ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии»

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Размер: px
Начинать показ со страницы:

Download "ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии»"

Транскрипт

1 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» Утверждаю 2011 г. ПРОГРАММА учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии» «Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ» Москва 2011 г.

2 1. Цель обучения Обучить основам растровой электронной микроскопии и практическим навыкам работы на растровых электронных микроскопах. 2. Приобретаемые знания, умения, навыки знание: теории взаимодействия электронного пучка с веществом; устройства растрового электронного микроскопа компании; теории формирования изображения в растровом электронном микроскопе; теории рентгеноспектрального анализа в растровой электронной микроскопии; методик пробоподготовки и работы с различными типами образцов. умение: выполнять основные текущие технологические операции при работе на растровых электронных микроскопах; управлять характеристиками изображения в различных режимах; интерпретировать изображения, получаемые от различных детекторов в растровых электронных микроскопах; проводить основные операции по обслуживанию растрового электронного микроскопа. 2

3 3. Объем дисциплины и виды учебной работы (час) Вид учебной работы Всего часов Общая трудоемкость 72 Аудиторные занятия 40 Лекции 18 Семинары 22 Самостоятельная работа 32 Вид итогового контроля Экзамен 4. Содержание учебной дисциплины 4.1. Разделы дисциплины и виды занятий Раздел дисциплины Лекции Семинары СР Общая информация о растровой электронной микроскопии (РЭМ) Интерфейс пользователя микроскопа и получение изображений исследуемых объектов Использование РЭМ для исследования различных материалов Рентгеноспектральный анализ (РСА) в РЭМ Обслуживание растрового электронного микроскопа/работа с образцами заказчика Экзамен 4 3

4 4.2. Содержание лекционного курса ( 18 часов) Раздел 1. Общая информация о растровой электронной микроскопии (РЭМ) (7 часов) 1.1. Введение электронную микроскопию. История развития. Взаимодействия электронов с веществом. Рассеяние электронов. Область взаимодействия электронов: влияние атомного номера, зависимость от энергии пучка, зависимость от угла наклона. Длина пробега электронов. Упругое рассеяние электронов. Отраженные электроны: влияние атомного номера, зависимость от энергии пучка, зависимость от угла наклона, угловое распределение, распределение по энергиям, пространственное распределение, глубина выхода. Неупругое рассеяние электронов. Вторичные электроны: влияние параметров пучка и образца. Рентгеновское излучение. Непрерывное рентгеновское излучение. Характеристическое рентгеновское излучение. Оже- электроны. Катодолюминесценция Колонна электронного микроскопа. Электронная пушка. Термоэлектронная эмиссия. Автоэлектронная эмиссия. Катоды. Электромагнитные линзы: конденсорная линза, объективная линза. Хроматические аберрации. Сферические аберрации. Астигматизм. Стигматоры. Диафрагмы. Электронный зонд. Генераторы развертки. Детекторы излучений. Приставки для сканирующего электронного микроскопа. Вакуумные системы. Камеры образцов. Шлюзование. Низковакуумная сканирующая электронная микроскопия. 1.3 Сканирование электронным пучком. Сканирование вдоль линии. Сканирование по площади. Контраст. Механизмы и природа формирования контрастов. Интерпретация изображений. Детекторы сигналов, их характеристики и влияние на формирование контрастов. Угол детектора по 4

5 отношению к поверхности объекта. Телесный угол детектора. Эффективность преобразования детектора. Наблюдение и сохранение изображений в растровом микроскопе JSM 6610LV. Выбор типа сигналов Пакеты специального программного обеспечения в серийно выпускаемых сканирующих электронных микроскопах и их основные возможности (на примере ПО для JSM 6610LV). Раздел 2. Интерфейс пользователя микроскопа и получение изображений исследуемых объектов (2 часа) 2.1. Описание пользовательского интерфейса: структура основного окна, строка меню, область иконок, область изображения (стандартное живое изображение, двойное изображение, двойное живое изображение, разделенное живое изображение, режим «гибкое окно», смешанное изображение), операционная панель (управление учетными записями, установка образца, рецепты, наблюдение) Настройка параметров изображения: выбор типа сигналов, величины ускоряющего напряжения, размера пятна, настройка яркости и контрастности, фокусировка, выбор частоты сканирования, увеличение изображения. Перемещение поля зрения: перемещение по горизонтальным осям, перемещение в центр изображения, перемещение перетаскиванием, перемещение в вертикальной плоскости, вращение, наклон. (3 часа) Раздел 3. Использование РЭМ для исследования различных материалов 3.1. Особенности работы с образцами из различных материалов. Преимущества и недостатки растровой электронной микроскопии в 5

