Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Размер: px
Начинать показ со страницы:

Download "Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР"

Транскрипт

1 Курс лекций ФИЗИКА НАНОСТРУКТУР Лекция 2: Методы диагностики, обладающие нано-масштабным пространственным разрешением: просвечивающая электронная микроскопия, зондовые методы диагностики (сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, оптическаяспектроскопия сиспользованием зонда).

2 Лекция 2: Сканирующая зондовая микроскопия Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ), объединяет широкий спектр современных методов исследования поверхности. Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) - Нобелевская премия 1986 года (Бинниг и Рорер) qпрямая визуализация поверхностной реконструкции; qманипуляция отдельными атомами; qисследование локального влияния поверхностных дефектов на зонную структуру образца; qизучение биологических и органических материалов, в частности: визуализация отдельных молекул ДНК, прямое измерение сил взаимодействия комплементарных нуклеотидов, визуализация в реальном масштабе времени процессов взаимодействия ДНК с белками

3 Лекция 2: Сканирующая зондовая микроскопия Основные принципы сканирующей зондовой микроскопии Общей чертой всех СЗМ является наличие микроскопического зонда, который приводится в контакт (не всегда речь идет о механическом контакте) с исследуемой поверхностью и, в процессе сканирования, перемещается по некоторому участку поверхности заданного размера. Контакт зонда иобразца подразумевает их взаимодействие. Природа этого выбранного взаимодействия иопределяет принадлежность прибора ктому или иному типу врамках семейства зондовых микроскопов. Информация оповерхности извлекается путем фиксации (при помощи системы обратной связи) или детектирования взаимодействия зонда и образца. В туннельном микроскопе это взаимодействие проявляется в протекании постоянного тока в туннельном контакте. В основе атомно-силовой микроскопии лежит взаимодействие зонда и образца с силами притяжения или отталкивания. Существуют такие разновидности зондовых микроскопов, как магнитно-силовой микроскоп (зонд иобразец взаимодействуют смагнитными силами), микроскоп ближнего поля (оптические свойства образца детектируются через миниатюрную диафрагму, находящуюся в ближней зоне источника фотонов), поляризационный силовой микроскоп (с образцом взаимодействует проводящий заряженный зонд) ит.д. Миниатюрные размеры зонда ивысокая чувствительность детектирующей системы зондовых микроскопов позволяет достигать нано- исубнанометрового пространственного разрешения при детектировании поверхностных свойств (разрешающая способность прибора, как правило, тем выше, чем более короткодействующий характер имеет взаимодействие зонда иобразца.)

4 Лекция 2: Сканирующая зондовая микроскопия Общие принципы работы сканирующего зондового микроскопа Процесс сканирования осуществляется при помощи пьезокерамического манипулятора. Зонд движется последовательно, строка за строкой, вдоль поверхности (изменяются координаты X и Y). Положениеиглы в плоскости XY описывается двумя координатами X i, и Y j. Результатом работы сканирующего зондового микроскопа является установление соответствия междукаждой парой координат {X i,y j } инекоторым числовым значением, характеризующиманализируемыйпараметрповерхности. Поспособудвиженияиглынадповерхностьюможнопровестиследующую дифференциациюработысзм. q Сканирование по способу постоянной высоты: зонд движется над поверхностью при постоянной координате Z. В этом случае в каждой точке {X i,y j } измеряется интенсивность рабочего взаимодействия F ij Z=const. Результатом исследования является массив {F ij Z=const,X i,y j }, описывающий зависимость функции двух переменных F Z=const (X,Y). q Сканирование по способу постоянного взаимодействия: системаобратнойсвязи фиксирует на заданном уровне величину рабочего взаимодействия A(X,Y,Z) вариацией вертикальной Z координаты зонда. Результатом работы СЗМ будет массив {Z ij A=const,X i,y j }, коррелирующий с топографией исследуемой поверхности. Таким образом, результатом СЗМ-исследования является получение функциональных зависимостей двух типов: по способу постоянной высоты: F Z=const (X, Y) и по способу постоянного взаимодействия: Z A=const (X,Y) (``топография''). Следует учитывать отличие ``топографического'' массива, полученного врежиме постоянного взаимодействия: {Z ij A=const,X i,y j } от реальной топографии поверхности. Вслучае неоднородного распределения поверхностных свойств, определяющих интенсивность взаимодействия зонда иобразца, для извлечения точной информации о топографии объекта необходимо в каждой точке проводить дополнительный анализ взаимодействиязондаиобразца.

5 Лекция 2: Сканирующий туннельный микроскоп Только проводящие материалы!

6 Лекция 2: Сканирующий туннельный микроскоп ВСТМ взаимодействие зонда иповерхности проявляется впротекании постоянного тока втуннельном зазоре между ними. Для плотности туннельного тока справедлива формула: (3.1) (3.1) z высота иглы относительно образца; U разностьпотенциалов на туннельном контакте; φ высота потенциального барьера; I t экспоненциально зависит от величины туннельного промежутка иименно это свойство позволяет достичь столь высокого разрешения туннельной микроскопии. При изменении расстояния зонд-образец z на один ангстрем величина туннельного тока изменяется на порядок. Поскольку величина взаимодействия зонд-образец столь существенно зависитот расстояния z, то это позволяет системе обратной связи поддерживать величину z постоянной в процессе сканирования с высокой точностью. Данное обстоятельство обуславливает высокое пространственное разрешение СТМ при определении ``топографической'' функции Z It=const (X,Y).

7 Лекция 1: Сканирующий туннельный микроскоп Методика Особенности Стандартная Получение изображения рельефа (Следует иметь в виду, что врежиме СТМ картина рельефа поверхности по сути дела определяется условиями возникновения туннельного тока, величина которого является функцией не только расстояния, но и электронных свойств поверхности) проводящей поверхности или картины распределения туннельного тока при постоянной высоте иглы. Литография локальное воздействие на поверхность импульсами напряжения. Служит для изменения рельефа, физических и химических свойств проводящих поверхностей или пленок на поверхности.

