.н КупрековаЕ.И.. Стадийность кривых течения.

Подробнее

Лабораторная работа 6. Механизмы упрочнения материала частицами второй фазы

Лабораторная работа 6. Механизмы упрочнения материала частицами второй фазы Лабораторная работа 6 Механизмы упрочнения материала частицами второй фазы Томск 2013 Рекомендуемая литература 1. Томас Г. Электронная микроскопия металлов. М.: Иностранная литература, 1963. - 347 с. 2.

Подробнее

Микроскопия, концепция разрешающей способности

Микроскопия, концепция разрешающей способности Микроскопия, концепция разрешающей способности Зависимость разрешающей способности от длины волны Зависимость энергии излучения от дины волны (без учета релятивистских эффектов) Взаимодействие высокоэнергетического

Подробнее

ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ. для студентов II курса IV семестра всех факультетов

ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ. для студентов II курса IV семестра всех факультетов 1 ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ II КУРСА IV СЕМЕСТРА ВСЕХ ФАКУЛЬТЕТОВ Варианты домашнего задания по физике для студентов II курса IV семестра всех факультетов Вариант Номера задач 1 1 13 5 37

Подробнее

Исследование дифракции света

Исследование дифракции света Исследование дифракции света Липовская М.Ю., Яшин Ю.П. Введение. Свет может проявлять себя либо как волна, либо как поток частиц, что носит название корпускулярно - волнового дуализма. Интерференция и

Подробнее

1. Цели и задачи модуля 3) 2. Место модуля в структуре ООП 3. Требования к результатам освоения модуля 3.1. Кристаллография, физика кристаллов

1. Цели и задачи модуля 3) 2. Место модуля в структуре ООП 3. Требования к результатам освоения модуля 3.1. Кристаллография, физика кристаллов 1. Цели и задачи модуля Целью изучения модуля «Кристаллография, физика кристаллов» является формирование у аспирантов необходимого для успешного осуществления научной и исследовательской деятельности уровня

Подробнее

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И РАЗМЕРОВ МАЛЫХ ПРЕПЯТСТВИЙ

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И РАЗМЕРОВ МАЛЫХ ПРЕПЯТСТВИЙ Министерство образования Российской Федерации ИРКУТСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И РАЗМЕРОВ МАЛЫХ ПРЕПЯТСТВИЙ Методические указания Иркутск 2004 Печатается

Подробнее

Лабораторная работа 2 «Определение напряжений методом «sin2ψ».

Лабораторная работа 2 «Определение напряжений методом «sin2ψ». Лабораторная работа «Определение напряжений методом «sinψ». Цель работы: освоить проведение эксперимента и методику расчета остаточных макронапряжений. Определить величину напряжений по методу «sin ψ»

Подробнее

Лабораторная работа 11. Оценка прочности стали на пределе текучести сумматорным методом

Лабораторная работа 11. Оценка прочности стали на пределе текучести сумматорным методом Лабораторная работа 11 Оценка прочности стали на пределе текучести сумматорным методом Томск 2013 Рекомендуемая литература 1. Утевский Л.М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении. М.: Металлургия,

Подробнее

Дефекты в кристаллах

Дефекты в кристаллах Дефекты в кристаллах Дефекты с дробной размерностью. Фракталы Бесконечный кристалл с совершенным дальним порядком 0. Точечные дефекты 1. Линейные дефекты 2. Плоские дефекты 3. Квазикристаллы. Аморфные

Подробнее

ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОЦЕССА ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАСТИЧЕСКОГО ДЕФОРМИРОВАНИЯ ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫХ СТАЛЕЙ И СПЛАВОВ

ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОЦЕССА ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАСТИЧЕСКОГО ДЕФОРМИРОВАНИЯ ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫХ СТАЛЕЙ И СПЛАВОВ Научные труды КубГТУ, 6, 014 год 1 УДК 681 ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОЦЕССА ПОВЕРХНОСТНОГО ПЛАСТИЧЕСКОГО ДЕФОРМИРОВАНИЯ ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫХ СТАЛЕЙ И СПЛАВОВ И.В. ДВАДНЕНКО, В.И. ДВАДНЕНКО Кубанский государственный

Подробнее

Пластическая деформация монокристаллов алюминия в компьютерном эксперименте Введение Результаты и их обсуждение Методика расчетов

Пластическая деформация монокристаллов алюминия в компьютерном эксперименте Введение Результаты и их обсуждение Методика расчетов 01;05 Пластическая деформация монокристаллов алюминия в компьютерном эксперименте А.И. Лобастов, В.Е. Шудегов, В.Г. Чудинов Удмуртский государственный университет, 426034 Ижевск, Россия (Поступило в Редакцию

Подробнее

Дефекты кристаллической структуры. Залужный А. Г.