6 сравнении с другими методами исследования. Изучение металлических материалов и сплавов. Изучение порошков, углеродных нанотрубок, пористых объектов. Одновременное наблюдение мельчайших объектов, сильно отличающихся по размерам. Фрактографические исследования информация о строении излома Пробоподготовка, нанесение покрытий, дегазация Работа в режиме низкого вакуума. Особенности работы с различными агрегатными состояниями исследуемых материалов. Изучение биологических объектов Выбор оптимальных параметров работы: влияние ускоряющего напряжения, влияние размера пятна, влияние покрытий, влияние рабочего расстояния, влияние размера апертуры, влияние наклона образца. 3.5 Специализированные пакеты для обработки результатов исследований в растровых электронных микроскопах и их основные возможности. Автоматизированная обработка изображений, включающая оценку дисперсности среднего размера, протяженности границ, формы и других параметров структуры материалов Раздел 4. Рентгеноспектральный анализ в растровой электронной микроскопии (4 часа) 4.1. Генерация рентгеновского излучения. Понятие микрорентгеноспектрального анализа (или рентгеновского микроанализа). Спектрометрия с волновой дисперсией. Устройство рентгеновского спектрометра с волновой дисперсией. Спектрометрия с энергетической 6

7 дисперсией. Устройство рентгеновского спектрометра с энергетической дисперсией Программное обеспечение рентгеноспектрального анализа. Пакеты специального программного обеспечения в серийно выпускаемых приставках ЭДС для микроскопов и их основные возможности (на примере INCA Energy и приставки X MAX производителя Oxford Instruments ) Анализ химического состава в точке, картирование, количественная оптимизация. Раздел 5. Обслуживание растрового электронного микроскопа (2 часа) 5.1. Профилактичекие и регламентные работы Повседневный уход: юстировка пушки. Настройка апертурной диафрагмы, коррекция астигматизма Обслуживание: замена катода и чистка Венельта, замена масла, замена диафрагмы объективной линзы. 7

8 4.3. Перечень тем практических занятий (22 часа) Наименование Кол-во часов 1 Структура микроскопа JSM 6610LV. Запуск и остановка прибора. Установка и смена образца. Действия в чрезвычайных обстоятельствах. 2 Описание пользовательского интерфейса микроскопа: структура программы, окна и меню, возможности и функции 3 Настройка параметров изображения: выбор типа сигналов, величины ускоряющего напряжения, размера пятна, настройка яркости и контрастности, фокусировка, выбор частоты сканирования, увеличение изображения. Перемещение поля зрения: перемещение по горизонтальным осям, перемещение в центр изображения, перемещение перетаскиванием, перемещение в вертикальной плоскости, вращение, наклон. 4-5 Работа с образцом. Настройка яркости-контраста, фокуса-астигматизма. 6 Изучение металлических материалов и сплавов. Изучение порошков, углеродных нанотрубок, пористых объектов. Исследование изломов Работа в режиме низкого вакуума Подбор оптимальных параметров работы. Обработка результатов исследований Программное обеспечение INCA x-act для РСА Анализ в точке, картирование, квантовая оптимизация. 13 Обслуживание микроскопа JSM 6610LV/работа с образцами заказчика. Предотвращение аварийных ситуаций

9 4.4. Перечень тем семинарских занятий Программой курса семинарские занятия не предусмотрены 4.5. Перечень тем лабораторных занятий Лабораторные занятия данной программой не предусмотрены 5. Учебно-методическое обеспечение дисциплины 5.1. Рекомендуемая литература 1. Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984, книги 1,2. 6. Материально-техническое обеспечение дисциплины (указывается специализированные лаборатории и классы, основные установки и стенды) 1. Специализированный компьютерный класс для проведения компьютерных практических занятий. 2. Растровый электронный микроскоп JEOL JSM 6610LV. 7. Методические рекомендации по организации изучения дисциплины Обучение организуется в соответствии с настоящей программой. 8. График проведения контрольных мероприятий На последнем занятии курса проводится контрольное мероприятие по всем разделам курса. 9

10 Программа составлена в соответствии с требованиями производителя электронных микроскопов JEOL Inc. и требованиями Государственных образовательных стандартов. Автор программы С.В. Скородумов 10

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления Кафедра «Физика» ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Методическое указание для студентов,

Подробнее

Изучение микро- и нанообъектров с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Изучение микро- и нанообъектров с помощью сканирующего электронного микроскопа. Изучение микро- и нанообъектров с помощью сканирующего электронного микроскопа. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА Н.Р. Григорьева, Р.В. Григорьев, Б.В. Новиков Электронные микроскопы, как и обычные оптические микроскопы,

Подробнее

Научно Образовательный Центр «Функциональные Наноматериалы» БФУ им. И. Канта

Научно Образовательный Центр «Функциональные Наноматериалы» БФУ им. И. Канта Научно Образовательный Центр «Функциональные Наноматериалы» БФУ им. И. Канта Методическое пособие для выполнения лабораторных работ «Проведение аналитических исследований на сканирующем электронном микроскопе

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные

Подробнее

Расчет и автоматизация проектирования оптических систем. Работа с программой САРО

Расчет и автоматизация проектирования оптических систем. Работа с программой САРО Расчет и автоматизация проектирования оптических систем Работа с программой Начало работы с программой Считывание системы из архива: При входе в программу загружается новая оптическая система, для создания

Подробнее

Лекция 1. Растровая электронная микроскопия.