8 Лекция 2: Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующая Туннельная Спектроскопия (СТС) Измерение локальной высоты потенциального барьера измерение вольтамперных характеристик взаданных точках поверхности или регистрация распределения по поверхности величины di/du, содержащей информацию о локальной спектральной плотности электронных состояний. Прибор можно запрограммировать на снятие кривых I-U в каждой точке области и из собранных данных получить трехмерную картину электронной структуры области. Все указанные методы предназначены для зондирования локальной электронной структуры поверхности сиспользованием СТМ измерение зависимости I(z) туннельного тока от величины туннельного зазора или регистрация распределения по поверхности величины di/dz, содержащей информацию о локальной высоте потенциального барьера (локальной работе выхода электронов)

9 Лекция 2: Сканирующий туннельный микроскоп Некоторые ограничения в методе СТС: 1. СТС чувствительна только к электронным состояниям, которые локализованы в вакуумном промежутке между иглой иповерхностью. СТС фиксирует только часть волновых функций электронов, распространяющихся в вакуум на несколько ангстрем. 2. СТС, так же как и другая подобная техника (например, фотоэлектронная спектроскопия), зависит от так называемых правил отбора правил перехода электронов из одного состояния в другое. Это определяет величину туннельного тока. 3. СТС несет информацию, искаженную влиянием самой иглы, так как плотности электронных состояний поверхности иострия иглы перекрываются. Это заметно, когда игла очень острая. Вэтом случае распределение ее собственной плотности состояний имеет особенности, которые трудно учесть при анализе полученных результатов. Именно поэтому иглу часто затупляют. 4. Серьезное ограничение метода СТМ истс втом, что сих помощью затруднительно производить анализ элементного состава вхимическом соединении или сплаве. В отличие от известных методов, например рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии или оже-спектроскопии, позволяющих анализировать остовные электронные уровни, СТМ дает возможность анализировать плотность состояний лишь ввалентной зоне. Ввалентной зоне сплавов исоединений по сравнению с таковыми учистых элементов, входящих всостав сплава, происходят, как правило, столь сильные изменения, что получить информацию осоставе невозможно.

10 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп В атомно-силовом микроскопе взаимодействие является силовым взаимодействием зонда и образца. Обобщенная геометрия зонда атомносилового микроскопа а) h -высота зонда, R-радиус кривизны кончика, d -расстояние между зондом и образцом. Типичные параметры: h 3 15 мкм, R 5 40 нм, α ;

11 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп Баланс силового взаимодействия зонда и образца Притяжение Ван-дер-Ваальса ρ 1 и ρ 2 - плотности материалов зонда и образца, β - константа в законе Лондона для энергии дисперсионного взаимодействия двух нейтральных атомов в вакууме: U = β/ r 6 ; A (0,4 4) Дж. F ВдВ Н Результат сканирования в контактном режиме Контактный режим

12 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп

13 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп

14 Лекция 2: АСМ Ещё одна модификация АСМ, активно используемая внастоящее время - АСМрезонансного типа (tapping mode). Вэтой схеме дополнительный пьезоэлемент возбуждает вынужденные колебания консоли на его резонансной частоте (вдали от поверхности образца). При сближении зонда и образца возникновение дополнительного градиента сил их взаимодействия приводит ксдвигу резонансной частоты (изменению эффективной жесткости) и частичному выходу системы из резонанса, что уменьшает амплитуду колебаний. Cantilever - консоль При сканировании АСМ в резонансном режиме система обратной связи поддерживает на заданном уровне величину амплитуды колебаний. В силу высокой чувствительности амплитуды колебаний к среднему значению расстояния между зондом и образцом, можно получать информацию отопографии поверхности сдостаточно высоким пространственным разрешением.

15 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп

16 Лекция 2: Атомный силовой микроскоп.

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ В ХИМИИ Лекции для студентов 3-го курса дневного отделения химического факультета ННГУ им. Н.И. Лобачевского Лекция 20. Сканирующая зондовая микроскопия Лектор: д.х.н., профессор

Подробнее

МАТЕРИАЛЫ НАНОТЕХНОЛОГИЙ В ПОЛИГРАФИИ

МАТЕРИАЛЫ НАНОТЕХНОЛОГИЙ В ПОЛИГРАФИИ Министерство образования и науки Российской Федерации федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный университет печати

Подробнее

3. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме

3. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме Содержание 3. Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме Содержание 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ В НЕКОНТАКТНОМ

Подробнее

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур

Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Лекция 5 Методы исследования и получения наноструктур Электронная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия Известные нам принципы физики не запрещают создавать объекты «атом за атомом». < > Практические

Подробнее

Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии

Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Тольяттинский государственный университет» Нагорнов Ю.С., Ясников

Подробнее

Методические указания МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Методические указания МИНОБРНАУКИ РОССИИ УДК 539 В-191 МИНОБРНАУКИ РОССИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ МЭИ А. Д. Баринов, К.

Подробнее

Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии

Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ» А.Ю. Годымчук, Э.C. Двилис УДК 620.18(075.8)

Подробнее

ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ СОВРЕМЕННОЙ ОПТИКИ

ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ СОВРЕМЕННОЙ ОПТИКИ ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ СОВРЕМЕННОЙ ОПТИКИ О.А.Коновалова, В.В.Грушин, А.В.Маркеева, М.Х.Салахов Казанский (Приволжский) федеральный университет,

Подробнее

NanoEducator. Ó åáíîå ïîñîáèå. Áàçîâûé ïðèáîð äëÿ íàó íîîáðàçîâàòåëüíîãî ïðîöåññà â îáëàñòè íàíîòåõíîëîãèè

NanoEducator. Ó åáíîå ïîñîáèå. Áàçîâûé ïðèáîð äëÿ íàó íîîáðàçîâàòåëüíîãî ïðîöåññà â îáëàñòè íàíîòåõíîëîãèè NanoEducator ìîäåëü ÑÇÌÓ-Ë5 Áàçîâûé ïðèáîð äëÿ íàó íîîáðàçîâàòåëüíîãî ïðîöåññà â îáëàñòè íàíîòåõíîëîãèè Ó åáíîå ïîñîáèå Ðîññèÿ, 124460, Ìîñêâà, ÍÈÈÔÏ, ÇÀÎ ÍÒ-ÌÄÒ ò.: +7(095) 535-03-05 ô.: +7(095) 535-64-10

Подробнее

Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно - силовой микроскопии.

Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно - силовой микроскопии. Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского УДК 621.921.34 Д.А. Усанов, Р.К. Яфаров Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно - силовой

Подробнее

Учреждение российской академии наук Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН. Карташев Всеволод Владимирович

Учреждение российской академии наук Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН. Карташев Всеволод Владимирович Учреждение российской академии наук Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН На правах рукописи Карташев Всеволод Владимирович АЛГОРИТМИЧЕСКОЕ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ КОМПЛЕКСОВ ДЛЯ ЗОНДОВОЙ

Подробнее

P и вектор электрического поля E направлены вдоль оси X. Тогда, обозначая d = d 33 и d

P и вектор электрического поля E направлены вдоль оси X. Тогда, обозначая d = d 33 и d Материалы Международной научно-технической конференции, 3 7 декабря 2012 г. МОСКВА INTERMATIC 2 0 1 2, часть 4 МИРЭА ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СКАНИРУЮЩИЕЭЛЕМЕНТЫ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ И НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ

Подробнее

Физика конденсированного состояния

Физика конденсированного состояния МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова Физический факультет УТВЕРЖДАЮ Проректор по развитию образования Е.В.Сапир " " 2012 г. Рабочая

Подробнее

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии»

ПРОГРАММА. учебного курса повышения квалификации УНЦ «Международная школа микроскопии» Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» Утверждаю 2011 г. ПРОГРАММА учебного

Подробнее

Трибоспектроскопическое исследование пары сталь сталь 1. Введение.

Трибоспектроскопическое исследование пары сталь сталь 1. Введение. 12 апреля 01;05 Трибоспектроскопическое исследование пары сталь сталь В.Л. Попов, Я. Старчевич Берлинский технический университет, Германия Поступило в Редакцию 22 ноября 2004 г. Экспериментально исследована

Подробнее

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени М. В. ЛОМОНОСОВА ФАКУЛЬТЕТ НАУК О МАТЕРИАЛАХ МЕТОДИЧЕСКАЯ РАЗРАБОТКА МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЕЩЕСТВ В НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОМ СОСТОЯНИИ к.х.н. ст.преподаватель А.Л.Винокуров,

Подробнее

«Приборы и методы зондовой микроскопии»

«Приборы и методы зондовой микроскопии» Московский физико-технический институт Учебное пособие «Приборы и методы зондовой микроскопии» Е.Г. Дедкова, А.А Чуприк, И.И. Бобринецкий, В. К. Неволин Москва 2011 УДК 53.086 ISBN 978-5-8493-0218-8 Учебное

Подробнее

Тема: Оптическая и электронная микроскопия

Тема: Оптическая и электронная микроскопия Тема: Оптическая и электронная микроскопия Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко Способность глаза различать мелкие детали предмета зависит от размеров изображения предмета на сетчатке или от угла зрения

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 ИЗУЧЕНИЕ ДИСЛОКАЦИОННОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛА МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ 1. Цель работы 1.1. Освоить методику определения плотности дислокаций по точкам выхода и методом секущих.

Подробнее

Рабочая программа Ф СО ПГУ /06. Министерство образования и науки Республики Казахстан

Рабочая программа Ф СО ПГУ /06. Министерство образования и науки Республики Казахстан программа Ф СО ПГУ 7.18.2/06 Министерство образования и науки Республики Казахстан Павлодарский государственный университет им. С. Торайгырова Кафедра общей и теоритической физики РАБОЧАЯ ПРОГРАММА дисциплины

Подробнее

ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД. Верхотуров А.О., Еремеева А.А.

ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД. Верхотуров А.О., Еремеева А.А. ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ВОЛНЫ В ОПТИКЕ. ВОЗБУЖДЕНИЕ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНА НА ГРАНИЦЕ РАЗДЕЛА ДВУХ СРЕД Верхотуров А.О., Еремеева А.А. Современная оптика, сильно изменившаяся после появления лазеров

Подробнее

1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине

1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине 1. Информация из ФГОС, относящаяся к дисциплине 1.1. Вид деятельности выпускника Дисциплина охватывает круг вопросов, относящихся к виду деятельности выпускника: научно-исследовательской. 1.2. Задачи профессиональной

Подробнее

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м)

Табл. 1- Характеристика электронных волн Энергия, кэв. Длина волны, пм (10-12 м) Лекция 3. ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОНОВ С ВЕЩЕСТВОМ Взаимодействия электронов с веществом. Упругое и неупругое рассеяние электронов. Отраженные электроны: влияние атомного номера, зависимость от энергии пучка,

Подробнее

Ó åáíîå ïîñîáèå äëÿ ñòóäåíòîâ ñòàðøèõ êóðñîâ âûñøèõ ó åáíûõ çàâåäåíèé. ñêàíèðóþùåé çîíäîâîé ìèêðîñêîïèè

Ó åáíîå ïîñîáèå äëÿ ñòóäåíòîâ ñòàðøèõ êóðñîâ âûñøèõ ó åáíûõ çàâåäåíèé. ñêàíèðóþùåé çîíäîâîé ìèêðîñêîïèè Â.Ë. Ìèðîíîâ Ó åáíîå ïîñîáèå äëÿ ñòóäåíòîâ ñòàðøèõ êóðñîâ âûñøèõ ó åáíûõ çàâåäåíèé ÎÑÍÎÂÛ ñêàíèðóþùåé çîíäîâîé ìèêðîñêîïèè ÐÎÑÑÈÉÑÊÀß ÀÊÀÄÅÌÈß ÍÀÓÊ ÈÍÑÒÈÒÓÒ ÔÈÇÈÊÈ ÌÈÊÐÎÑÒÐÓÊÒÓÐ ã. Íèæíèé Íîâãîðîä 4 ã.