Дефекты кристаллической структуры. Залужный А. Г. Дефекты кристаллической структуры Залужный А. Г. Точечные. Имеют атомные размеры во всех трех измерениях. Их размеры во всех направлениях не больше нескольких атомных диаметров. К точечным дефектам относятся:

Подробнее

Лекция 8. Конструкционная прочность материалов. Особенности деформации поликристаллических тел. Наклеп, возврат и рекристаллизация

Лекция 8. Конструкционная прочность материалов. Особенности деформации поликристаллических тел. Наклеп, возврат и рекристаллизация Лекция 8 http://www.supermetalloved.narod.ru Конструкционная прочность материалов. Особенности деформации поликристаллических тел. Наклеп, возврат и рекристаллизация 1. Конструкционная прочность материалов

Подробнее

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ ВЕТВЛЕНИЕ ПОЛОС СДВИГА АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛОВ

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ ВЕТВЛЕНИЕ ПОЛОС СДВИГА АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛОВ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ УДК 548.4 ВЕТВЛЕНИЕ ПОЛОС СДВИГА АМОРФНЫХ МАТЕРИАЛОВ М.Н. ВЕРЕЩАГИН, О.М. ОСТРИКОВ Учреждение образования «Гомельский государственный технический университет имени П.О. Сухого», Республика

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3 МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ СВИНЦОВО-СУРЬМЯНИСТЫХ СПЛАВОВ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3 МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ СВИНЦОВО-СУРЬМЯНИСТЫХ СПЛАВОВ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3 МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ СВИНЦОВО-СУРЬМЯНИСТЫХ СПЛАВОВ Цель работы Ознакомиться с методикой проведения микроструктурного анализа с использованием металлографического микроскопа на

Подробнее

Кристаллические решётки. Дегтярёва М.О. ЛНИП

Кристаллические решётки. Дегтярёва М.О. ЛНИП Кристаллические решётки Дегтярёва М.О. ЛНИП В твердых телах атомы могут размещаться в пространстве двумя способами Беспорядочное расположение атомов, когда они не занимают определенного места друг относительно

Подробнее

«КОЛЕБАНИЯ И ВОЛНЫ» ИНДИВИДУАЛЬНОЕ ЗАДАНИЕ 3. Вариант 1.

«КОЛЕБАНИЯ И ВОЛНЫ» ИНДИВИДУАЛЬНОЕ ЗАДАНИЕ 3. Вариант 1. «КОЛЕБАНИЯ И ВОЛНЫ» ИНДИВИДУАЛЬНОЕ ЗАДАНИЕ 3. Вариант 1. 1. В опыте Юнга на пути одного из лучей поставили трубку, заполненную хлором. При этом вся картина сместилась на 20 полос. Чему равен показатель

Подробнее

Дислокации в кристаллах

Дислокации в кристаллах Дислокации в кристаллах Дислокации были придуманы для объяснения пластической деформации кристаллов. Скольжение этотрансляцияоднойчасти кристалла по отношению к другой без изменения объёма. Трансляция

Подробнее

Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии

Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии УДК 53.086 Исследование границы металлизации микроэлектронных структур с помощью конфокальной микроскопии П.С. Захаров, В.С. Зайончковский, Е.Б. Баскаков КФ МГТУ им. Н.Э. Баумана, г. Калуга, 248600, Россия

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3 МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МЕТАЛЛОВ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3 МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ МЕТАЛЛОВ Содержание 1. Цель работы...4 2. Теоретическая часть.4 2.1. Задачи микроструктурного анализа 4 2.2. Изготовление образцов для микроструктурного анализа.4 2.3. Металлографический микроскоп. 7 2.4. Основные

Подробнее

Лабораторная работа 3 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ С ПОМОЩЬЮ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ

Лабораторная работа 3 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ С ПОМОЩЬЮ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ Лабораторная работа 3 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ С ПОМОЩЬЮ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ Цели работы: Изучение дифракционной решетки как спектрального прибора. В процессе работы необходимо: 1) найти длины волн спектральных

Подробнее

3.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ДЕ БРОЙЛЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОНОГРАММ

3.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ДЕ БРОЙЛЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОНОГРАММ 3.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ДЕ БРОЙЛЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОНОГРАММ Цель работы определение волны де-бройля с помощью электронограмм, полученных при дифракции электронов на кристаллических веществах.