Лекция 1. Растровая электронная микроскопия. Лекция 1. Растровая электронная микроскопия. Предмет электронной растровой микроскопии. Устройство растровых микроскопов. Распечатать лекцию Приступая к описанию предмета электронной микроскопии, остановимся

Подробнее

МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ)

МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ) Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ) ФАКУЛЬТЕТ ФИЗИЧЕСКОЙ И КВАНТОВОЙ

Подробнее

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м)

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м) Лекция 3. ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ВЕЩЕСТВОМ Взаимодействия электронов с веществом. Упругое и неупругое рассеяние электронов. Отраженные электроны: влияние атомного номера, зависимость от энергии пучка,

Подробнее

РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ВВЕДЕНИЕ Принципиально идея построения электронного микроскопа была сформулирована в 1935 году М.Кнолем (идея оптического сканирующего микроскопа была ранее высказана

Подробнее

Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии.

Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии. ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при ФТИ им. А.Ф. Иоффе Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии. Методические указания

Подробнее

Таблица 5.1. Соотношения значений паспортных разрешений приборов в сравнении с их практически достигаемым разрешением при анализе реальных объектов.

Таблица 5.1. Соотношения значений паспортных разрешений приборов в сравнении с их практически достигаемым разрешением при анализе реальных объектов. 5. Подготовка образцов для исследования на РЭМ В рамках предыдущих лекций 1-4 были рассмотрены теоретические основы работы растровых электронных микроскопов. В настоящая лекция будет посвящена исключительно

Подробнее

Тема: Оптическая и электронная микроскопия

Тема: Оптическая и электронная микроскопия Тема: Оптическая и электронная микроскопия Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко Способность глаза различать мелкие детали предмета зависит от размеров изображения предмета на сетчатке или от угла зрения

Подробнее

ПУЧКОВО - ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ ДЛЯ СОЗДАНИЯ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВ МИКРО - И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ. Часть 2-я

ПУЧКОВО - ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ ДЛЯ СОЗДАНИЯ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВ МИКРО - И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ. Часть 2-я С.Ю. Удовиченко ПУЧКОВО - ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ ДЛЯ СОЗДАНИЯ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВ МИКРО - И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ Часть 2-я РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ Федеральное государственное

Подробнее

Оборудование для микроскопии и микроанализа компании JEOL

Оборудование для микроскопии и микроанализа компании JEOL www.element - msc.ru Оборудование для микроскопии и микроанализа компании JEOL Оже-микроанализ Растровая электронная микроскопия Просвечивающая микроскопия Электронно-зондовый микроанализ Компания Элемент

Подробнее

Сведения о документе

Сведения о документе 2 3 Сведения о документе Разработан: Учреждение Российской Академии Наук Институт физики твердого тела РАН Старший научный сотрудник Лаборатории структурных исследований, к.ф.-м.н. Д. В. Матвеев Старший

Подробнее

Описание лабораторной работы

Описание лабораторной работы ЦКП Материаловедение и диагностика в передовых технологиях при ФТИ им.а.ф.иоффе ПРОВЕДЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ЛИТОГРАФИИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ Описание лабораторной работы Санкт-Петербург

Подробнее

«Электронная микроскопия и электронная литография»

«Электронная микроскопия и электронная литография» 1 Фоминский М.Ю. 1, н.с. «Электронная микроскопия и электронная литография» НОЦ ИРЭ РАН Общий вид установки электронно-лучевой литографии Raith e-line. Система электронной литографии объединяет в себе

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ 1. Цель работы 1.1. Освоить методику определения плотности дислокаций по точкам выхода и методом секущих.

Подробнее

РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ НА СПЕКТРОМЕТРАХ С ВОЛНОВОЙ ДИСПЕРСИЕЙ

РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ НА СПЕКТРОМЕТРАХ С ВОЛНОВОЙ ДИСПЕРСИЕЙ ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при ФТИ им. А.Ф. Иоффе РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ НА СПЕКТРОМЕТРАХ С ВОЛНОВОЙ ДИСПЕРСИЕЙ Методические указания к выполнению лабораторной

Подробнее

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при ФТИ им. А.Ф. Иоффе ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА Сведенья о методах рентгеноспектрального микроанализа Оглавление:

Подробнее

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд РАМ-30µ Гемологические исследования жемчуга Существует три вида жемчуга: природный натуральный (дикий); культивированный натуральный; искусственный

Подробнее

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография»

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Теоретические основы электронно-лучевой литографии Введение Литография это метод получения заданной структуры на поверхности с использованием

Подробнее

Калибровочный источник ионов. А. Колмогоров, В. И. Давыденко, А. А. Иванов, П. Усов, К. Юшкова A. Smirnov, R. Clary

Калибровочный источник ионов. А. Колмогоров, В. И. Давыденко, А. А. Иванов, П. Усов, К. Юшкова A. Smirnov, R. Clary Калибровочный источник ионов А. Колмогоров, В. И. Давыденко, А. А. Иванов, П. Усов, К. Юшкова A. Smirnov, R. Clary Содержание Прототип источника Технические требования Выбор элементов источника Моделирование

Подробнее

Лекция 1. Взаимодействие ускоренных электронов с веществом

Лекция 1. Взаимодействие ускоренных электронов с веществом Лекция 1. Взаимодействие ускоренных электронов с веществом Приступая к описанию предмета электронной микроскопии, остановимся кратко на истоках этого метода, без которого немыслимо современное научное

Подробнее

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени М. В. ЛОМОНОСОВА ФАКУЛЬТЕТ НАУК О МАТЕРИАЛАХ МЕТОДИЧЕСКАЯ РАЗРАБОТКА МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ к.х.н. ст.преподаватель А.Л.Винокуров,

Подробнее

ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ.

ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ. ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ. К. Золотарев ИЯФ СО РАН им. Г.И. Будкера Принципы РФА В 1913 в серии блестящих экспериментов

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 143 ИЗУЧЕНИЕ СЛОЖЕНИЯ ВЗАИМНО ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЫХ КОЛЕБАНИЙ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОННОГО ОСЦИЛЛОГРАФА

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 143 ИЗУЧЕНИЕ СЛОЖЕНИЯ ВЗАИМНО ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЫХ КОЛЕБАНИЙ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОННОГО ОСЦИЛЛОГРАФА ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 43 ИЗУЧЕНИЕ СЛОЖЕНИЯ ВЗАИМНО ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЫХ КОЛЕБАНИЙ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОННОГО ОСЦИЛЛОГРАФА Цель и содержание работы Целью работы является изучение сложения взаимно перпендикулярных

Подробнее

МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ) ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАМПЫ БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ (УВ-1)

МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ) ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАМПЫ БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ (УВ-1) МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ) ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА ИССЛЕДОВАНИЕ ЛАМПЫ БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ (УВ-1) Утверждено на заседании каф. 405 31.08.06 (Протокол 1) как учебно-методическое

Подробнее

Рисунки к автоэмиссии.

Рисунки к автоэмиссии. Рисунки к автоэмиссии. Функции Нордгейма... 2 Электронный полевой микроскоп-проектор... 3 Ионный полевой микроскоп-проектор... 4 Оптический томографический атомный зонд... 5 Вольфрамовые одиночные острия...

Подробнее

ИЗМЕРЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ ЛИНЗ И ОБЪЕКТИВОВ

ИЗМЕРЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ ЛИНЗ И ОБЪЕКТИВОВ Лабораторная работа 4 ИЗМЕРЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ ЛИНЗ И ОБЪЕКТИВОВ ВВЕДЕНИЕ Разрешающей способностью оптической системы называется способность системы изображать раздельно две точки или две линии,

Подробнее

Рабочая программа Ф СО ПГУ /06. Министерство образования и науки Республики Казахстан

Рабочая программа Ф СО ПГУ /06. Министерство образования и науки Республики Казахстан программа Ф СО ПГУ 7.18.2/06 Министерство образования и науки Республики Казахстан Павлодарский государственный университет им. С. Торайгырова Кафедра общей и теоритической физики РАБОЧАЯ ПРОГРАММА дисциплины

Подробнее

УДК: 53.086 А.С. Гончаров, М.С. Ковалев, А.Б. Соломашенко, А.С. Кузнецов ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ МИКРООПТИЧЕСКИХ И ДИФРАКЦИОННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ С ПОМОЩЬЮ ТЕХНОЛОГИИ КОРРЕЛЯЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ SHUTTLE AND FIND

Подробнее

Далее рассмотрим примеры применения метода деления амплитуды для наблюдения интерференции.

Далее рассмотрим примеры применения метода деления амплитуды для наблюдения интерференции. Экзамен. Получение интерференции методом деления амплитуды. Есть два и только два способа (метода) получения интерференции. При этом для нелазерного источника света излучение одного светового цуга одного

Подробнее

1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине

1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине 1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине 1.1. Вид деятельности выпускника Дисциплина охватывает круг вопросов, относящихся к виду деятельности выпускника: научно-исследовательской. 1.2. Задачи профессиональной

Подробнее

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Модель NS-3000 представляет собой высокоскоростной лазерный конфокальный сканирующий микроскоп,

Подробнее

1.1. Пояснительная записка

1.1. Пояснительная записка 1.1. Пояснительная записка Данная дисциплина входит в базовую составляющую профессионального цикла подготовки бакалавров по направлению подготовки «Наноинженерия» (квалификация (степень) «бакалавр»). Курс

Подробнее

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ Лекции для студентов 3-го курса дневного отделения химического факультета ННГУ им. Н.И. Лобачевского Лекция 20. Сканирующая зондовая микроскопия Лектор: д.х.н., профессор

Подробнее

2.18. ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА ИЗ ВОЛЬФРАМА

2.18. ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА ИЗ ВОЛЬФРАМА Лабораторная работа.8. ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА ИЗ ВОЛЬФРАМА Цель работы: построение и изучение вольтамперной характеристики вакуумного диода; исследование зависимости плотности тока насыщения

Подробнее

Возможности просвечивающей электронной микроскопии в исследовании структуры материалов