Подробнее

МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ

МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ А.В. Правдивцев, П.С. Игнатьев, К.В Индукаев, П.А. Осипов ООО «Лаборатории АМФОРА» avp@amphoralabs.ru +7 (495) 940-1909 В работе рассматриваются

Подробнее

за курс класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год

за курс класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год Вопросы к промежуточной аттестации по физике за курс 10-11 класс Учебники : «Физика-10», «Физика-11» Г.Я. Мякишев, Б.Б. Буховцев,2014 год 1.Основные понятия кинематики. 2.Равномерное и равноускоренное

Подробнее

Тема: Электромагнитные волны (ЭМВ)

Тема: Электромагнитные волны (ЭМВ) Тема: Электромагнитные волны (ЭМВ) Авторы: А.А. Кягова, А.Я. Потапенко Примеры ЭМВ: 1. Радиоволны I. Введение 2. Инфракрасное излучение 3. Видимый свет 1 4. Ультрафиолетовое излучение 5. Рентгеновское

Подробнее

ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2005, N1, с 48-53

ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2005, N1, с 48-53 ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2005, N1, с 48-53 УДК 576.3.314 ИССЛЕДОВАНИЕ РАЗЛИЧИЙ МОРФОЛОГИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КЛЕТОК КРОВИ ЧЕЛОВЕКА МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ

Подробнее

Измерение механических свойств материалов с нанометровым

Измерение механических свойств материалов с нанометровым к о н т р о л ь и и з м е р е н и я C.Усеинов, В.Соловьев, К.Гоголинский, А.Усеинов, Н.Львова useinov@mail.ru ИЗМЕРЕНИЕ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ С НАНОМЕТРОВЫМ ПРОСТРАНСТВЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ Измерение

Подробнее

Лабораторная работа. Цель работы. излучения с поверхностью металлической пленки исследование оптических

Лабораторная работа. Цель работы. излучения с поверхностью металлической пленки исследование оптических Лабораторная работа ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ПОСТОЯННЫХ ТОНКИХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК МЕТОДОМ ПЛАЗМОННОГО РЕЗОНАНСА Кононов М.А. Наими Е.К. Компьютерная модель «Оптические свойства металлических пленок» в

Подробнее

МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ)

МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ) Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ) ФАКУЛЬТЕТ ФИЗИЧЕСКОЙ И КВАНТОВОЙ

Подробнее

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. Н.Э. БАУМАНА

МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. Н.Э. БАУМАНА МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. Н.Э. БАУМАНА Учебное пособие С.Д. КАРПУХИН, Ю.А. БЫКОВ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Под редакцией Ю.А. Быкова Рекомендовано редсоветом МГТУ им. Н.Э.

Подробнее

Рабочая программа по физике 11 класс (2 часа)

Рабочая программа по физике 11 класс (2 часа) Рабочая программа по физике 11 класс (2 часа) 2013-2014 учебный год Пояснительная записка Рабочая общеобразовательная программа «Физика.11 класс. Базовый уровень» составлена на основе Примерной программы

Подробнее

Глава 2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ И НАНОСИСТЕМ

Глава 2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ И НАНОСИСТЕМ Глава 2 МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ И НАНОСИСТЕМ Среди разнообразных методов исследования наноматериалов и наносистем особый интерес представляют такие, которые позволяют выявлять индивидуальные

Подробнее

Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда

Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда I II III Лабораторная работа 18 Опыт Резерфорда Цель работы Теоретическая часть 1 Введение 2 Рассеяние α -частиц 3 Дифференциальное сечение рассеяния 4 Формула Резерфорда Экспериментальная часть 1 Методика

Подробнее

Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов

Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов УДК 539.1 Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов Е.В. Смирнов МГТУ им. Н.Э. Баумана, Москва, 105005, Россия Статья посвящена анализу приборов нанотехнологий и тех физических явлений, которые

Подробнее

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ

МИКРОСКОПЫ СКАНИРУЮЩИЕ ЗОНДОВЫЕ АТОМНО-СИЛОВЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ГОСТ Р (ПРОЕКТ, ПЕРВАЯ РЕДАКЦИЯ) Государственная система обеспечения единства измерений МИКРОСКОПЫ

Подробнее

Примерная программа выполнения экспериментов на специализированном учебно-научном оборудовании для бакалавров

Примерная программа выполнения экспериментов на специализированном учебно-научном оборудовании для бакалавров Министерство образования и науки Российской федерации Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический

Подробнее

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) был изобретен в 1986

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) был изобретен в 1986 оптические устройства и системы А.Сушко sushko@polly.phys.msu.ru АТОМНО-СИЛОВЫЕ МИКРОСКОПЫ: ПРОБЛЕМа ВЫБОРА Атомно-силовой микроскоп (АСМ) был изобретен в 1986 году физиками компании IBM: Биннигом, Квейтом

Подробнее

ФИЗИКА. для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР

ФИЗИКА. для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР ФИЗИКА для студентов кафедр ИУ3, ИУ4, ИУ5, ИУ6, ИУ7, РК 6, РЛ6, МТ4, МТ8, МТ11, СМ13 3 СЕМЕСТР Модуль 1 Таблица 1 Виды аудиторных занятий и самостоятельной работы Сроки проведения или выполнения, недели

Подробнее

Атомно силовая микроскопия (АСМ)

Атомно силовая микроскопия (АСМ) Атомно силовая микроскопия (АСМ) Лабораторные работы для студентов кафедр ФТН и ФТТ факультета ФОПФ МФТИ. Содержание. 1.Цель экспериментальной работы. 2. Задачи. 3. Описание прибора. 3.1. Принцип работы

Подробнее

использовать знания о механических явлениях в повседневной жизни:для обеспечения безопасности при обращении с приборами и техническими устройствами,

использовать знания о механических явлениях в повседневной жизни:для обеспечения безопасности при обращении с приборами и техническими устройствами, 12.5.13. Физика Механические явления распознавать механические явления и объяснять на основе имеющихся знаний основные свойства или условия протекания этих явлений: равномерное и равноускоренное прямолинейное

Подробнее

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга

НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ. Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд. Гемологические исследования жемчуга НАУЧНЫЕ ПРИБОРЫ Рентгенофлуоресцентный микроскоп-микрозонд РАМ-30µ Гемологические исследования жемчуга Существует три вида жемчуга: природный натуральный (дикий); культивированный натуральный; искусственный

Подробнее

Н. П. Корнышев. Другим направлением совершенствования ТСС является

Н. П. Корнышев. Другим направлением совершенствования ТСС является Н. П. Корнышев НОВЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ ТЕЛЕВИЗИОННЫХ СПЕКТРАЛЬНЫХ СИСТЕМ Телевизионные спектральные системы (ТСС) предназначаются для проведения технико-технологических исследований документов и обеспечивают

Подробнее

АТОМНО-МАСШТАБНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ ЯДЕРНОЙ ТЕХНИКИ

АТОМНО-МАСШТАБНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ ЯДЕРНОЙ ТЕХНИКИ НИЦ «Курчатовский институт» ФГБУ «Государственный научный Центр Российской Федерации - Институт теоретической и экспериментальной физики» АТОМНО-МАСШТАБНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ ЯДЕРНОЙ

Подробнее

Билеты к экзамену по курсу "Атомная физика" (2 поток, 2014) Билет 1. Билет 2. Билет 3. Билет 4