Подробнее

Цель сообщения - моделирование и исследование наиболее общих фундаментальных свойств систем твердое покрытие на податливом основании

Цель сообщения - моделирование и исследование наиболее общих фундаментальных свойств систем твердое покрытие на податливом основании Структурно- механические аспекты деформации полимеров с тонким твердым покрытием Материалы доклада профессора Волынского А.Л. E-mail: Volynskii@mail.ru 939-55-09 Цель сообщения - моделирование и исследование

Подробнее

Рис Перспективное изображение расположения атомов вокруг краевой дислокации в простом кубическом кристалле.

Рис Перспективное изображение расположения атомов вокруг краевой дислокации в простом кубическом кристалле. 6. ЛИНЕЙНЫЕ ДЕФЕКТЫ Линейными дефектами называются несовершенства кристаллической структуры, которые в двух измерениях имеют размеры, близкие к атомным, а в третьем значительно превышают размеры элементарной

Подробнее

Лабораторная работа 4

Лабораторная работа 4 Лабораторная работа 4 ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАДИУСА КРИВИЗНЫ ЛИНЗЫ И ДЛИНЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ ПО КОЛЬЦАМ НЬЮТОНА Цель работы: 1. определить радиус кривизны линзы, используя в качестве эталона зеленую линию спектра ртути

Подробнее

3.ДИФРАКЦИЯ СВЕТА. Рис.3.1

3.ДИФРАКЦИЯ СВЕТА. Рис.3.1 3.ДИФРАКЦИЯ СВЕТА Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. Дифракция,

Подробнее

Вариант 1. Дифракция, поляризация Интерференция Вариант 2. Дифракция, поляризация

Вариант 1. Дифракция, поляризация Интерференция Вариант 2. Дифракция, поляризация Вариант 1. 1. Монохроматический свет длиной волны 0,6мкм падает нормально на диафрагму с отверстием диаметром 6мм. Сколько зон Френеля укладывается в отверстии, если экран расположен в 3м за диафрагмой

Подробнее

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность "Физика" (бакалавриат)

Государственный экзамен по физике Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова Специальность Физика (бакалавриат) Билет 1. 1. Материальное уравнение нелинейной среды. Нелинейная поляризация. Нелинейная восприимчивость. 2. Эффект Черенкова. Циклотронное и синхротронное излучение. 3. Определить доплеровское смещение

Подробнее

Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки

Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки Лабораторная работа 3 Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки ЦЕЛЬ РАБОТЫ Ознакомление с прозрачной дифракционной решеткой, определение длин волн спектра источника света (лампы

Подробнее

Работа 5.2 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА ОДИНОЧНОЙ ЩЕЛИ И ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ

Работа 5.2 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА ОДИНОЧНОЙ ЩЕЛИ И ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ Работа 5. ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА ОДИНОЧНОЙ ЩЕЛИ И ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ Цель работы: 1) наблюдение картины дифракции Фраунгофера от одиночной щели и дифракционной решетки в монохроматическом свете;

Подробнее

Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ. Лекция 3

Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ. Лекция 3 Гуржий В.В., Кривовичев С.В. Введение в КРИСТАЛЛОХИМИЮ и РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ Лекция 3 Интернациональные таблицы по кристаллографии www.iucr.org символ Шенфлиса сингония ТГС проекция пр. гр. размножение

Подробнее

THE NATURE OF PLASTIC DEFORMATION STAGES. ç. Ä. äéçöçä N. A. KONEVA

THE NATURE OF PLASTIC DEFORMATION STAGES. ç. Ä. äéçöçä N. A. KONEVA äóìâ ç.ä., 1998 THE NATURE OF PLASTIC DEFORMATION STAGES N. A. KONEVA One of the basic problems of physics of plasticity and strength concerned with the nature of plastic deformation stages. The dependences