Возможности просвечивающей электронной микроскопии в исследовании структуры материалов Возможности просвечивающей электронной микроскопии в исследовании структуры материалов Артем Абакумов Центр по электрохимическому хранению энергии, Сколтех Химический факультет, МГУ им. М.В.Ломоносова

Подробнее

Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова Области применения и физические основы метода ЭММППК

Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова Области применения и физические основы метода ЭММППК Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова 11.1. Области применения и физические основы метода ЭММППК ЭММППК применяется для решения следующих задач: 1. Поиск

Подробнее

М И Н О Б Р Н А У К И Р О С С И И. Кафедра нанотехнологий и инженерной физики. Метрологическое обеспечение нанотехнологий

М И Н О Б Р Н А У К И Р О С С И И. Кафедра нанотехнологий и инженерной физики. Метрологическое обеспечение нанотехнологий М И Н О Б Р Н А У К И Р О С С И И Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Юго-Западный государственный университет» (ЮЗГУ) Кафедра нанотехнологий и инженерной

Подробнее

Физика конденсированного состояния

Физика конденсированного состояния МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова Физический факультет УТВЕРЖДАЮ Проректор по развитию образования Е.В.Сапир " " 2012 г. Рабочая

Подробнее

2. рассмотреть основные методы обработки металлов и нанесения на их поверхность металлических

2. рассмотреть основные методы обработки металлов и нанесения на их поверхность металлических 1. Цели и задачи дисциплины: Цель: приобретение навыков работы с газообразными веществами, содержащимися в атмосфере и ознакомление с методами обработки металлов и нанесения на них металлических покрытий.

Подробнее

УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW

УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW УЧЕБНЫЙ КУРС ПО СИСТЕМАМ ТЕХНИЧЕСКОГО ЗРЕНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММНОЙ СРЕДЫ LABVIEW С. Р. Горгуца, П. М. Михеев, А.С.Соболев, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Физический факультет

Подробнее

НАНОСТРУКТУРЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ

НАНОСТРУКТУРЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ» Физический факультет Кафедра общей и теоретической

Подробнее

МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ УДК 623.574 Д.И. Левинзон, профессор, д.т.н. МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ Классический приватный университет, г. Запорожье Розроблено алгоритм методики

Подробнее

Билеты к экзамену по курсу "Атомная физика" (2 поток, 2014) Билет 1. Билет 2. Билет 3. Билет 4

Билеты к экзамену по курсу Атомная физика (2 поток, 2014) Билет 1. Билет 2. Билет 3. Билет 4 Билеты к экзамену по курсу "Атомная физика" (2 поток, 2014) Билет 1 1. Равновесное электромагнитное излучение. Формула Планка. Закон Стефана- Больцмана. Закон смещения Вина. 2. Уравнение Шредингера с центрально-симметричным

Подробнее

l min min d 0 l min = λ f D 0

l min min d 0 l min = λ f D 0 Московский физико-технический институт (государственный университет) Цель работы: изучение дифракционного предела разрешения объектива микроскопа. В работе используются: лазер; кассета с набором сеток

Подробнее

Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины Цели изучения дисциплины Задачи дисциплины: Место дисциплины в структуре

Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины Цели изучения дисциплины Задачи дисциплины: Место дисциплины в структуре Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины... 4 1.1. Цели изучения дисциплины... 4 1.2. Задачи дисциплины:... 4 2. Место дисциплины в структуре ООП ВПО магистратуре:... 4 2.1. Структурный элемент

Подробнее

2.Пояснительная записка.

2.Пояснительная записка. 2.Пояснительная записка. Программа соответствует Федеральному компоненту государственного стандарта основного общего образования по физике (приказ Минобразования России от 05.03.2004 1089 «Об утверждении

Подробнее

Высокоэффективные нагреватели воды

Высокоэффективные нагреватели воды Высокоэффективные нагреватели воды Фролов Александр Владимирович http://alexfrolov.narod.ru Задача в целом выглядит, как получение максимального нагрева рабочего тела (теплового выхода) при минимальных

Подробнее

Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор)

Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор) Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор) Как отмечалось в Первой информации «Неразрушающий контроль - важнейшая технологическая операция определения качества продукции» в соответствии

Подробнее

ФИЗИКА. для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР

ФИЗИКА. для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР ФИЗИКА для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР Модуль 1 Таблица 1 Виды аудиторных занятий и самостоятельной работы Сроки проведения или выполнения, недели

Подробнее

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран

ВВЕДЕНИЕ. Рис. 1. Схема хода лучей при дифракции от дифракционной решетки: 1 дифракционная решетка; 2 линза; 3 экран 3 Цель работы: ознакомиться с отражательной дифракционной решеткой. Задача: определить с помощью дифракционной решетки и гониометра длины волн линий спектра ртутной лампы и угловую дисперсию решеткит Приборы

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА Общий физический практикум

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА Общий физический практикум МИНОБРНАУКИ РОССИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Иркутский государственный университет» (ФГБОУ ВПО «ИГУ») Физический факультет

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ. Методы и средства измерений, испытаний и контроля

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ. Методы и средства измерений, испытаний и контроля МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «ТОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ» (ТУСУР)