Билеты к экзамену по курсу Атомная физика (2 поток, 2014) Билет 1. Билет 2. Билет 3. Билет 4 Билеты к экзамену по курсу "Атомная физика" (2 поток, 2014) Билет 1 1. Равновесное электромагнитное излучение. Формула Планка. Закон Стефана- Больцмана. Закон смещения Вина. 2. Уравнение Шредингера с центрально-симметричным

Подробнее

Министерство образования Российской Федерации ГОУ ВПО УГТУ-УПИ. Кафедра физики

Министерство образования Российской Федерации ГОУ ВПО УГТУ-УПИ. Кафедра физики Министерство образования Российской Федерации ГОУ ВПО УГТУ-УПИ Кафедра физики ИНДИВИДУАЛЬНОЕ ДОМАШНЕЕ ЗАДАНИЕ ПО ФИЗИКЕ ТЕМА: КВАНТОВАЯ МЕХАНИКА МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ И ЗАДАНИЯ АВТОРЫ: ПЛЕТНЕВА Е.Д. ВАТОЛИНА

Подробнее

Аналогично можно вычислить энергии отдельных орбиталей. Например, энергия 1S-орбитали определяется из выражения:

Аналогично можно вычислить энергии отдельных орбиталей. Например, энергия 1S-орбитали определяется из выражения: Лекция 7 Свойства водородоподобного атома 7 Энергия атомных орбиталей В соответствии с постулатами квантовой механики знание полной волновой функции системы позволяет вычислять ее свойства Рассмотрим вычисление

Подробнее

Генкин Б.И. Элементы содержания, проверяемые на ЕГЭ по физике. Пособие для повторения учебного материала. Санкт-Петербург:

Генкин Б.И. Элементы содержания, проверяемые на ЕГЭ по физике. Пособие для повторения учебного материала. Санкт-Петербург: Генкин Б.И. Элементы содержания, проверяемые на ЕГЭ по физике. Пособие для повторения учебного материала. Санкт-Петербург: http://audto-um.u, 013 3.1 ЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ ПОЛЕ 3.1.1 Электризация тел Электрический

Подробнее

Лекц ия 20 Действие магнитного поля на проводник с током и на движущийся заряд

Лекц ия 20 Действие магнитного поля на проводник с током и на движущийся заряд Лекц ия 0 Действие магнитного поля на проводник с током и на движущийся заряд Вопросы. Сила Ампера. Сила взаимодействия параллельных токов. Контур с током в магнитном поле. Магнитный момент тока. Действие

Подробнее

Необычные возможности программы ФемтоСкан

Необычные возможности программы ФемтоСкан Необычные возможности программы ФемтоСкан Советы и рекомендации Выпуск 004 Использование Фурье-фильтрации в АСМ Недавно в практикуме, который проходит в нашей лаборатории на физическом факультете МГУ,

Подробнее

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ УФИМСКИЙ НАУЧНЫЙ ЦЕНТР РАН. Карамов Данфис Данисович АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ СУБМИКРОННЫХ ПЛЕНОК

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ УФИМСКИЙ НАУЧНЫЙ ЦЕНТР РАН. Карамов Данфис Данисович АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ СУБМИКРОННЫХ ПЛЕНОК ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ УФИМСКИЙ НАУЧНЫЙ ЦЕНТР РАН На правах рукописи Карамов Данфис Данисович АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ СУБМИКРОННЫХ ПЛЕНОК ПОЛИДИФЕНИЛЕНФТАЛИДА 01.04.07 Физика

Подробнее

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА. Предмет физика Класс 9. Количество часов по учебному плану 68ч в год, 2ч в неделю

РАБОЧАЯ ПРОГРАММА. Предмет физика Класс 9. Количество часов по учебному плану 68ч в год, 2ч в неделю Муниципальное бюджетное общеобразовательное учреждение «Школа 41 «Гармония» с углубленным изучением отдельных предметов» городского округа Самара РАБОЧАЯ ПРОГРАММА Предмет физика Класс 9 Количество часов

Подробнее

Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга

Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга Ярославский государственный педагогический университет им. К. Д. Ушинского Лабораторная работа 5 Определение постоянной Ридберга Ярославль 2005 Оглавление 1. Краткая теория........................... 3

Подробнее

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000

Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Высокоскоростной лазерный конфокальный микроскоп NS-3000 Модель NS-3000 представляет собой высокоскоростной лазерный конфокальный сканирующий микроскоп,

Подробнее

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ

ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Восточно-Сибирский государственный университет технологий и управления Кафедра «Физика» ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ Методическое указание для студентов,

Подробнее

Определение емкости конденсатора методом периодической зарядки и разрядки

Определение емкости конденсатора методом периодической зарядки и разрядки Федеральное агентство по образованию РФ Ухтинский государственный технический университет 26 Определение емкости конденсатора методом периодической зарядки и разрядки Методические указания к лабораторной

Подробнее

2.Пояснительная записка.

2.Пояснительная записка. 2.Пояснительная записка. Программа соответствует Федеральному компоненту государственного стандарта основного общего образования по физике (приказ Минобразования России от 05.03.2004 1089 «Об утверждении

Подробнее

Рабочая программа по физике для 11 класса

Рабочая программа по физике для 11 класса Средняя общеобразовательная школа с углубленным изучением иностранного языка при Посольстве России в Великобритании СОГЛАСОВАНО на заседании МС (Зубов С.Ю.) «10» сентября 2014 УТВЕРЖДАЮ директор школы

Подробнее

Самый точный атомно-силовой микроскоп. Park XE15. Мощность и универсальность в идеальном сочетании.