Подробнее

7. Планетарная модель атома

7. Планетарная модель атома 7. Планетарная модель атома В 1911 г. Резерфорд изучал рассеяние α частиц (ядра атомов гелия, состав р+, заряд + е ) тонкими металлическими пленками (~1 мкм). α частицы возникают при радиоактивном распаде

Подробнее

Лабораторная работа ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ СОБИРАЮЩЕЙ И РАССЕИВАЮЩЕЙ ЛИНЗ. Теоретическое введение

Лабораторная работа ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ СОБИРАЮЩЕЙ И РАССЕИВАЮЩЕЙ ЛИНЗ. Теоретическое введение Лабораторная работа ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ СОБИРАЮЩЕЙ И РАССЕИВАЮЩЕЙ ЛИНЗ Теоретическое введение Для описания распространения и взаимодействия электромагнитного излучения с веществом используют

Подробнее

ПРАВИЛА ОФОРМЛЕНИЯ ДОМАШНИХ РАБОТ

ПРАВИЛА ОФОРМЛЕНИЯ ДОМАШНИХ РАБОТ ПРАВИЛА ОФОРМЛЕНИЯ ДОМАШНИХ РАБОТ 1. Домашние работы выполняются каждая в отдельной тетради. 2. На обложке тетради должны быть указаны фамилия, имя и отчество, номер группы, название и номер домашней работы

Подробнее

Л е к ц и я 8 О к и с л е н и е Т е х н о л о г и я и з г о т о в л е н и я п / п п р и б о р о в 21

Л е к ц и я 8 О к и с л е н и е Т е х н о л о г и я и з г о т о в л е н и я п / п п р и б о р о в 21 Л е к ц и я 8 О к и с л е н и е Т е х н о л о г и я и з г о т о в л е н и я п / п п р и б о р о в 21 Лекция 8 ХАРАКТЕРИСТИКИ ОКИСЛА В зависимости от условий выращивания окисла (температуры, давления и

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.02. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА Введение В данной работе предстоит исследовать явления, связанные с поляризацией электромагнитных волн. Волной называют процесс распространения

Подробнее

Лабораторная работа 6.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЕРИОДА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ Цель работы.

Лабораторная работа 6.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЕРИОДА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ Цель работы. Лабораторная работа 6.2 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЕРИОДА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ 6.2.1. Цель работы Целью работы является изучение волновых свойств электронов, знакомство с компьютерной

Подробнее

Лекция 15. Атом во внешнем магнитном поле. Эффект Зеемана. Опыты Штерна и Герлаха

Лекция 15. Атом во внешнем магнитном поле. Эффект Зеемана. Опыты Штерна и Герлаха Лекция 5. Атом во внешнем магнитном поле. Эффект Зеемана. Опыты Штерна и Герлаха Эффект Зеемана Если атомы, излучающие свет, поместить в магнитное поле, то линии, испускаемые этими атомами, расщепляются

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 6 (8) ИЗУЧЕНИЕ ПРОЗРАЧНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЁТКИ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 6 (8) ИЗУЧЕНИЕ ПРОЗРАЧНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЁТКИ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 6 (8) ИЗУЧЕНИЕ ПРОЗРАЧНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЁТКИ Цель работы: Ознакомление с прозрачной дифракционной решёткой определение длин волн красного и зелёного цветов определение дисперсии

Подробнее

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы

4.2. Волновая оптика. Основные законы и формулы 4.. Волновая оптика Основные законы и формулы Абсолютный показатель преломления однородной прозрачной среды n = c / υ, где c скорость света в вакууме, а υ скорость света в среде, значение которой зависит

Подробнее

ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Томский государственный университет Сибирское отделение Российской академии наук ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА Сборник материалов XIV Российской научной студенческой

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 47 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ В ПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ЛУЧАХ (ДИФРАКЦИЯ ФРАУНГОФЕРА)

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 47 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ В ПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ЛУЧАХ (ДИФРАКЦИЯ ФРАУНГОФЕРА) ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 47 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ В ПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ЛУЧАХ (ДИФРАКЦИЯ ФРАУНГОФЕРА) Цель работы наблюдение дифракционной картины при дифракции в параллельных лучах на одной и двух щелях; определение