Подробнее

ИЗДЕЛИЯ МЕДИЦИНСКИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ. Системы универсальные рентгенографические цифровые Технические требования для государственных закупок

ИЗДЕЛИЯ МЕДИЦИНСКИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ. Системы универсальные рентгенографические цифровые Технические требования для государственных закупок ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т Р О С С И Й С К О Й Ф Е Д Е Р А Ц И И ГОСТ Р (проект, первая редакция) ИЗДЕЛИЯ МЕДИЦИНСКИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ

Подробнее

1 Цели и задачи дисциплины. 2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины

1 Цели и задачи дисциплины. 2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины 1 Цели и задачи дисциплины 1.1 Приобретение знаний и навыков, необходимых для создания двух- и трехмерных параметрических геометрических модели деталей с использованием компьютерной техники. 1.2 Получение

Подробнее

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ И ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ И ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ (ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ) Кафедра физического материаловедения Векилова Г.В., Иванов А.Н. КРИСТАЛЛОГРАФИЯ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ И ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

Подробнее

ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД. Верхотуров А.О., Еремеева А.А.

ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД. Верхотуров А.О., Еремеева А.А. ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД Верхотуров А.О., Еремеева А.А. Современная оптика, сильно изменившаяся после появления лазеров

Подробнее

ЕН.Р.03. Физика конденсированного состояния

ЕН.Р.03. Физика конденсированного состояния Министерство образования и науки Российской Федерации Гoсударственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Санкт-Петербургский государственный университет» физический факультет

Подробнее

Раздел 1 Перечень планируемых результатов обучения по дисциплине

Раздел 1 Перечень планируемых результатов обучения по дисциплине Рабочая программа учебной дисциплины составлена для обучающихся по основной образовательной программе КФ МГТУ им. Н.Э. Баумана: Шифр направления/ специальности Индекс выпускающей кафедры Наименование направления

Подробнее

О программе Altami Studio

О программе Altami Studio О программе Программа флагманский программный продукт компании «Альтами». Программа предназначена для захвата, исследования и обработки изображений. Задача программы помочь пользователю проанализировать

Подробнее

ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КОМПЛЕКСНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ УСТАНОВКАХ, ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ АППАРАТАХ И СООРУЖЕНИЯХ

ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КОМПЛЕКСНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ УСТАНОВКАХ, ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ АППАРАТАХ И СООРУЖЕНИЯХ ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КОМПЛЕКСНЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ УСТАНОВКАХ, ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ АППАРАТАХ И СООРУЖЕНИЯХ При разработке и проектировании различных технологических установок,

Подробнее

ИЗУЧЕНИЕ СВОЙСТВ ЗРЕНИЯ

ИЗУЧЕНИЕ СВОЙСТВ ЗРЕНИЯ Лабораторная работа 1 ИЗУЧЕНИЕ СВОЙСТВ ЗРЕНИЯ Цель работы - изучение свойств зрения и исследование поля зрения с помощью кампиметрического метода. Зрение является для человека основным источником сведений

Подробнее

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Электронная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия Известные нам принципы физики не запрещают создавать объекты «атом за атомом». < > Практические

Подробнее

Необычные возможности программы ФемтоСкан

Необычные возможности программы ФемтоСкан Необычные возможности программы ФемтоСкан Советы и рекомендации Выпуск 004 Использование Фурье-фильтрации в АСМ Недавно в практикуме, который проходит в нашей лаборатории на физическом факультете МГУ,

Подробнее

Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга

Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга Ярославский государственный педагогический университет им. К. Д. Ушинского Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга Ярославль 2005 Оглавление 1. Краткая теория........................... 3

Подробнее

Определение разрешающей способности микроскопа и глаза

Определение разрешающей способности микроскопа и глаза Ярославский государственный педагогический университет им. К. Д. Ушинского Лабораторная работа 1 Определение разрешающей способности микроскопа и глаза Ярославль 013 Оглавление 1. Вопросы для подготовки

Подробнее

Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда

Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда I II III Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда Цель работы Теоретическая часть 1 Введение 2 Рассеяние α -частиц 3 Дифференциальное сечение рассеяния 4 Формула Резерфорда Экспериментальная часть 1 Методика

Подробнее

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. НИУ ѕбелгородский государственный университетї Инженерно-физический факультет

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. НИУ ѕбелгородский государственный университетї Инженерно-физический факультет МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ НИУ ѕбелгородский государственный университетї Инженерно-физический факультет Рабочая программа дисциплины Экспериментальная физика процессов взаимодействия

Подробнее

ИЗМЕРЕНИЕ СКОРОСТИ СВЕТА

ИЗМЕРЕНИЕ СКОРОСТИ СВЕТА Кафедра экспериментальной физики СПбГПУ, Работа 3.6 ИЗМЕРЕНИЕ СКОРОСТИ СВЕТА ВВЕДЕНИЕ М. Ю. Липовская Ю. П. Яшин Скорость света является одной из основных констант нашего мира и определяет предельную скорость

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ Б.2.В.ОД.3 Общий физический практикум