Самый точный атомно-силовой микроскоп. Park XE15. Мощность и универсальность в идеальном сочетании. Самый точный атомно-силовой микроскоп Park XE15 Мощность и универсальность в идеальном сочетании www.parkafm.com Park XE15 Повышение продуктивности с помощью нашего мощного универсального атомно-силового

Подробнее

03;11. PACS: Ps

03;11.   PACS: Ps 26 апреля 03;11 Измерение модуля Юнга биологических объектов в жидкой среде с помощью специального зонда атомно-силового микроскопа Д.В. Лебедев, А.П. Чукланов, А.А. Бухараев, О.С. Дружинина Казанский

Подробнее

Правительство Российской Федерации. Факультет БИЗНЕС-ИНФОРМАТИКИ Отделение ПРИКЛАДНОЙ МАТЕМАТИКИ И ИНФОРМАТИКИ. Программа дисциплины Физика

Правительство Российской Федерации. Факультет БИЗНЕС-ИНФОРМАТИКИ Отделение ПРИКЛАДНОЙ МАТЕМАТИКИ И ИНФОРМАТИКИ. Программа дисциплины Физика Правительство Российской Федерации Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»

Подробнее

Создание профильного распределения концентрации рекомбинационных центров при электронном облучении кремния

Создание профильного распределения концентрации рекомбинационных центров при электронном облучении кремния 12 мая 06.2;10 Создание профильного распределения концентрации рекомбинационных центров при электронном облучении кремния И.В. Грехов, Л.С. Костина, В.В. Козловский, В.Н. Ломасов, А.В. Рожков Физико-технический

Подробнее

УДК: 53.086 А.С. Гончаров, М.С. Ковалев, А.Б. Соломашенко, А.С. Кузнецов ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ МИКРООПТИЧЕСКИХ И ДИФРАКЦИОННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ С ПОМОЩЬЮ ТЕХНОЛОГИИ КОРРЕЛЯЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ SHUTTLE AND FIND

Подробнее

QUANTUM WELLS, WIRES AND DOTS. Ç. ü. ÑÖåàïéÇëäàâ çëêâ ÓappleÓ ÒÍËÈ ÓÒÛ appleòú ÂÌÌ È ÛÌË ÂappleÒËÚÂÚ ËÏ. ç.à. ãó  ÒÍÓ Ó. V. Ya.

QUANTUM WELLS, WIRES AND DOTS. Ç. ü. ÑÖåàïéÇëäàâ çëêâ ÓappleÓ ÒÍËÈ ÓÒÛ appleòú ÂÌÌ È ÛÌË ÂappleÒËÚÂÚ ËÏ. ç.à. ãó  ÒÍÓ Ó. V. Ya. ÑÂÏËıÓ ÒÍËÈ Ç.ü., 1997 QUANTUM WELLS, WIRES AND DOTS V. Ya. DEMIKHOVSKII Eletrons in mirosopi semiondutor strutures an display astounding quantum behavior. This strutures, namely, quantum wells, wires

Подробнее

Теория ошибок и обработка результатов эксперимента

Теория ошибок и обработка результатов эксперимента Теория ошибок и обработка результатов эксперимента Содержание 1. Классификация и типы ошибок. 2. Прямые и косвенные измерения. 3. Случайные измерения и ошибки. 3.1. Понятие вероятности случайной величины.

Подробнее

Рисунки к автоэмиссии.

Рисунки к автоэмиссии. Рисунки к автоэмиссии. Функции Нордгейма... 2 Электронный полевой микроскоп-проектор... 3 Ионный полевой микроскоп-проектор... 4 Оптический томографический атомный зонд... 5 Вольфрамовые одиночные острия...

Подробнее

Пример 1. Два точечных заряда = 1 нкл и q = 2 нкл находятся на расстоянии d = 10 см друг от

Пример 1. Два точечных заряда = 1 нкл и q = 2 нкл находятся на расстоянии d = 10 см друг от Примеры решения задач к практическому занятию по темам «Электростатика» «Электроемкость Конденсаторы» Приведенные примеры решения задач помогут уяснить физический смысл законов и явлений способствуют закреплению

Подробнее

Лабораторная работа N2 «Температурная зависимость электропроводности

Лабораторная работа N2 «Температурная зависимость электропроводности Лабораторная работа «Температурная зависимость электропроводности полупроводников» Цель работы:. Экспериментально определить температурную зависимость электропроводности германия.. По данным эксперимента

Подробнее

Интерференция волн. Сложение колебаний. И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru

Интерференция волн. Сложение колебаний. И. В. Яковлев Материалы по физике MathUs.ru И. В. Яковлев Материалы по физике MthUs.ru Темы кодификатора ЕГЭ: интерференция света. Интерференция волн В предыдущем листке, посвящённом принципу Гюйгенса, мы говорили о том, что общая картина волнового

Подробнее

Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова Области применения и физические основы метода ЭММППК

Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова Области применения и физические основы метода ЭММППК Глава 11. Электромагнитный метод поиска подземных коммуникаций (ЭММППК) С.В. Иванова 11.1. Области применения и физические основы метода ЭММППК ЭММППК применяется для решения следующих задач: 1. Поиск

Подробнее

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА. 1.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА. 1. ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 3.08 ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ АТОМОВ РТУТИ И НЕОНА, ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭКРАНИРОВАННОГО ЗАРЯДА ЯДРА АТОМА НЕОНА 1. Цель работы Целью настоящей работы является изучение линейчатых спектров атомов,

Подробнее

Park NX-PTR. Самый точный атомно-силовой микроскоп. Полностью автоматический АСМ для точной метрологии слайдеров жестких дисков прямо на производстве

Park NX-PTR. Самый точный атомно-силовой микроскоп. Полностью автоматический АСМ для точной метрологии слайдеров жестких дисков прямо на производстве Самый точный атомно-силовой микроскоп Park NX-PTR Полностью автоматический АСМ для точной метрологии слайдеров жестких дисков прямо на производстве www.parkafm.com Park Systems Самый точный атомно-силовой

Подробнее

КАРТА СХЕМА ПРОРАБОТКИ ТЕМЫ ЯВЛЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ИНДУКЦИИ. ЭНЕРГИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ.

КАРТА СХЕМА ПРОРАБОТКИ ТЕМЫ ЯВЛЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ИНДУКЦИИ. ЭНЕРГИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ. КАРТА СХЕМА ПРОРАБОТКИ ТЕМЫ МАГНИТНОЕ ПОЛЕ СТАЦИОНАРНЫХ ТОКОВ ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ И ЕДИНИЦА ИХ ИЗМЕРЕНИЯ В СИ Вектор магнитной индукции B Связь В и Н Вектор напряженности магнитного

Подробнее

МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ УДК 623.574 Д.И. Левинзон, профессор, д.т.н. МОНИТОРИНГ ПОВЕРХНОСТИ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ НА ИЗОБРАЖЕНИЯХ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ Классический приватный университет, г. Запорожье Розроблено алгоритм методики

Подробнее

ЭЛЕКТРОСТАТИКА 1. Два рода электрических зарядов, их свойства. Способы зарядки тел. Наименьший неделимый электрический заряд. Единица электрического заряда. Закон сохранения электрических зарядов. Электростатика.