Подробнее

Трехмерная решетка из параллельно ориентированных нанокластеров теллура в опаловой матрице

Трехмерная решетка из параллельно ориентированных нанокластеров теллура в опаловой матрице 12 августа 05;06;12 Трехмерная решетка из параллельно ориентированных нанокластеров теллура в опаловой матрице В.Н. Богомолов, Л.М. Сорокин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург

Подробнее

j внутри жидкости удовлетворяет уравнению непрерывности: (1)

j внутри жидкости удовлетворяет уравнению непрерывности: (1) Лабораторная работа 3-1 ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИХ ПОЛЕЙ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОЙ ВАННЫ. Цель работы: изучение электростатического поля. Введение. При конструировании электрических электронных

Подробнее

ЭВОЛЮЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ДЕФОРМАЦИИ В ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЯХ ОБРАЗОВ ИЗ НИЗКОЛЕГИРОВАННОЙ СТАЛИ. Томск

ЭВОЛЮЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ДЕФОРМАЦИИ В ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЯХ ОБРАЗОВ ИЗ НИЗКОЛЕГИРОВАННОЙ СТАЛИ. Томск УДК 621.01 Современные проблемы теории машин. 2015. 3 ЭВОЛЮЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ДЕФОРМАЦИИ В ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЯХ ОБРАЗОВ ИЗ НИЗКОЛЕГИРОВАННОЙ СТАЛИ Копаница Д.Г. 1, Устинов А.М. 1, Потекаев А.И.

Подробнее

17.1. Основные понятия и соотношения.

17.1. Основные понятия и соотношения. Тема 7. Волны де Бройля. Соотношения неопределенностей. 7.. Основные понятия и соотношения. Гипотеза Луи де Бройля. Де Бройль выдвинул предложение, что корпускулярно волновая двойственность свойств характерна

Подробнее

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА

9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА 9. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, МАСС- СПЕКТРОМЕТРИЯ, РАССЕЯНИЕ СВЕТА Самый прямой способ определения размеров наночастиц это исследование на просвечивающем электронном микроскопе. Другой способ определения

Подробнее

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МАМИ»

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МАМИ» МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МАМИ» Кафедра физики ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.05 Изучение дифракции Фраунгофера от одной щели Москва 2008 г. 1 ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.05 Изучение дифракции

Подробнее

НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ, ОБУСЛОВЛЕННОЕ ЕДИНИЧНЫМ КЛИНОВИДНЫМ МИКРОДВОЙНИКОМ В ЗЕРНЕ ПОЛИКРИСТАЛЛА С ГЕКСАГОНАЛЬНОЙ СТРУКТУРОЙ

НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ, ОБУСЛОВЛЕННОЕ ЕДИНИЧНЫМ КЛИНОВИДНЫМ МИКРОДВОЙНИКОМ В ЗЕРНЕ ПОЛИКРИСТАЛЛА С ГЕКСАГОНАЛЬНОЙ СТРУКТУРОЙ ОБРАБОТКА КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ УДК 9. НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ ОБУСЛОВЛЕННОЕ ЕДИНИЧНЫМ КЛИНОВИДНЫМ МИКРОДВОЙНИКОМ В ЗЕРНЕ ПОЛИКРИСТАЛЛА С ГЕКСАГОНАЛЬНОЙ СТРУКТУРОЙ Т. В. ДРОБЫШЕВСКАЯ

Подробнее

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка

Оптика. Волновая оптика. Спектральные приборы. Дифракционная решетка Оптика Волновая оптика Спектральные приборы. Дифракционная решетка В состав видимого света входят монохроматические волны с различными значениями длин. В излучении нагретых тел (нить лампы накаливания)

Подробнее

И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru. Система двух линз

И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru. Система двух линз И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru Система двух линз Оптические приборы обычно содержат несколько линз (в объективах современных фотоаппаратов их может быть, например, 10 0). Простейшие системы,

Подробнее

Дефекты кристаллической структуры (точечные дефекты, линейные дефекты)

Дефекты кристаллической структуры (точечные дефекты, линейные дефекты) Дефекты кристаллической структуры (точечные дефекты, линейные дефекты) Дефект по Френкелю (пара Френкеля) точечный дефект, представляющий собой пару, состоящую из вакансии и междоузельного атома (иона).