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ Б.2.В.ОД.3 Общий физический практикум МИНОБРНАУКИ РОССИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ «ВОРОНЕЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ» (ФГБОУ ВПО «ВГУ») УТВЕРЖДАЮ Заведующий

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА. 1.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА. 1. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА 1. Цель работы Целью настоящей работы является изучение линейчатых спектров атомов,

Подробнее

Геометрия камеры. Many slides adopted from Alexei Efros, Richard Szeliski, Marc Pollefeys and Steve Seitz

Геометрия камеры. Many slides adopted from Alexei Efros, Richard Szeliski, Marc Pollefeys and Steve Seitz Геометрия камеры Many slides adopted from Alexei Efros, Richard Szeliski, Marc Pollefeys and Steve Seitz На прошлой лекции Стандартная основа видеонаблюдения д Вычитание фона Схема метода: Построить модель

Подробнее

«Ввод излучения в световод» методические указания к лабораторной работе 2

«Ввод излучения в световод» методические указания к лабораторной работе 2 Министерство образования и науки Российской Федерации Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ

Подробнее

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ГОСТ Р (ПРОЕКТ, ПЕРВАЯ РЕДАКЦИЯ) Государственная система обеспечения единства измерений МИКРОСКОПЫ

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ЕН.Р.2 ЕСТЕСТВЕННОНАУЧНЫЕ ОСНОВЫ ВЫСОКИХ ТЕХНОЛОГИЙ

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ЕН.Р.2 ЕСТЕСТВЕННОНАУЧНЫЕ ОСНОВЫ ВЫСОКИХ ТЕХНОЛОГИЙ РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ЕН.Р.2 ЕСТЕСТВЕННОНАУЧНЫЕ ОСНОВЫ ВЫСОКИХ ТЕХНОЛОГИЙ основной образовательной программы высшего образования программы специалитета Специальность: 100101.65 Сервис Специализация: Сервис

Подробнее

МАГНИТНЫЙ ГРУППИРОВАТЕЛЬ УСКОРИТЕЛЯ УЭЛВ-10-10-Т-1 ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ФЛУОРЕСЦЕНЦИИ И РАДИАЦИОННО- ФИЗИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ

МАГНИТНЫЙ ГРУППИРОВАТЕЛЬ УСКОРИТЕЛЯ УЭЛВ-10-10-Т-1 ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ФЛУОРЕСЦЕНЦИИ И РАДИАЦИОННО- ФИЗИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ МАГНИТНЫЙ ГРУППИРОВАТЕЛЬ УСКОРИТЕЛЯ УЭЛВ-10-10-Т-1 ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ФЛУОРЕСЦЕНЦИИ И РАДИАЦИОННО- ФИЗИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ Ю.С. Павлов, Доброхотов В.В., Павлов В.А, Непомнящий О.Н., Даниличев В.А., Ускоритель

Подробнее

МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ

МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ А.В. Правдивцев, П.С. Игнатьев, К.В Индукаев, П.А. Осипов ООО «Лаборатории АМФОРА» avp@amphoralabs.ru +7 (495) 940-1909 В работе рассматриваются

Подробнее

ПРОБЛЕМЫ СОЗДАНИЯ АДАПТИВНОГО ЗЕРКАЛА

ПРОБЛЕМЫ СОЗДАНИЯ АДАПТИВНОГО ЗЕРКАЛА В.А. Зверев С.А. Родионов и М.Н. Сокольский. Проблемы создания адаптивного зеркала. ПРОБЛЕМЫ СОЗДАНИЯ АДАПТИВНОГО ЗЕРКАЛА В. А. Зверев С. А. Родионов и М. Н. Сокольский ВВЕДЕНИЕ В последнее время большое

Подробнее

Калибровка камеры в программе Levenhuk ToupView

Калибровка камеры в программе Levenhuk ToupView Калибровка камеры в программе Levenhuk ToupView 1. Запустите установочный файл Levenhuk ToupView. Следуя инструкциям на экране, установите программу на компьютер. 2. Запустите программу Levenhuk ToupView,

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ Лабораторный практикум по экспериментальным методам механики

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ Лабораторный практикум по экспериментальным методам механики ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ» Механико-математический факультет Кафедра механики

Подробнее

за курс класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год

за курс класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год Вопросы к промежуточной аттестации по физике за курс 10-11 класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год 1.Основные понятия кинематики. 2.Равномерное и равноускоренное

Подробнее

СОДЕРЖАНИЕ. стр. 1. ПАСПОРТ ПРОГРАММЫ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 4 2. СТРУКТУРА И СОДЕРЖАНИЕ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 6

СОДЕРЖАНИЕ. стр. 1. ПАСПОРТ ПРОГРАММЫ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 4 2. СТРУКТУРА И СОДЕРЖАНИЕ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 6 СОДЕРЖАНИЕ стр. 1. ПАСПОРТ ПРОГРАММЫ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 4 2. СТРУКТУРА И СОДЕРЖАНИЕ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 6 3. УСЛОВИЯ РЕАЛИЗАЦИИ ПРОГРАММЫ УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЫ 10 4. КОНТРОЛЬ И ОЦЕНКА РЕЗУЛЬТАТОВ ОСВОЕНИЯ