Подробнее

ВВЕДЕНИЕ В НАНОТЕХНОЛОГИЮ

ВВЕДЕНИЕ В НАНОТЕХНОЛОГИЮ Л.М. ПОПОВА ВВЕДЕНИЕ В НАНОТЕХНОЛОГИЮ УЧЕБНОЕ ПОСОБИЕ САНКТ-ПЕТЕРБУРГ 2013 МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО

Подробнее

ВЛИЯНИЕ СХЕМЫ АТМОСФЕРНОЙ ТУРБУЛЕНТНОСТИ НА КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ПОРЫВА. 1. Реакция жесткого самолета на порыв заданного профиля.

ВЛИЯНИЕ СХЕМЫ АТМОСФЕРНОЙ ТУРБУЛЕНТНОСТИ НА КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ПОРЫВА. 1. Реакция жесткого самолета на порыв заданного профиля. 97 УДК 69.735.33 Т.С. Бойко ВЛИЯНИЕ СХЕМЫ АТМОСФЕРНОЙ ТУРБУЛЕНТНОСТИ НА КОЭФФИЦИЕНТ ОСЛАБЛЕНИЯ ПОРЫВА Одним из критических расчетных условий для самолетных конструкций являются нагрузки при порывах, которые

Подробнее

ДИАГНОСТИКА ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СЕНСОРОВ НА ОСНОВЕ МДП- СТРУКТУР

ДИАГНОСТИКА ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СЕНСОРОВ НА ОСНОВЕ МДП- СТРУКТУР ДИАГНОСТИКА ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СЕНСОРОВ НА ОСНОВЕ МДП- СТРУКТУР 1 В.В. Андреев 1, Г.Г. Бондаренко 2,3, А.А.Столяров 1, М.С. Васютин 1, С.И. Коротков 1 1 Московский государственный

Подробнее

ОСНОВЫ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ БИОЛОГИЧЕСКИХ ТКАНЕЙ С ИСКУССТВЕННЫМИ МАТЕРИАЛАМИ

ОСНОВЫ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ БИОЛОГИЧЕСКИХ ТКАНЕЙ С ИСКУССТВЕННЫМИ МАТЕРИАЛАМИ ОСНОВЫ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ БИОЛОГИЧЕСКИХ ТКАНЕЙ С ИСКУССТВЕННЫМИ МАТЕРИАЛАМИ Глава 5. Основные классы материалов для медицины, медицинской техники и стоматологии 5.2. Наноразмерные объекты и нанотехнологии

Подробнее

Современные методы исследования оптических материалов

Современные методы исследования оптических материалов Золотарев В.М., Никоноров Н.В., Игнатьев А.И. Современные методы исследования оптических материалов Учебное пособие Часть II Методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок Санкт-Петербург

Подробнее

ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ.

ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ. ОСНОВЫ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (РФА), ОСОБЕННОСТИ РФА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИ, РФА В МИРОВЫХ ЦЕНТРАХ СИ. К. Золотарев ИЯФ СО РАН им. Г.И. Будкера Принципы РФА В 1913 в серии блестящих экспериментов

Подробнее

Солнцу. Более 50% принадлежат к системам, содержащим два или более членов. В общем, кратные системы имеют иерархическую структуру: звезда и

Солнцу. Более 50% принадлежат к системам, содержащим два или более членов. В общем, кратные системы имеют иерархическую структуру: звезда и Лекция 5 5. ДВОЙНЫЕ ЗВЕЗДЫ И ЗВЕЗДНЫЕ МАССЫ Очень часто две звезды могут выглядеть близкими друг к другу на небе, хотя в действительности они находятся на существенно разных расстояниях. Такие случайные

Подробнее

3. Применение рядов Фурье для расчета цепей переменного тока

3. Применение рядов Фурье для расчета цепей переменного тока 3. Применение рядов Фурье для расчета цепей переменного тока Представление функций рядами Фурье Рассмотрим произвольную периодическую функцию y(, имеющую период Т (т.е. y(= y(t+т) для любого. Представление

Подробнее

КРУТИК Михаил Ильич, МАЙОРОВ Виктор Петрович

КРУТИК Михаил Ильич, МАЙОРОВ Виктор Петрович КРУТИК Михаил Ильич, МАЙОРОВ Виктор Петрович ЛЮМЕНЫ, КАНДЕЛЫ, ВАТТЫ И ФОТОНЫ. РАЗЛИЧНЫЕ ЕДИНИЦЫ РАЗЛИЧНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ТЕЛЕВИЗИОННЫХ КАМЕР НА ОСНОВЕ ЭОП И ПЗС Авторы этой статьи

Подробнее

Миры, в которых мы живем

Миры, в которых мы живем Миры, в которых мы живем Поскольку предмет «Естествознание» носит междисциплинарный характер, вполне логичным будет проведение заключительных занятий по первой главе учебника в формате интегрированных

Подробнее

Занятие Лекция : Фотонные кристаллы оптические сверхрешетки... 52

Занятие Лекция : Фотонные кристаллы оптические сверхрешетки... 52 Оглавление Занятие 1... 4 Лекция : Введение в курс. Нанотехнологии - основа современного этапа НТР.... 4 Викторина для юных нанотехнологов... 11 Занятие 2... 13 Лекция : Сканирующий туннельный и атомно-силовой

Подробнее

Как результат измерения компоненты спина у частицы со спином 1/2 может дать значение спина, равное 100

Как результат измерения компоненты спина у частицы со спином 1/2 может дать значение спина, равное 100 Как результат измерения компоненты спина у частицы со спином 1/2 может дать значение спина, равное 100 Я. Ааронов, Д. Альберт и Л. Вайдман (Израиль) --- Перевод М.Х. Шульмана (shulman@dol.ru, www.timeorigin21.narod.ru)

Подробнее

Компьютер как инструмент физического эксперимента

Компьютер как инструмент физического эксперимента Новиков Андрей Валерьевич Почётный работник общего образования, учитель физики Лицея-интерната естественных наук при Саратовском государственном аграрном университете им. Н.И. Вавилова. Компьютер как инструмент

Подробнее

СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В МИКРОСКОПИИ

СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В МИКРОСКОПИИ СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ В МИКРОСКОПИИ Н.А. Колтовой ЦП ОАО РЖД, Москва Рассматривается применение микроскопа-спектрофотометра в медицине для диагностики. Анализируемый спектральный диапазон от ультрафиолета

Подробнее

МЕТОД ПОЛУЧЕНИЯ ДИАГРАММ НАПРЯЖЕНИЕ ДЕФОРМАЦИЯ ВОЛОКОН ПУТЕМ РЕГИСТРАЦИИ ИХ КОЛЕБАНИЙ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ. И. В. Симонов, А. В.