Подробнее

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКЦИОННЫЙ УВЕЛИЧИТЕЛЬ (ДИФРАКЦИОННАЯ ЛИНЗА-ЛУПА)

РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКЦИОННЫЙ УВЕЛИЧИТЕЛЬ (ДИФРАКЦИОННАЯ ЛИНЗА-ЛУПА) ISSN 0002-306X. Изв. НАН РА и ГИУА. Сер. ТН.. 2003. Т.. LVI, 3. УДК 548.732 МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Г.Р. ДРМЕЯН РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКЦИОННЫЙ УВЕЛИЧИТЕЛЬ (ДИФРАКЦИОННАЯ ЛИНЗА-ЛУПА) ЛУПА) Изготовлена и применена

Подробнее

ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики

ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики Ю. В. Тихомиров ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ по курсу физики С ЭЛЕМЕНТАМИ КОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КВАНТОВАЯ ОПТИКА. АТОМНАЯ ФИЗИКА. ФИЗИКА АТОМНОГО ЯДРА И ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ для студентов всех специальностей

Подробнее

КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1.

КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1. КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА 5 ВАРИАНТ 1. 1. Во сколько раз увеличится расстояние между соседними интерференционными полосами на экране в опыте Юнга, если зеленый светофильтр (λ 1 = 500 нм) заменить красным (λ 2

Подробнее

Тесты к изучению дисциплины для студентов направления очной формы обучения

Тесты к изучению дисциплины для студентов направления очной формы обучения Министерство образования и науки РФ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Нижегородский государственный технический университет им. Р. Е.

Подробнее

Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского. Радиофизический факультет Кафедра электроники. Отчет по лабораторной работе:

Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского. Радиофизический факультет Кафедра электроники. Отчет по лабораторной работе: Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского Радиофизический факультет Кафедра электроники Отчет по лабораторной работе: ДВИЖЕНИЕ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТНЫХ ПОЛЯХ

Подробнее

Экзамен. Циркулярно поляризованный свет или свет круговой поляризации (продолжение).

Экзамен. Циркулярно поляризованный свет или свет круговой поляризации (продолжение). Экзамен. Циркулярно поляризованный свет или свет круговой поляризации (продолжение). e + ie. Квадрат длины вектора равен Найдем длину вектора ( x y) скалярному произведению вектора самого на себя. Скалярное

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ. выполнения соотношения неопределенностей для фотонов.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ. выполнения соотношения неопределенностей для фотонов. 1 ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 4.7 СООТНОШЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЕЙ ДЛЯ ФОТОНОВ Ц е л ь р а б о т ы : экспериментальное подтверждение выполнения соотношения неопределенностей для фотонов. П р и б о р ы и п р и н а

Подробнее

Лекции 7. Проводники с током в магнитном поле. Теорема Гаусса для магнитного поля.

Лекции 7. Проводники с током в магнитном поле. Теорема Гаусса для магнитного поля. Лекции 7. Проводники с током в магнитном поле. Теорема Гаусса для магнитного поля. dl dl df А Закон Ампера. Магнитный момент контура с током. Контур с током в магнитном поле. Поток вектора магнитной индукции.

Подробнее

Краткая теория. l 1. l 2. - n 1

Краткая теория. l 1. l 2. - n 1 Занятие 18 Тема: Интерференция света. Цель: Сложение световых волн. Опыт Юнга. Опыты Френеля и Ллойда. Интерференция света в клиньях и тонких пленках. Кольца Ньютона. Краткая теория Явление интерференции

Подробнее

Методические указания рассмотрены и рекомендованы к изданию методическим семинаром кафедры ММС "05" сентября 2012г.

Методические указания рассмотрены и рекомендованы к изданию методическим семинаром кафедры ММС 05 сентября 2012г. ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ» УТВЕРЖДАЮ Зав.кафедрой

Подробнее

СОПОСТАВЛЕНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА СТАЛЕЙ Р18 И Р6М5 В ОТОЖЖЕННОМ СОСТОЯНИИ. Ю.П. Хараев, А.М. Гурьев, Н.А. Попова, Н.Р. Сизоненко, Э.В.

СОПОСТАВЛЕНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА СТАЛЕЙ Р18 И Р6М5 В ОТОЖЖЕННОМ СОСТОЯНИИ. Ю.П. Хараев, А.М. Гурьев, Н.А. Попова, Н.Р. Сизоненко, Э.В. СОПОСТАВЛЕНИЕ ФАЗОВОГО СОСТАВА СТАЛЕЙ Р18 И Р6М5 В ОТОЖЖЕННОМ СОСТОЯНИИ Ю.П. Хараев, А.М. Гурьев, Н.А. Попова, Н.Р. Сизоненко, Э.В. Козлов Введение Стали Р18 и Р6М5 ведущие стали на рынке производства

Подробнее

3. Гармонический осциллятор, пружинный, физический и математический маятники.

3. Гармонический осциллятор, пружинный, физический и математический маятники. 3 3. Гармонический осциллятор, пружинный, физический и математический маятники. Физический маятник. Физическим маятником называется твёрдое тело, совершающее под действием силы тяжести колебания вокруг

Подробнее

И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru. Система двух линз

И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru. Система двух линз И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru Система двух линз Оптические приборы обычно содержат несколько линз (в объективах современных фотоаппаратов их может быть, например, 10 0). Простейшие системы,

Подробнее

Лабораторная работа 7. Исследование дифракции Фраунгофера в сходящейся волне. Теория

Лабораторная работа 7. Исследование дифракции Фраунгофера в сходящейся волне. Теория Лабораторная работа 7 Исследование дифракции Фраунгофера в сходящейся волне Теория При дифракции плоской световой волны на достаточно больших предметах ( 1 мм) дифракционная картина, согласно /24/, возникает

Подробнее

Поляризация света. Лекция 4.3.

Поляризация света. Лекция 4.3. Поляризация света Лекция 4.3. Поляризация явление выделения линейно поляризованного света из естественного или частично поляризованного. 1. Естественный и поляризованный свет. Закон Малюса Следствием теории

Подробнее

Домашнее задание для студентов 2-го курса (2-й этап) (По программе курса физики на 3 семестра)

Домашнее задание для студентов 2-го курса (2-й этап) (По программе курса физики на 3 семестра) Домашнее задание для студентов 2-го курса (2-й этап) (По программе курса физики на 3 семестра) Дифракция Френеля 1. Вычислить радиусы первых пяти зон Френеля для случая плоской волны. Расстояние от волновой

Подробнее

Лабораторная работа ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА. БИПРИЗМА ФРЕНЕЛЯ.

Лабораторная работа ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА. БИПРИЗМА ФРЕНЕЛЯ. Лабораторная работа ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА. БИПРИЗМА ФРЕНЕЛЯ. Цель работы: изучить интерференцию света на примере опыта с бипризмой Френеля, определить преломляющий угол бипризмы по отклонению луча лазера

Подробнее

Панфилов Пётр Евгеньевич. Курс Физика твердого тела и межфазных границ

Панфилов Пётр Евгеньевич. Курс Физика твердого тела и межфазных границ Панфилов Пётр Евгеньевич Курс Физика твердого тела и межфазных границ 1 Курс Физика твердого тела и межфазных границ Лекция 1 ВВЕДЕНИЕ В ФИЗИКУ ТВЕРДОГО ТЕЛА (2 часа) 2 Содержание курса I Тема 1. Введение

Подробнее

ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ»

Подробнее

ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР

ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР Е.В. Калашников, С.Н. Рачкулик НИИ комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем 188540 г. Сосновый Бор, Ленинградская область т. (81369)49793, E-mail: evk@sbor.net

Подробнее

Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния

Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния Сегодня: вторник, 27 сентября 2016 г. Теоретическая физика Модуль: Физика конденсированного состояния Лекция 5. Движение дислокаций. Механизмы упрочнения металлов доцент КОФ ФТИ ТПУ, к.физ.-мат.н КупрековаЕ.И.

Подробнее

Размеры и форма узлов обратной решетки

Размеры и форма узлов обратной решетки Размеры и форма узлов обратной решетки Размеры и форма узлов обратной решетки Влияние размеров и формы кристалла λ k λ k K K = hb + + () = k k kb lb3 = d K = 00 λ k λ k K 00 Условие Лауэ K = K 00 λ k Размеры

Подробнее