Подробнее

Лабораторная работа 2.7 Изучение электронного осциллографа См. также с.119 «Практикума»

Лабораторная работа 2.7 Изучение электронного осциллографа См. также с.119 «Практикума» Лабораторная работа 2.7 Изучение электронного осциллографа См. также с.119 «Практикума» 1 Экспериментальные задачи, поставленные в работе: - калибровка осциллографа, - наблюдение одиночных электрических

Подробнее

Министерство образования и науки Российской Федерации

Министерство образования и науки Российской Федерации Министерство образования и науки Российской Федерации ПРОГРАММА-МИНИМУМ кандидатского экзамена по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы по техническим и физико-математическим

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ В ХИМИИ

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ В ХИМИИ МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ» Факультет Химический Кафедра

Подробнее

Цель и задачи дисциплины 1.1 Цель дисциплины 1.2 Задачи дисциплины Воспитательные цели Воспитательный аспект при изучении дисциплины

Цель и задачи дисциплины 1.1 Цель дисциплины 1.2 Задачи дисциплины Воспитательные цели Воспитательный аспект при изучении дисциплины 16/-/-/- (час) 2 Цель и задачи дисциплины 1.1 Цель дисциплины Дисциплина «Методика научных исследований» относится к циклу гуманитарных и социально-экономических и имеет целью дать знания и умения о методах

Подробнее

Теоретическое введение

Теоретическое введение УДК 535.41 Методические заметки ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ СВЕТА ПРИ ОТРАЖЕНИИ ОТ ТОНКИХ ПЛАСТИНОК И ПЛЕНОК Е.К.Наими Институт Базового Образования НИТУ «МИСиС», кафедра физики E-mail: e.aimi@mail.ru Рассмотрены возможные

Подробнее

атомов Ваша лаборатория, насколько я знаю, одна из самых молодых в Курчатовском

атомов Ваша лаборатория, насколько я знаю, одна из самых молодых в Курчатовском 34 www.sci-ru.org в мире науkи [10] октябрь 2013 До мельчайших атомов Человек существо визуальное. Большую часть информации мы получаем с помощью зрения, обозревая предметы. Некоторые из них еще совсем

Подробнее

Применение современных ИК-Фурье спектрометров Nicolet и приставок для анализа полимеров (журнал «Пластические массы, 3, 2007»

Применение современных ИК-Фурье спектрометров Nicolet и приставок для анализа полимеров (журнал «Пластические массы, 3, 2007» Применение современных ИК-Фурье спектрометров Nicolet и приставок для анализа полимеров (журнал «Пластические массы, 3, 2007» История компании Компания Nicolet, расположенная в столице штата Висконсин

Подробнее

ГЕНЕРАЦИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ДВИЖУЩИМИСЯ НЕМАГНИТНЫМИ ПРОВОДНИКАМИ Сокол-Кутыловский О.Л.

ГЕНЕРАЦИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ДВИЖУЩИМИСЯ НЕМАГНИТНЫМИ ПРОВОДНИКАМИ Сокол-Кутыловский О.Л. ГЕНЕРАЦИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ДВИЖУЩИМИСЯ НЕМАГНИТНЫМИ ПРОВОДНИКАМИ Сокол-Кутыловский О.Л. Известно, что постоянное магнитное поле возникает вокруг равномерно движущихся электрически заряженных частиц, например,

Подробнее

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный

Подробнее

Лабораторный практикум ОПТИКА

Лабораторный практикум ОПТИКА Лабораторный практикум по ФИЗИКЕ ОПТИКА Задача 136 Изучение дифракционной решетки и определение длины световой волны + + а) б) ϕ m,max () ϕ m,max (+ ) ϕ m ϕ m МОСКВА 011 1 Изучение дифракционной решетки

Подробнее

Волновые свойства микрочастиц. Уравнение де Бройля

Волновые свойства микрочастиц. Уравнение де Бройля Лекция 5, часть 1. Элементы квантовой механики Волновые и корпускулярные свойства света В 1905 году А. Эйнштейн объяснил явление фотоэффекта, предположив, что свет состоит из частиц, выбивающих из металла

Подробнее

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. Томский государственный университет. Факультет прикладной математики и кибернетики

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. Томский государственный университет. Факультет прикладной математики и кибернетики МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики УТВЕРЖДАЮ Декан факультета прикладной математики и кибернетики, профессор

Подробнее

1. ПОЯСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА

1. ПОЯСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА 1. ПОЯСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА Цель преподавания дисциплины дать сведения о системах автоматизации и управления энергоснабжением, принципах их построения, элементной базе, методах проектирования и эксплуатации

Подробнее

Программное обеспечение TerioStation для инженерных систем и плоттеров Seiko

Программное обеспечение TerioStation для инженерных систем и плоттеров Seiko Программное обеспечение TerioStation для инженерных систем и плоттеров Seiko Введение Программное обеспечение TerioStation поставляется стандартно с инженерными системами и плоттерами Seiko LP-2050 / LP-1030

Подробнее