МЕТОД ПОЛУЧЕНИЯ ДИАГРАММ НАПРЯЖЕНИЕ ДЕФОРМАЦИЯ ВОЛОКОН ПУТЕМ РЕГИСТРАЦИИ ИХ КОЛЕБАНИЙ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ. И. В. Симонов, А. В. ПРИКЛАДНАЯ МЕХАНИКА И ТЕХНИЧЕСКАЯ ФИЗИКА. 9. Т. 5, N- 9 УДК 59.7 МЕТОД ПОЛУЧЕНИЯ ДИАГРАММ НАПРЯЖЕНИЕ ДЕФОРМАЦИЯ ВОЛОКОН ПУТЕМ РЕГИСТРАЦИИ ИХ КОЛЕБАНИЙ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ И. В. Симонов, А.

Подробнее

Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины Цели изучения дисциплины Задачи дисциплины: Место дисциплины в структуре

Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины Цели изучения дисциплины Задачи дисциплины: Место дисциплины в структуре Оглавление 1. Цели и задачи освоения дисциплины... 4 1.1. Цели изучения дисциплины... 4 1.2. Задачи дисциплины:... 4 2. Место дисциплины в структуре ООП ВПО магистратуре:... 4 2.1. Структурный элемент

Подробнее

Лекция 3. 2.6. Работа силы. Кинетическая энергия ЗАКОНЫ СОХРАНЕНИЯ В МЕХАНИКЕ

Лекция 3. 2.6. Работа силы. Кинетическая энергия ЗАКОНЫ СОХРАНЕНИЯ В МЕХАНИКЕ 34 ЗАКОНЫ СОХРАНЕНИЯ В МЕХАНИКЕ Лекция 3.6. Работа силы. Кинетическая энергия Наряду с временнóй характеристикой силы ее импульсом, вводят пространственную, называемую работой. Как всякий вектор, сила

Подробнее

Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии.

Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии. ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях" при ФТИ им. А.Ф. Иоффе Основы растровой электронной микроскопии. Использование РЭМ в процессе электронной литографии. Методические указания

Подробнее

Часть 4 СПЕКТРАЛЬНЫЕ РАЗЛОЖЕНИЯ СЛУЧАЙНЫХ ПРОЦЕССОВ

Часть 4 СПЕКТРАЛЬНЫЕ РАЗЛОЖЕНИЯ СЛУЧАЙНЫХ ПРОЦЕССОВ Часть 4 СПЕКТРАЛЬНЫЕ РАЗЛОЖЕНИЯ СЛУЧАЙНЫХ ПРОЦЕССОВ 41 ИНТЕГРАЛЫ ФУРЬЕ СТИЛТЬЕСА Для спектральных разложений случайных функций пользуется интеграл Стилтьеса Поэтому приведем определение и некоторые свойства

Подробнее

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография»

Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Лабораторные работы по теме «Электронно-лучевая литография» Теоретические основы электронно-лучевой литографии Введение Литография это метод получения заданной структуры на поверхности с использованием

Подробнее

Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор)

Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор) Виды (методы) неразрушающего контроля металлопродукции (обзор) Как отмечалось в Первой информации «Неразрушающий контроль - важнейшая технологическая операция определения качества продукции» в соответствии

Подробнее

КОМПЛЕКТ КОНТРОЛЬНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ ПО ОБЩЕПРОФЕССИОНАЛЬНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ ОДп.12 Физика

КОМПЛЕКТ КОНТРОЛЬНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ ПО ОБЩЕПРОФЕССИОНАЛЬНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ ОДп.12 Физика УПРАВЛЕНИЕ ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ ЛИПЕЦКОЙ ОБЛАСТИ ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБЛАСТНОЕ АВТОНОМНОЕ ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ «ЛИПЕЦКИЙ МЕТАЛЛУРГИЧЕСКИЙ КОЛЛЕДЖ» КОМПЛЕКТ КОНТРОЛЬНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Подробнее

непрерывной на отрезке a; b и вычислим площадь фигуры, ограниченной линиями y 0, Эту фигуру будем называть криволинейной трапец ией.

непрерывной на отрезке a; b и вычислим площадь фигуры, ограниченной линиями y 0, Эту фигуру будем называть криволинейной трапец ией. Лекция: Определенный интеграл. Введение. Рассмотрим график функции y f () непрерывной на отрезке ; и вычислим площадь фигуры, ограниченной линиями y 0, y f ( ),,. Эту фигуру будем называть криволинейной

Подробнее

ВОЗНИКНОВЕНИЕ ТОРНАДОПОДОБНЫХ ВИХРЕЙ ВО ВРАЩАЮЩЕЙСЯ ЖИДКОСТИ ПРИ ВЫНУЖДЕННЫХ ИНЕРЦИОННЫХ КОЛЕБАНИЯХ БОЛЬШОЙ АМПЛИТУДЫ

ВОЗНИКНОВЕНИЕ ТОРНАДОПОДОБНЫХ ВИХРЕЙ ВО ВРАЩАЮЩЕЙСЯ ЖИДКОСТИ ПРИ ВЫНУЖДЕННЫХ ИНЕРЦИОННЫХ КОЛЕБАНИЯХ БОЛЬШОЙ АМПЛИТУДЫ ПРИКЛАДНАЯ МЕХАНИКА И ТЕХНИЧЕСКАЯ ФИЗИКА. 2002. Т. 43, N- 2 87 УДК 532.5 ВОЗНИКНОВЕНИЕ ТОРНАДОПОДОБНЫХ ВИХРЕЙ ВО ВРАЩАЮЩЕЙСЯ ЖИДКОСТИ ПРИ ВЫНУЖДЕННЫХ ИНЕРЦИОННЫХ КОЛЕБАНИЯХ БОЛЬШОЙ АМПЛИТУДЫ Д. Г. Ахметов,

Подробнее